System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 显示屏阵列光源仿真方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸_技高网

显示屏阵列光源仿真方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:43193937 阅读:4 留言:0更新日期:2024-11-01 20:15
本申请属于显示技术领域,具体公开了一种显示屏阵列光源仿真方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:基于目标显示屏的采样像素单元的角向光强分布,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型;基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长;基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位置信息和角度信息进行调整,并生成对应的单光源光学表现数据;对所述多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型分别对应的单光源光学表现数据进行合并,获得所述目标显示屏阵列光源的仿真结果。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于显示,更具体地,涉及一种显示屏阵列光源仿真方法、装置、电子设备和存储介质


技术介绍

1、商业显示屏制造过程中,通常通过直接测量每个光源的亮度和色度以评估其性能。然而,随着显示屏规模的扩大和需求的多样化,直接测量方法很难应对复杂多变的设计需求,而现有的仿真方法难以全面模拟不同类型光源在显示屏中的光学行为,特别是在模拟光源阵列的均匀性和整体表现时存在局限,因此在精度和效率上存在不足。


技术实现思路

1、针对现有技术的缺陷,本申请的目的在于提供一种显示屏阵列光源仿真方法、装置、电子设备和存储介质,旨在解决现有技术的仿真方法由于难以全面模拟不同类型光源在显示屏中的光学行为导致的精度低和效率低的问题。

2、为实现上述目的,本申请提供了一种显示屏阵列光源仿真方法,包括:

3、基于目标显示屏的采样像素单元的角向光强分布,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型;

4、基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长;

5、基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位置信息和角度信息进行调整,并生成对应的单光源光学表现数据;

6、对所述多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型分别对应的单光源光学表现数据进行合并,获得所述目标显示屏阵列光源的仿真结果。

7、根据本专利技术提供的显示屏阵列光源仿真方法,所述基于目标显示屏的采样像素单元的角向光强分布,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型,包括:

8、在所述目标显示屏上均匀设置采样点,测量采样点对应的像素单元在不同角度下的光强分布,获取其角向光强分布数据;

9、基于所述角向光强分布数据,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型。

10、根据本专利技术提供的显示屏阵列光源仿真方法,在所述基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长之前,所述方法还包括:

11、利用光谱仪测量目标显示屏的采样像素单元在不同波长下的表现,以获得所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布。

12、根据本专利技术提供的显示屏阵列光源仿真方法,所述基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长,包括:

13、基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长,以使单光源仿真模型的光线波长与实际光源保持一致。

14、根据本专利技术提供的显示屏阵列光源仿真方法,所述基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位置信息和角度信息进行调整,并生成对应的单光源光学表现数据,包括:

15、编写接口脚本,设置目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,其中非采样点的单光源仿真模型依据最近的采样点的单光源仿真模型进行设置;

16、基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位置信息和角度信息进行调整,并生成对应的单光源光学表现数据。

17、根据本专利技术提供的显示屏阵列光源仿真方法,所述对所述多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型分别对应的单光源光学表现数据进行合并,获得所述目标显示屏阵列光源的仿真结果,包括:

18、对所述多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型分别对应的单光源光学表现数据进行合并,获得所述目标显示屏阵列光源的仿真结果,其中合并过程包括数据的预处理、按位置拼接和整体数据一致性校正。

19、第二方面,本申请提供一种显示屏阵列光源仿真装置,包括:

20、构建模块,用于基于目标显示屏的采样像素单元的角向光强分布,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型;

21、设置模块,用于基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长;

22、调整模块,用于基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位置信息和角度信息进行调整,并生成对应的单光源光学表现数据;

23、合并模块,用于对所述多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型分别对应的单光源光学表现数据进行合并,获得所述目标显示屏阵列光源的仿真结果。

24、第三方面,本申请提供一种电子设备,包括:至少一个存储器,用于存储程序;至少一个处理器,用于执行存储器存储的程序,当存储器存储的程序被执行时,处理器用于执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的显示屏阵列光源仿真方法。

25、第四方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机程序,当计算机程序在处理器上运行时,使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的显示屏阵列光源仿真方法。

26、第五方面,本申请提供一种计算机程序产品,当计算机程序产品在处理器上运行时,使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的显示屏阵列光源仿真方法。

27、可以理解的是,上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述,在此不再赘述。

28、总体而言,通过本申请所构思的以上技术方案与现有技术相比,具有以下有益效果:

29、通过建立细致的单光源模型和采用外部接口进行模型的微调和数据传输,实现大规模阵列的显示屏光学性能仿真和评估,可以突破光学仿真软件对阵列规模的限制,并通过对接口脚本进行并行处理,提高仿真精度和仿真效率。

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【技术保护点】

1.一种显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述基于目标显示屏的采样像素单元的角向光强分布,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型,包括:

3.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,在所述基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长之前,所述方法还包括:

4.根据权利要求1或3所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长,包括:

5.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位置信息和角度信息进行调整,并生成对应的单光源光学表现数据,包括:

6.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述对所述多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型分别对应的单光源光学表现数据进行合并,获得所述目标显示屏阵列光源的仿真结果,包括:

7.一种显示屏阵列光源仿真装置,其特征在于,包括:

8.一种电子设备,其特征在于,包括:

9.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,当所述计算机程序在处理器上运行时,使得所述处理器执行如权利要求1-6任一所述的显示屏阵列光源仿真方法。

10.一种计算机程序产品,其特征在于,当所述计算机程序产品在处理器上运行时,使得所述处理器执行如权利要求1-6任一所述的显示屏阵列光源仿真方法。

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【技术特征摘要】

1.一种显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述基于目标显示屏的采样像素单元的角向光强分布,分别构建多个目标显示屏的像素单元的单光源仿真模型,包括:

3.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,在所述基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长之前,所述方法还包括:

4.根据权利要求1或3所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述基于所述目标显示屏的采样像素单元的光谱分布,设置所述单光源仿真模型中的光线波长,包括:

5.根据权利要求1所述的显示屏阵列光源仿真方法,其特征在于,所述基于目标显示屏阵列光源所需的单光源的位置信息和角向光强分布信息,对单光源仿真模型的位...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐凯华刘璐宁洪志坤陈云天肖帆朱秋霞
申请(专利权)人:武汉精立电子技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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