测量数据处理系统及其处理方法技术方案

本发明专利技术公开了一种测量数据处理系统及其处理方法，用以接收测量工具发出的测量数据信号，并将测量数据信号储存在记忆卡中，测量数据处理系统包括用以发出触发信号至测量工具，使测量工具送出测量数据信号的第一开关单元，用以侦测触发信号后，而接收测量数据信号的微处理单元，用以连接记忆卡的卡连接器，测量数据信号由微处理单元送出，经过卡连接器被储存至记忆卡中，以及用以发出触发信号至微处理单元，使微处理单元删除记忆卡的数据的第二开关单元。控制第一、第二开关单元，将测量工具的测量数据可储存于记忆卡或删除记忆卡中所储存的测量数据，所以测量数据处理系统具有结构简单、使用容易等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量数据处理系统，尤其涉及一种储存测量工具的测量数据于记忆卡的系统及储存测量数据与删除测量数据的方法。
技术介绍
多种数字式测量工具，例如光标卡尺及内外径分厘卡等，已被广泛地运用在工厂 自动化生产中，在实际使用时，测量人员通常以书面的方式记录下数字式测量工具的数据 来，再汇整成报表。或是，测量人员手动输入数字式测量工具的数据于计算机内，再汇整成 报表。但是，目前记录测量数据的方式有以下缺点 第一，测量人员需手动地记录测量数据于书面中，或是手动地输入测量数据于计 算机内，所以测量人员容易误记测量数据； 第二，测量人员以手动的方式记录或输入测量数据时，需耗费做纪录的时间；及 第三，当测量数据错误并需修改时，须耗费修改的时间。
技术实现思路
本专利技术的目的之一在于针对上述技术存在的缺陷提供一种结构简单、使用容易的 测量数据处理系统。 为达到上述目的，本专利技术所提供的测量数据处理系统用以读取数字测量工具的测量数据，并将测量数据储存于记忆卡中，该测量数据处理系统包括微处理单元、第一开关单元、第二开关单元及卡连接器，第一开关单元接受外部控制而发出触发信号至测量工具，使测量工具送出测量数据信号，微处理单元侦测到第一开关单元的触发信号后，接收测量工具的测量数据信号，卡连接器连接并收容记忆卡，微处理单元发出的测量数据信号通过卡连接器被储存至记忆卡中，第二开关单元接受外部控制而发出一触发信号至微处理单元，微处理单元侦测到第二开关单元的触发信号后，删除记忆卡内的测量数据。 本专利技术的另一 目的在于提供一种上述测量数据处理系统的测量数据处理方法，用以接收测量工具发出的测量数据信号，并将测量数据信号储存在记忆卡中，以及删除记忆卡中所储存的测量数据。 为达到上述目的，本专利技术所提供的测量数据处理方法包括以下步骤 步骤一系统初始化； 步骤二侦测触发信号，若第一开关单元发出触发信号，执行步骤三，若第二开关 单元发出触发信号，执行步骤六； 步骤三判断记忆卡状态，若记忆卡状态为正常，执行步骤四，若记忆卡状态为异 常，执行步骤二； 步骤四判断记忆卡中的数据，若储存于记忆卡的数据为正常，执行步骤五，若储 存于记忆卡的数据为异常，执行步骤二 ； 步骤五储存测量数据信号至记忆卡中； 步骤六判断记忆卡状态，若记忆卡状态为正常，执行步骤七，若记忆卡状态为异 常，执行步骤二； 步骤七判断记忆卡中的数据，若储存于记忆卡的数据为正常，执行步骤八，若记 忆卡状态为异常，执行步骤二 ；及 步骤八删除记忆卡的数据。 本专利技术测量数据处理系统通过控制第一开关单元以储存测量数据信号于记忆卡 中，控制第二开关单元以删除记忆卡的测量数据，且记忆卡可随身携带，在汇整成报表时， 仅需将记忆卡连接至个人计算机，即可读取测量数据，制成报表。不仅克服以前技术的费时 及耗工的缺点，更具有结构简单、使用容易等优点。附图说明形。在说明书附图中 图1为本专利技术测量 图2为本专利技术测量图3为图2所示领:数据处理系统连接测量工具及记忆卡的示意图。:数据处理系统第一实施例的方框图。 J量数据处理系统第一开关单元与第二开关单元的触发信号波图4为测量工具的测量数据信号的封包格式。图5为测量工具的测量数据信号的另一种封包格式。图6为本专利技术测数据处理系统第二实施例的方框图。图7为本专利技术测量数据处理方法的步骤流程图。图8为本专利技术测量数据处理方法中系统初始化的步骤流程图。图9为本专利技术测量数据处理方法中设定输出端口与输入埠的步骤流程图,图IO为SD卡的脚位定义表。图11为本专利技术测量数据处理方法中判断记忆卡状态的步骤流程图。 图12为本专利技术测量数据处理方法中判断数据状态的步骤流程图。 图13为本专利技术测量数据处理方法中储存测量数据信号的步骤流程图。 图14为本专利技术测量数据处理方法中删除测量数据的步骤流程图。 