【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片接口测试，具体为一种onfi接口信号测试方法、系统及其电子设备。
技术介绍
1、接口芯片测试是芯片设计必不可少的环节，通过对产品进行一致性测试，除了了解产品是否符合标准测试规范外，还可以量化信号的各指标的裕量。如果裕量充足，则意味着可以对产品进行降成本设计，反之则需要重新设计。对于系统厂家，在快速变化的市场和残酷激烈的竞争面前，如何降低产品成本至关重要。对于上游芯片厂家而言，基于其芯片的系统经过一致性测试如果可以显示出有非常高的裕量，则可以表明其产品的性能，为其下游客户的产品设计和开发提供了充分的信心和裕量以供进行降成本设计。因此一致性测试对于整个行业而言其重要性不言而明。
2、在本领域中onfi（open nand flash interface，开放式nand闪存接口）是用于连接nand闪存芯片和控制器芯片之间的接口标准。onfi 接口定义了闪存器件和主控制器之间的通信协议，包括时序、命令、数据传输等方面的规范。通过采用 onfi 接口，不同厂家生产的 nand 闪存器件可以在各种系统中互换使用，从而简化了闪存器件的集成和控制，提高了闪存器件的数据传输速度和性能。onfi接口测试是评估onfi接口是否可以和不同的flash厂商进行兼容的重要手段。onfi接口测试可以确保不同厂家生产的nand闪存芯片和控制器芯片之间的互操作性。通过测试，可以验证它们在遵循onfi标准时是否能够正确地进行通信和数据传输。onfi接口测试可以验证接口的各种功能，包括读取、写入、擦除等操作的正确性。这有助于确保接口在实
3、可见，onfi接口测试对于确保nand闪存芯片和控制器芯片之间的正常通信、数据传输和存储操作至关重要，有助于确保设备的性能、稳定性和可靠性。
4、在onfi接口测试中，现有的技术如图1所示，通过在pcb上预留测试点来评估信号质量。但是onfi协议规范上定义的是flash引脚的信号要求，在pcb测试点的位置测试，由于在pcb测试点位置的stub（线段长度）较长，会产生反射引起信号质量不稳定，并不能完全评估flash引脚的特性，导致onfi接口测试结果不准确。
技术实现思路
1、为解决上述
技术介绍
中存在的问题，本专利技术采用以下技术方案：
2、本申请提供一种onfi接口信号测试方法，包括如下步骤：
3、抽取pcb上完整的三端口s参数数据，获取与onfi接口相关的传输线路的频率响应数据；
4、基于上述三端口s参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型；
5、建立测量电路的传输函数和仿真电路的传输函数；
6、基于测量电路的传输函数和仿真电路的传输函数，建立整体传输函数；
7、基于整体传输函数，获得onfi接口信号测试结果。
8、作为本申请优选方案，抽取pcb上完整的三端口s参数数据，获取与onfi接口相关的传输线路的频率响应数据，具体包括如下过程：
9、将vna的端口与pcb板上的三端口连接；
10、进行vna的校准，包括开路、短路和负载标准的使用，以及对连接线长度和损耗的校准；
11、设置vna的测量参数，包括所需的频率范围、扫描点数和功率级别；
12、使用vna进行s参数测量；
13、对测量得到的s参数数据进行处理。
14、作为本申请优选方案，对测量得到的s参数数据进行处理，包括校正和归一化，具体为：
15、进行反向传播校正和基于标准件的校正；
16、对s参数数据进行归一化，包括将测量得到的s参数数据转换为相对于参考阻抗的值。
17、作为本申请优选方案，基于上述三端口s参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型，具体为：
18、使用s参数数据建立测量电路的传输函数模型；
19、使用s参数数据建立仿真电路的传输函数模型；
20、比较测量电路模型和仿真电路模型的传输函数，分析它们之间的差异和相似性，获得对比分析结果；
21、基于对比分析的结果，对仿真电路模型进行优化。
22、作为本申请优选方案，基于上述三端口s参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型，还包括：通过去嵌入工具获取芯片引脚位置的信号质量数据，具体包括：
23、确定需要测试的芯片引脚位置以及相关信号线路；
24、使用示波器上的去嵌入工具，将示波器连接到芯片引脚位置，获取信号质量数据。
25、作为本申请优选方案，建立测量电路的传输函数和仿真电路的传输函数，具体包括：
26、建立测量电路的传输函数，表示为：
27、hm(f)=vmeas(f)/vsrc(f),
28、其中，hm(f)表示测量电路的传输函数，vmeas(f)表示测量电路的输出信号， vsrc(f)表示测量电路的输入信号；
29、建立仿真电路的传输函数，表示为：
30、hs(f)=vsim(f)/vsrc(f),
31、其中，hs(f)表示仿真电路的传输函数，vsim (f)表示仿真电路的输出信号， vsrc(f)表示仿真电路的输入信号。
