【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体，尤其涉及一种新型测量zeta电势的方法和测量仪器。
技术介绍
1、zeta电势是相对于远处电中性溶液的剪切表面的电势，是表面电荷的特征。zeta电势可能存在于各种表面，包括固体(如颗粒或者纤维)或平面，了解固体表面zeta电势的准确测量具有极高的价值。例如，硅的zeta电势可以判断溶液中的颗粒是否更容易粘附到它上。如果硅片具有表面电荷，并且溶液中的颗粒带有相同的符号的电荷，则颗粒具有较低的粘附倾向。在硅片接受化学机械抛光时，抛光颗粒有可能吸附于硅片。对硅片进行zeta电势的测量可以确保抛光颗粒的解吸。
2、为了实现对zeta电势的准确测量，在专利技术专利申请cn202210718362.9《一种用于测量纳米颗粒粒径及zeta电位的样品池装置》中通过控制纳米颗粒样品的温度，有效地解决了由于环境温度变化导致纳米颗粒粒径或zeta电位产生测量误差的技术问题，但是现有技术方案中存在以下技术问题：
3、1、现有技术方法需要两个表面来形成薄的流体通道；因此两个表面必须相等或者操作者必须减去其中已知表面的贡献。
4、2、非平面材料，例如薄纤维垫，很容易形成或附着到刚性平面上表面能够保持紧密密封，抵抗流经狭窄间隙所需的压力。
5、3、现有的技术也无法满足在有机溶液中测量zeta电势的需求。原因是当时两块平面样品相对并形成薄的流体通道时，两块表面各自的电子云可能互相重叠，影响测量的准确度。
6、针对上述技术问题，本专利技术提供了一种新型测量zeta电势的方法和测量仪
技术实现思路
1、为实现本专利技术目的，本专利技术采用如下技术方案：
2、根据本专利技术的一个方面，提供了一种新型测量zeta电势的方法。
3、一种新型测量zeta电势的方法，具体包括：
4、将样品固定于一个圆盘上，将需要测量zeta电势的圆盘放置于导电介质中；
5、以与圆盘表面的位置的设定距离为约束条件，进行工作电极的设置，控制圆盘在所述导电介质中旋转，产生流电势，通过所述工作电极和反电极测量得到所述流电势；
6、通过所述流电势的计算结果，得到所述样品的表面的zeta电势。
7、进一步的技术方案在于，所述导电介质包括无机盐的水溶液，高分子水溶液，纳米颗粒水溶液，表面活性剂水溶液，蛋白质水溶液，生物细胞在水里形成的悬浮液，有机溶剂和溶液如高分子的有机溶液，纳米颗粒在有机溶剂里所形成的悬浮液，表面活性剂的有机溶液，生物细胞在有机溶剂中形成的悬浮液。
8、进一步的技术方案在于，所述设定距离通过以1mm为中心的距离区间进行确定，其中所述距离区间的端点根据与1mm的预设误差量进行确定。
9、进一步的技术方案在于，进行工作电极的设置，具体包括：
10、获取所述圆盘的圆心，并与圆盘表面的位置的设定距离为约束条件，将所述置于所述圆盘的旋转轴的正下方并且处于圆心。
11、另一方面，本申请实施例提供一种测量仪器，采用上述的一种新型测量zeta电势的方法，具体包括：
12、圆盘，导电介质，工作电极，旋转轴，反电极，计算分析装置；
13、其中所述圆盘设置有旋转轴，放置于导电介质中，并在所述圆盘表面放置样品；
14、工作电极和反电极用于测量所述样品的流电势；
15、计算分析装置根据所述样品的流电势的计算结果得到所述样品的表面的zeta电势。
16、本专利技术的有益效果在于：
17、此专利技术可以更加简便的测量非平面材料的zeta电势。因为此发无名无虚将两个表面靠近从而形成薄的流体通道。同时，此专利技术可以有效测量固体表面在有机溶剂中的zeta电势。因为与现有的测量方式不同，此专利技术只需要一个测量表面即可。不存在两个表面的电子云互相干扰的情况。
18、其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，本专利技术的目的和其他优点在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
19、为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种新型测量zeta电势的方法，其特征在于，具体包括：
2.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述导电介质包括无机盐的水溶液，高分子水溶液，纳米颗粒水溶液，表面活性剂水溶液，蛋白质水溶液，生物细胞在水里形成的悬浮液，有机溶剂和溶液如高分子的有机溶液，纳米颗粒在有机溶剂里所形成的悬浮液，表面活性剂的有机溶液，生物细胞在有机溶剂中形成的悬浮液。
3.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述设定距离通过以1mm为中心的距离区间进行确定，其中所述距离区间的端点根据与1mm的预设误差量进行确定。
4.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，进行工作电极的设置，具体包括：
5.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，控制圆盘在所述导电介质中旋转，具体包括：
6.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述工作电极为一根尖端暴露在导电介质中的细长导线或者其它能够感知所述流电势的形状。
7.如权利要求1所述的新型测量zet
8.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述反电极设置在远离所述圆盘的表面的位置，具体的根据设定好的与所述圆盘的表面的位置距离确定所述反电极的设置位置。
9.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述样品的表面的zeta电势根据所述流电势的拉普拉斯方程的计算结果进行确定。
10.一种测量仪器，采用权利要求1-9任一项所述的一种新型测量zeta电势的方法，其特征在于，具体包括：
...【技术特征摘要】
1.一种新型测量zeta电势的方法，其特征在于，具体包括：
2.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述导电介质包括无机盐的水溶液，高分子水溶液，纳米颗粒水溶液，表面活性剂水溶液，蛋白质水溶液，生物细胞在水里形成的悬浮液，有机溶剂和溶液如高分子的有机溶液，纳米颗粒在有机溶剂里所形成的悬浮液，表面活性剂的有机溶液，生物细胞在有机溶剂中形成的悬浮液。
3.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，所述设定距离通过以1mm为中心的距离区间进行确定，其中所述距离区间的端点根据与1mm的预设误差量进行确定。
4.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，进行工作电极的设置，具体包括：
5.如权利要求1所述的新型测量zeta电势的方法，其特征在于，控制圆盘在所...
【专利技术属性】
技术研发人员：吉瞬希，陈曦，
申请(专利权)人：鼎新至测北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。