【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶振生产设备，特别是涉及一种检测台上的不合格晶振筛选结构。
技术介绍
1、现有的晶圆晶振等在生产后需要对其pin脚等进行检测，比如授权公告号为cn210523123u的专利中所示的技术方案。但是在现有的检测设备中，检测后通常是直接将不合格的晶振直接废弃或者通过人工进行分拣，对于直接废弃的方式，难以对不合格晶振的二次分类，而人工分拣的方式更是费时费力。因此需要一种能够帮助筛选不合格晶振并分拣的晶振筛选结构。
技术实现思路
1、本技术的目的是解决现有技术的不足，提供一种检测台上的不合格晶振筛选结构。
2、为了解决上述问题，本技术采用如下方案：
3、一种检测台上的不合格晶振筛选结构，包括用于检测晶振的检测台以及用于移动晶振的第一移动抓手；第一移动抓手与检测台对应设置；还包括筛选结构；筛选结构设置于第一移动抓手的移动轨迹上；筛选结构包括次品盒；次品盒上设置有至少一个用于承载不合格晶振的格子。
4、进一步的，所述筛选结构还包括移动装置；移动装置包括筛选滑轨、滑块以及动力源，滑块滑动设置于筛选滑轨上，动力源与滑块连接；滑块还与次品盒固定连接；次品盒上设置有若干个格子，次品盒上的格子排列方向与筛选滑轨的延伸方向一致。
5、进一步的，所述移动装置还包括传动带以及传动齿轮；动力源为电机，传动齿轮与电机分别设置于筛选滑轨的两端；传动带设置于电机与传动齿轮之间，传动带与滑块连接。
6、进一步的，所述第一移动抓手包括横向移动装置、纵向移
7、进一步的，所述纵向移动装置上设置有若干个吸附装置。
8、进一步的，所述检测台包括支撑平面以及用于夹持晶振的夹具，夹具设置于支撑平面上。
9、进一步的，所述夹具包括固定夹以及滑动夹；支撑平面上固定设置有夹持滑轨，滑动夹滑动设置于夹持滑轨上；固定夹固定设置于支撑平面上。
10、进一步的，所述夹具上设置有与吸附装置的数量对应的晶振夹孔。
11、进一步的，所述次品盒上方还设置有导引装置；导引装置内部设置有贯通的导引通道，导引通道与次品盒上的格子相对应。
12、进一步的，所述导引通道为上小下大的漏斗状结构。
13、本技术的有益效果为：
14、通过设置筛选结构包括次品盒，其中次品盒上还设置有至少一个格子，方便不合格的晶振落入到次品盒上的格子中；
15、通过设置筛选结构包括移动装置，实现控制次品盒移动，方便晶振落到次品盒上不同的格子中；
16、通过设置移动装置包括传动带和传动齿轮，在实现传动的过程中，还能够减小震动，稳定运输；
17、通过设置导引通道为上小下大的漏斗状结构，方便晶振准确落到对应的格子中。
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1.一种检测台上的不合格晶振筛选结构，包括用于检测晶振的检测台（1）以及用于移动晶振的第一移动抓手（2）；第一移动抓手（2）与检测台（1）对应设置；其特征在于，还包括筛选结构（3）；筛选结构（3）设置于第一移动抓手（2）的移动轨迹上；筛选结构（3）包括次品盒（31）；次品盒（31）上设置有至少一个用于承载不合格晶振的格子（311）。
2.根据权利要求1所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述筛选结构（3）还包括移动装置（32）；移动装置（32）包括筛选滑轨（323）、滑块（324）以及动力源（325），滑块（324）滑动设置于筛选滑轨（323）上，动力源（325）与滑块（324）连接；滑块（324）还与次品盒（31）固定连接；次品盒（31）上设置有若干个格子（311），次品盒（31）上的格子（311）排列方向与筛选滑轨（323）的延伸方向一致。
3.根据权利要求2所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述移动装置（32）还包括传动带（321）以及传动齿轮（322）；动力源（325）为电机，传动齿轮（322）与电机分别设置于筛选
4.根据权利要求1所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述第一移动抓手（2）包括横向移动装置（32）（21）、纵向移动装置（32）（22）以及吸附装置（23）；纵向移动装置（32）（22）设置于横向移动装置（32）（21）上，吸附装置（23）设置于纵向移动装置（32）（22）上。
5.根据权利要求4所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述纵向移动装置（32）（22）上设置有若干个吸附装置（23）。
6.根据权利要求5所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述检测台（1）包括支撑平面（11）以及用于夹持晶振的夹具，夹具设置于支撑平面（11）上。
7.根据权利要求6所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述夹具包括固定夹（12）以及滑动夹（13）；支撑平面（11）上固定设置有夹持滑轨（14），滑动夹（13）滑动设置于夹持滑轨（14）上；固定夹（12）固定设置于支撑平面（11）上。
8.根据权利要求6所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述夹具上设置有与吸附装置（23）的数量对应的晶振夹孔。
9.根据权利要求1所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述次品盒（31）上方还设置有导引装置（4）；导引装置（4）内部设置有贯通的导引通道（41），导引通道（41）与次品盒（31）上的格子（311）相对应。
10.根据权利要求9所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述导引通道（41）为上小下大的漏斗状结构。
...【技术特征摘要】
1.一种检测台上的不合格晶振筛选结构，包括用于检测晶振的检测台（1）以及用于移动晶振的第一移动抓手（2）；第一移动抓手（2）与检测台（1）对应设置；其特征在于，还包括筛选结构（3）；筛选结构（3）设置于第一移动抓手（2）的移动轨迹上；筛选结构（3）包括次品盒（31）；次品盒（31）上设置有至少一个用于承载不合格晶振的格子（311）。
2.根据权利要求1所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述筛选结构（3）还包括移动装置（32）；移动装置（32）包括筛选滑轨（323）、滑块（324）以及动力源（325），滑块（324）滑动设置于筛选滑轨（323）上，动力源（325）与滑块（324）连接；滑块（324）还与次品盒（31）固定连接；次品盒（31）上设置有若干个格子（311），次品盒（31）上的格子（311）排列方向与筛选滑轨（323）的延伸方向一致。
3.根据权利要求2所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述移动装置（32）还包括传动带（321）以及传动齿轮（322）；动力源（325）为电机，传动齿轮（322）与电机分别设置于筛选滑轨（323）的两端；传动带（321）设置于电机与传动齿轮（322）之间，传动带（321）与滑块（324）连接。
4.根据权利要求1所述的一种检测台上的不合格晶振筛选结构，其特征在于，所述第一移动抓手（2）包括横向移动装置（32）（21）、纵向移动...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜月月，姜俊军，
申请(专利权)人：浙江汇隆晶片技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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