32、作为本申请优选方案，基于测量电路的传输函数和仿真电路的传输函数，建立整体传输函数，具体过程包括：
33、通过将测量电路传输函数和仿真电路传输函数联系起来，得到整体传输函数，具体表示如下：
34、h(f)= hs(f)/ hm(f)= vsim(f)/ vmeas(f),
35、其中，h(f)表示整体传输函数；
36、通过整体传输函数将仿真信号转换为实际测量信号，具体表示如下：
37、vmeas(f)* h(f)= vsim(f)。
38、作为本申请优选方案，基于整体传输函数，获得onfi接口信号测试结果，包括传输损耗分析、相位变化分析、时域分析和频域分析。
39、本申请还提供一种onfi接口信号测试系统，应用前述的一种onfi接口信号测试方法，所述系统包括：
40、测试数据采集模块，配置为抽取pcb上完整的三端口s参数数据，获取与onfi接口相关的传输线路的频率响应数据；
41、电路模型构建模块，配置为基于上述三端口s参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型；
42、传输函数构建模块，配置为建立测量电本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：抽取PCB上完整的三端口S参数数据，获取与ONFI接口相关的传输线路的频率响应数据，具体包括如下过程：
3.根据权利要求2所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：对测量得到的S参数数据进行处理，包括校正和归一化，具体为：
4.根据权利要求1所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：基于上述三端口S参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型，具体为：
5.根据权利要求4所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：基于上述三端口S参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型，还包括：通过去嵌入工具获取芯片引脚位置的信号质量数据，具体包括：
6.根据权利要求1所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：建立测量电路的传输函数和仿真电路的传输函数，具体包括：
7.根据权利要求6所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：基于测量电路的传输函数和仿真电路的传输函数，建立整体
8.根据权利要求7所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：基于整体传输函数，获得ONFI接口信号测试结果，包括传输损耗分析、相位变化分析、时域分析和频域分析。
9.一种ONFI接口信号测试系统，应用如权利要求1-8任一项所述的一种ONFI接口信号测试方法，其特征在于：所述系统包括：
10.一种电子设备，其特征在于：包括相互耦接的处理器、存储器、输入装置和输出装置；其中存储器用于存储计算机程序代码，计算机程序代码包括计算机指令，当处理器执行计算机指令时，电子设备执行如权利要求1-8任一项所述的一种ONFI接口信号测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种onfi接口信号测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种onfi接口信号测试方法，其特征在于：抽取pcb上完整的三端口s参数数据，获取与onfi接口相关的传输线路的频率响应数据，具体包括如下过程：
3.根据权利要求2所述的一种onfi接口信号测试方法，其特征在于：对测量得到的s参数数据进行处理，包括校正和归一化，具体为：
4.根据权利要求1所述的一种onfi接口信号测试方法，其特征在于：基于上述三端口s参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型，具体为：
5.根据权利要求4所述的一种onfi接口信号测试方法，其特征在于：基于上述三端口s参数数据，建立测量电路模型和仿真电路模型，还包括：通过去嵌入工具获取芯片引脚位置的信号质量数据，具体包括：
6.根据权利要求1所述的一种onfi接口信号测试方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏萍，张秀娟，张冬青，
申请(专利权)人：中茵微电子南京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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