【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种仪器，具体地说是涉及一种半导体器件电阻 测试仪。
技术介绍
在半导体生产过程中，需要对生产的半导体器件的性能进行检验， 测量其电阻是一项主要的指标，在现有的检验中所使用的是万用表， 操作工人需要双手拿表笔进行测量，由于半导体器件比缺薄小，双手 拿住表笔又要测量很不方便，也容易产生误差电阻测试仪。
技术实现思路
本技术的目的就是针对上述存在的问题，提供一种操作方 便、测量准确、不易产生误差的。本技术的是这样实现的电阻测试仪，包括测试板、电阻表、 测试触头和导线，其特征在于测试触头一端固定于测试板上，另一 端翘起，测试触头导线点连接电阻表；测试板上还具有固定半导体器 件的滑道。本技术的有益效果是由于采取了以上结构，使得用这样的 电阻测试仪具有操作方便、劳动强度低、减少误差的优点。附图说明图1是本技术电阻测试仪的结构示意图其中；1、测试板2、电阻表3、测试触头4、导线5、滑道具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步的描述。如图l所示电阻测试仪，包括测试板l、电阻表2、测试触头 3和导线4，其特征在于测试触头3 —端固定于测试板1上，另一 端翘起，测试触头3导线4连接电阻表2;测试板l上还具有固定半 导体器件的滑道5。测量时，测试触头的翘起端接触半导体器件的要接触部位，半 导体器件可以在测试板上滑动。为了大批测试，可以设置滑道5，使半导体器件位置固定，更准 确、方便、快捷。
【技术保护点】
电阻测试仪，包括测试板（１）、电阻表（２）、测试触头（３）和导线（４），其特征在于：测试触头（３）一端固定于测试板（１）上，另一端翘起，测试触头（３）导线（４）点连接电阻表（２）。
【技术特征摘要】
1、电阻测试仪，包括测试板(1)、电阻表(2)、测试触头(3)和导线(4)，其特征在于测试触头(3)一端固定于测试板(1)上，另一端翘起，测...
【专利技术属性】
技术研发人员：张根清，宋暖，欧阳进民，
申请(专利权)人：河南久大电子电器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：41[]
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