图中各附图标记说明如下微处理单元 1 第二开关单元 3 准位转换单元 5 数字测量工具 8测量数据处理系统 第一开关单元 卡连接器 电源转换单元 记忆卡1002 4 6 9具体实施例方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下特例举实施例 并配合附图详予说明。 请参阅图l，本专利技术测量数据处理系统100连接数字测量工具8及记忆卡9，测量数据处理系统100取得数字测量工具8的测量数据后，将测量数据储存在记忆卡9中。 请参阅图2，为本专利技术测量数据处理系统100第一实施例的方框图，测量数据处理 系统100包括微处理单元1、第一开关单元2、第二开关单元3及卡连接器4。微处理单元1 连接第一开关单元2、第二开关单元3、卡连接器4及数字测量工具8，卡连接器4并连接至 记忆卡9。 本专利技术测量数据处理系统100的操作流程如下所述，在储存测量数据时 首先，第一开关单元3接受外部控制后，产生触发信号，并将触发信号发送至数字 测量工具8与微处理单元1。请参阅图3，本实施例中，触发信号为一负缘触发信号，在真正 实施时，触发信号可依照数字测量工具8的规格调整为正缘触发信号或是其它信号。 接着，数字测量工具8接收到触发信号后，将测量数据转成测量数据信号送至微 处理单元1。请参阅图4与图5，为测量数据信号的封包格式，本实施例中，测量数据信号为 连续的脉波信号，测量数据信号的封包格式包括毫米型式(mm)与英寸型式(in.)。 再来，当微处理单元1接收到第一开关单元2的触发信号后，立即接收数字测量工 具8发出的测量数据信号。在真正实施时，因为电子信号的传递速度非常快，所以可忽略测 量数据信号由数字测量单元8传送至微处理单元1中间的延迟时间。 最后，微处理单元1产生储存控制信号，测量数据信号与储存控制信号经由卡连接器4发送至记忆卡9，储存控制信号控制记忆卡9储存测量数据信号。 另外，在删除记忆卡9中的测量数据时第二开关单元3接受外部控制后，产生触发信号，并将触发信号发送至微处理单元1。当微处理单元1接收到第二开关单元4的触发信号后，发出删除控制信号，删除控制信号经由卡连接器4发送至记忆卡9，以删除储存在记忆卡9中的测量数据。在真正实施时，第一开关单元2与第二开关单元3可为机械式按键或光学式传感器等。 请参阅图6，为本专利技术测量数据处理系统100第二实施例的方框图，测量数据处理 系统100还包括准位转换单元5与电源转换单元6，准位转换单元5连接微处理单元1、电 源转换单元6及数字测量工具8，电源转换单元6还连接至微处理单元1。当数字测量工具 8发送的测量数据信号的准位与微处理单元1接收的信号准位不一致时，准位转换单元5可 将数字测量工具8发送的测量数据信号的准位调整为微处理单元1 一致，再将准位调整后 的测量数据信号发送至微处理单元1。 若准位转换单元5与微处理单元1的工作电压准位不一致时，电源转换单元6可 将外部电源，例如电池，转成符合准位转换单元5与微处理单元1的工作电压准位，并提供 给准位转换单元5与微处理单元1。在真正实施时，微处理单元1、第一开关单元2、第二开 关单元3、卡连接器4、准位转换单元5及电源转换单元6可设置于印刷电路板上(图中未 表示)。 请参阅图7，为本专利技术测量数据处理系统100的测量数据处理方法7，包括如下步 骤 步骤70 :微处理单元1执行系统初始化； 步骤71本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量数据处理系统，用以接收一测量工具发出的测量数据信号，并将测量数据信号储存在一记忆卡中，其特征在于：包括一第一开关单元、一微处理单元、一卡连接器和一第二开关单元，第一开关单元，连接测量工具，用以接受外部控制而发出一触发信号至测量工具，使测量工具送出测量数据信号；微处理单元，连接第一开关单元与测量工具，用以侦测第一开关单元的触发信号而接收测量工具的测量数据信号；卡连接器，连接微处理单元与记忆卡，并收容记忆卡，微处理单元发出的测量数据信号通过卡连接器被储存至记忆卡中；第二开关单元，连接微处理单元，用以接受外部控制而发出一触发信号至微处理单元，使微处理单元删除记忆卡中的测量数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱效贤，张尚斌，谢荣昆，
申请(专利权)人：富港电子东莞有限公司，正崴精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]