电阻测试装置制造方法及图纸

技术编号:4326459 阅读:150 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种电阻测试装置。电阻测试装置,包括万用表和测试板,其特征在于:测试板上具有两个卡槽,两个卡槽分别与万用表的两个表笔导线电相连;由于采取了以上结构,这样的电阻测试装置具有结构简单,使用方便,测试准确的效果。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电阻测试装置
技术介绍
目前,在测量电阻时使用的是万用表,在生产加工半导体的过程 中用万用表的表笔接触半导体的两个极测量,这就要求使用两个手进 行工作,由于测试频繁,使用非常不方便。
技术实现思路
本技术的目的就是针对上述存在的问题,提供一种结构简单, 方便使用的电阻测试装置。本技术的技术方案是这样实现的电阻测试装置,包括万用表 和测试板,其特征在于测试板上具有两个卡槽,两个卡槽分别与万 用表的两个表笔导线电相连;所述的卡槽是卡片、卡簧等。本技术的有益效果是由于采取了以上结构,这样的电阻测试 装置具有结构简单,使用方便,测试准确的效果。附图说明图1是本技术电阻测试装置的结构示意图 其中;1、万用表2、测试板3、卡槽 4、导线具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步的描述。200820221310.6说明书第2/2页如图l所示电阻测试装置,包括万用表1和测试板2,其特征在 于测试板2上具有两个卡槽3,两个卡槽3分别与万用表1的两个表 笔导线4电相连;所述的卡槽3是卡片、卡簧等。所述的卡槽3是卡片、卡簧等,总之只要能接触所测半导体的两极即可。测试版可以制成光滑的,半导体元件滑到测试位置更方便;在滑入 至位置是卡槽与所测极刚好接触,使用尤其方便。测量时,半导体元件在测试板上,要测的半导体的两个极分别接触 两个卡槽,由于两个卡槽与表笔连接,就可以测试电阻了,省去了用 手拿住的麻烦。

【技术保护点】
电阻测试装置,包括万用表和测试板,其特征在于:测试板上具有两个卡槽,两个卡槽分别与万用表的两个表笔导线电相连。

【技术特征摘要】
1、电阻测试装置,包括万用表和测试板,其特征在于测试板上...

【专利技术属性】
技术研发人员:张根清宋暖欧阳进民
申请(专利权)人:河南久大电子电器有限公司
类型:实用新型
国别省市:41[中国|河南]

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