【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于超声无损残余应力检测，尤其涉及一种考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法及系统。
技术介绍
1、在零件制造和加工及装配过程中，不可避免的引入残余应力。残余应力的存在会引发构件的变形、裂纹形成、服役寿命降低甚至可能引发重大安全事故。残余应力的准确测量已成为精密、贵重及大型设备制造及服役过程中的迫切技术需求。
2、由于超声无损残余应力技术不会对检测对象造成损害，且具有`测量精度高、操作简便、成本低、易于自动化集成等特点，是快速发展的无损检测技术之一。但该方法的检测精度收到的影响因素较多，如标定试验、耦合状态及检测环境的影响，限制其推广应用。现有专利cn202310895391.7《一种钛合金身管加工残余应力超声无损检测与调控方法》及cn104048785b《一种超声无损评价铝合金锻件内部残余应力水平的方法》中都涉及到零应力试块和标定试验步骤，但当零应力试块和标定试样与检测对象表面粗糙度不一致时，会影响超声楔块与检测表面的耦合状态，在《钛合金焊接接头残余应超声波检测技术研究》(丁稳稳，刘继雄，刘晶，张永强，王小翔，高晓龙，王俭焊管2022年6月)一文中，公开了超声楔块与检测表面的耦合状态极大影响检测精度。在超声无损应力检测过程中，需要对表面状况进行打磨处理，在现场测试打磨时粗糙度受人为因素大，难以将所有待测表面粗糙度与零应力试块保持一致，因此检测时不可避免引入粗糙度带来的检测误差。但目前尚未见到有关零应力试块与待测试样表面粗糙度不一致导致超声无损残余应力检测精度降低的解决办法的论文及专利发表，属于超声
3、通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：
4、超声波法在实际检测时，经常会遇到零应力试块与待测试样表面粗糙度不一致及待测表面粗糙度受人为因素影响等问题，从而不可避免的降低超声无损残余应力检测精度。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种考虑待测表面粗糙度对超声无损残余应力检测精度影响的修正方法及系统，通过提出的粗糙度修正系数将检测对象表面粗糙度差异带来的耦合层厚度变化代入到应力检测的超声波信号分析过程中，进而建立粗糙度差异对超声波传播声时差的影响规律和考虑粗糙度影响的残余应力计算模型，从而补偿粗糙度带来残余应力的检测误差，提升超声无损残余残余应力检测精度。
2、本专利技术是这样实现的，一种考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法包括以下步骤：
3、步骤1，计算粗糙度修正系数；
4、步骤2，超声波信号分析；
5、步骤3，计算残余应力修正值。
6、进一步，应力系数标定和零应力试块制作及处理方法：
7、依据《gb-t 32073-2015无损检测残余应力超声临界折射纵波检测方法》制作应力系数标定试样、零应力试块，并参照不同材料的热处理标准处理得到零应力试块。
8、进一步，所述零应力试块表面粗糙度ra应小于10um。
9、进一步，所述计算粗糙度修正系数：
10、1)依据《gb-t 32073-2015无损检测残余应力超声临界折射纵波检测方法》制作两块不同粗糙度的零应力试块，并参照不同材料的热处理标准处理得到两块不同粗糙度的零应力试块，且零应力试块表面粗糙度ra均小于10um，并计算出粗糙度差值的绝对值；
11、2)依照之前调整的相关检测参数进行检测，并记录该零应力试块与标准零应力试块的声时差值；
12、3)计算两块零应力试块粗糙度差值的绝对值，依照本说明书所述的粗糙度修正计算公式求出粗糙度修正系数。
13、进一步，所述计算残余应力修正值：
14、依照本说明书所述的残余应力修正公式，代入粗糙度修正系数、待测表面与标准零应力试块的声时差和粗糙度差值进行计算，求出残余应力修正值。
15、本专利技术另一目的在于提供一种实施所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法的考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统，其特征在于，所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统包括：
16、修正系数计算模块，用于计算粗糙度修正系数；
17、信号分析模块，用于超声波信号分析；
18、修正值计算模块，用于计算残余应力修正值。
19、本专利技术另一目的在于提供一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，超声板卡同时收发超声波，使得所述处理器执行所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法的步骤。
20、本专利技术另一目的在于提供一种超声波收发采集板卡，所述超声波收发采集板卡具有超声波发射器、超声波接收器、信号处理单元、控制接口、电源管理。所述计算机程序被所述处理器执行时，超声波板卡进入工作状态。
21、本专利技术另一目的在于提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法的步骤。
22、本专利技术另一目的在于提供一种信息数据处理终端，所述信息数据处理终端用于实现所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统。结合上述的技术方案和解决的技术问题，本专利技术所要保护的技术方案所具备的优点及积极效果为：
23、第一、本专利技术在进行大量试验的基础上，分析不同粗糙度的待测表面与超声楔块的耦合特点及对超声检测精度的影响规律，提出一种考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，从而既能提高超声无损残余应力检测精度，又可提高现场适用性。
24、第二、本专利技术专利对不同粗糙度的待测表面进行补偿，消除了在处理检测表面时人为因素的影响，降低了人工操作难度，大幅提升了检测效率，扩大了超声无损应力的适用场景及适用人群，具有较大的市场推广前景。
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1.一种考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，应力系数标定和零应力试块制作及处理方法：
3.如权利要求2所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述零应力试块表面粗糙度Ra应小于10um。
4.如权利要求1所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述计算粗糙度修正系数：
5.如权利要求1所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述计算残余应力修正值：
6.一种实施如权利要求1-5任意一项所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法的考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统，其特征在于，所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统包括：
7.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执
8.一种超声波收发采集板卡，所述超声波收发采集板卡具有超声波发射器、超声波接收器、信号处理单元、控制接口、电源管理。所述计算机程序被所述处理器执行时，超声波板卡进入工作状态。
9.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-5任意一项所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法的步骤。
10.一种信息数据处理终端，其特征在于，所述信息数据处理终端用于实现如权利要求7所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统。
...【技术特征摘要】
1.一种考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，应力系数标定和零应力试块制作及处理方法：
3.如权利要求2所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述零应力试块表面粗糙度ra应小于10um。
4.如权利要求1所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述计算粗糙度修正系数：
5.如权利要求1所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法，其特征在于，所述计算残余应力修正值：
6.一种实施如权利要求1-5任意一项所述考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正方法的考虑待测表面粗糙度对应力检测精度影响的修正系统，其特征在于，所述考虑待测表面粗糙度...
【专利技术属性】
技术研发人员：高晓龙，王鑫庆，刘晶，
申请(专利权)人：陕西奥卓智创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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