【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及性能检测，具体涉及一种rfid标签天线的抗干扰性能检测方法。
技术介绍
1、rfid技术广泛应用于物流管理、物品追踪、资产管理等领域，通过rfid标签和读写器之间的无线通信，实现对物品信息的自动识别和数据交换。rfid系统的性能在很大程度上依赖于rfid标签天线的设计和其抗干扰能力。由于实际应用环境复杂多变，信号传播过程中常常受到多种干扰因素的影响，导致rfid系统的读取成功率、读取距离和读取时间等性能指标受到显著影响。因此，评估和提升rfid标签天线的抗干扰性能显得尤为重要。
2、rfid系统在实际环境中工作时，信号会遇到多种障碍物，如墙壁、金属架、货物等，导致信号产生反射、折射和散射。这些多径传播效应会引起信号相位、幅度和传播路径的变化，最终影响到rfid系统的读取性能。
3、为有效评估rfid标签天线在复杂环境中的抗干扰性能，需要建立科学合理的检测方法。现有技术中缺乏系统化的抗干扰性能检测方法，无法全面反映rfid标签天线在多种干扰条件下的性能表现。
技术实现思路
1、本申请提供一种rfid标签天线的抗干扰性能检测方法，用于针对解决现有技术缺乏对rfid标签天线的抗干扰性能进行系统化检测的技术问题。
2、鉴于上述问题，本申请提供了一种rfid标签天线的抗干扰性能检测方法。
3、本申请提供了一种rfid标签天线的抗干扰性能检测方法，所述方法包括：
4、构建多径传播线路的节点数量样本；基于所述节点数量样本，
5、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
6、本申请构建多径传播线路的节点数量样本；基于节点数量样本，设置第一抗干扰检测样本，第一抗干扰检测样本为在不同的节点数量样本下设置相同介质的检测样本；基于节点数量样本，设置第二抗干扰检测样本，第二抗干扰检测样本为在不同的节点数量样本下设置不相同介质的检测样本；确定rfid标签的覆盖范围，在rfid标签的覆盖范围内，根据第一抗干扰检测样本和第二抗干扰检测样本对rfid标签进行多次读取测试，输出基于抗干扰检测样本对应的第一组性能测试样本和第二组性能测试样本，其中，每组性能测试样本包括读取成功率、读取距离和读取时间；将第一组性能测试样本和第二组性能测试样本输入抗干扰评估模块中，根据抗干扰评估模块进行分析，输出rfid标签的抗干扰检测指标。本专利技术解决现有技术缺乏对rfid标签天线的抗干扰性能进行系统化检测的技术问题，通过构建多径传播线路的节点数量样本、设置抗干扰检测样本、确定rfid标签的覆盖范围并进行多次读取测试并进行抗干扰评估，达到全面分析评估rfid标签天线在不同干扰条件下的性能表现的技术效果。
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1.一种RFID标签天线的抗干扰性能检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述N个介质选区设置第一抗干扰检测样本和第二抗干扰检测样本，方法包括：
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述反射参数和所述折射参数为特征对所述预设介质库中各个介质进行传播性能分析，包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，以所述自由空间传播损耗、反射损耗和所述吸收损耗进行传播性能分析，表达式如下：
6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，基于各个介质的传播性能指标大小对所述预设介质库进行介质划分，方法还包括：
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述第一组性能测试样本和所述第二组性能测试样本输入抗干扰评估模块中，方法包括：
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述RFID标签的覆盖范围通过调整读写器的功率和天线位置进行优化。
【技术特征摘要】
1.一种rfid标签天线的抗干扰性能检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述n个介质选区设置第一抗干扰检测样本和第二抗干扰检测样本，方法包括：
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述反射参数和所述折射参数为特征对所述预设介质库中各个介质进行传播性能分析，包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙斌，何健，汤剑锐，
申请(专利权)人：江苏科睿坦电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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