【技术实现步骤摘要】
总体上，本专利技术涉及被测设备(dut)(例如通信或雷达设备)的电磁易感性(ems)测试。更具体地，本专利技术涉及用于确定用于这种ems测试的测试信号的方法和系统、以及用于使用所确定的测试信号执行ems测试的方法。
技术介绍
1、当使用dut(例如通信或雷达设备)执行ems测试时，理想情况下，测试dut在密集电磁环境中对多种不同信号和信号类型的易感性。然而，由于大量可能的测试信号，这种ems测试可能非常耗时。
2、因此，dut通常仅用几种不同类型的信号进行测试，例如cw信号、少量环境的基本调制或记录信号。然而，正因为如此，易影响dut的信号可能会被忽略。
3、因此，目的是提供一种避免上述缺点的用于确定dut的ems测试的测试信号的改进的方法和改进的系统。
技术实现思路
1、本专利技术的目的通过本文中提供的解决方案来实现。在本文中进一步限定了本专利技术的有利实现方式。
2、根据第一方面，本专利技术涉及一种用于确定被测设备(dut)的电磁易感性(ems)测试的测试信号的方法。所述方法包括以下步骤：
3、-接收至少一个dut参数，所述至少一个dut参数定义所述dut的特性；
4、-接收至少一个环境参数，所述至少一个环境参数定义要在其中使用所述dut的电磁环境(eme)；
5、-接收关于所述dut的电磁(em)发射行为、特别是发射频谱的信息；以及
6、-将所述至少一个dut参数、所述至少一个环境参数、和关于
7、其中，所述ml或ai模型被配置为基于所述至少一个dut参数、所述至少一个环境参数和关于所述em发射行为的信息，来确定所述dut的ems测试的一个或多个测试信号。
8、这实现了以下优点：可以确定用于对特定dut进行ems测试的最相关的测试信号。由此，可以考虑dut本身的参数及其稍后使用的环境的参数。这可以极大地加快dut的易感性测试，该易感性测试最初可以用被预期为最相关信号的确定的测试信号来进行。
9、dut的易感性是在存在某些电磁发射(例如rf干扰)的情况下发生故障的倾向。例如，ems测试的目标是识别最易影响dut的信号或信号类型和/或分析dut对这些信号的响应。
10、电磁环境(eme)可以指dut周围的电磁(em)场的空间和/或时间分布。所述至少一个环境参数可以包括定义所述eme的物理特性的参数和/或指示某些环境(例如“医疗”、“汽车”或“航空航天和国防”环境，其典型或估计的eme是已知的)的参数。可以基于dut的预期或计划使用来选择环境参数，例如由用户选择。例如，如果dut计划在车辆中使用(例如，dut是汽车雷达)，则可以选择定义该环境的典型eme或涉及该环境的已知eme的相应环境参数。
11、所述dut可以是能够接收和/或发送rf信号的rf设备。dut例如是通信设备或雷达设备，例如用于车辆、飞机或无人机(uav)。dut可以是被测装备(eut)。dut的电磁(em)发射行为可以是dut的射频(rf)发射行为，例如dut的rf发射频谱。
12、关于所述em发射行为的信息可以包括所述dut的发射频谱或其一部分。替选地或附加地，该信息可以包括所述dut的发射频谱的一个或多个特征，例如：信噪比水平、最大和/或最小信号水平、和/或dut的带内和/或带外发射。该信息还可以包括dut在记录发射频谱时的取向。
13、所述ml或ai模型可以由处理单元执行，例如基于ml或ai算法执行。所述ml或ai模型可以是经训练的模型。
14、在一个实施方式中，所确定的一个或多个测试信号是所述eme中的预期最易影响dut的rf信号。这实现了以下优点：可以在ems测试之前确定最相关(即，最高预期的电磁易感性)的测试信号和/或测试信号类型。
15、在一个实施方式中，所述至少一个dut参数定义所述dut的类型和/或所述dut的操作频率。
16、在一个实施方式中，关于所述dut的所述em发射行为的信息包括关于带内和/或带外发射的信息。
17、在一个实施方式中，关于所述em发射行为的信息是通过用频谱分析仪、特别是用电磁干扰(emi)测试接收器记录和/或分析所述dut的发射频谱来获得的。
18、所记录的发射频谱可以是dut的emi频谱。关于所述em发射行为的信息可以包括所述发射频谱的至少一部分。所述频谱分析仪还可以被配置为分析所记录发射频谱，以便确定关于所述em发射行为的信息。
19、如此检索到的关于所述em发射行为的信息、特别是所记录的频谱，可以直接或间接地转发到所述ml或ai模型。例如，所述信息(或所记录的频谱)从频谱分析仪转发到执行所述ml或ai模型的处理单元。
20、在一个实施方式中，为了确定所述一个或多个测试信号，所述ml或ai模型被配置为利用所述至少一个dut参数、所述至少一个环境参数、和关于所述em发射行为的信息来查询数据库。
21、根据第二方面，本专利技术涉及一种用dut执行ems测试的方法，其中，所述方法包括以下步骤：
22、-生成一个或多个测试信号，其中，根据本专利技术的第一方面的方法来确定所述一个或多个测试信号；以及
23、-将所述一个或多个测试信号转发到所述dut；以及
24、-分析所述dut对所述一个或多个测试信号的响应。
25、这实现了以下优点：可以使用eme中预期最易影响dut的测试信号来执行所述dut的ems测试。提前知道这些测试信号可以大大加快易感性测试。
26、在一个实施方式中，所述ml或ai模型是基于所述dut对所述一个或多个测试信号的响应来训练的可训练模型。
27、例如，在所述ml或ai模型的训练期间，所述ml或ai模型被配置为基于所述dut对所述一个或多个测试信号的响应来调整和/或扩展所述数据库。
28、根据第三方面，本专利技术涉及将根据本专利技术的第一方面的方法确定的一个或多个测试信号用作干扰机中的干扰信号的用途。例如，所述干扰机可以生成(一个或多个)测试信号作为用于干扰dut或类似设备(例如，无人飞行器或uav)的干扰信号。
29、根据第四方面，本专利技术涉及一种用于确定被测设备(dut)的电磁易感性(ems)测试的测试信号的系统。该系统包括：接口单元，所述接口单元被配置为：接收至少一个dut参数，所述至少一个dut参数定义所述dut的特性；接收至少一个环境参数，所述至少一个环境参数定义要在其中使用所述dut的电磁环境(eme)；以及接收关于所述dut的em发射行为、特别是发射频谱的信息。所述系统还包括处理单元，所述处理单元被配置为接收所述至少一个dut参数、所述至少一个环境参数、和关于所述em发射行为的信息；其中，所述处理单元被配置为执行机器学习(ml)或人工智能(ai)模型，所述机器学习(ml)或人工智能(ai)模本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于确定被测设备(47)的电磁易感性测试的测试信号的方法(10)，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法(10)，
3.根据权利要求1或2所述的方法(10)，
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法(10)，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法(10)，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法(10)，
7.一种用被测设备(47)执行电磁易感性测试的方法(20)，所述方法包括以下步骤：
8.根据权利要求7所述的方法(20)，
9.将根据权利要求1至6中任一项所述的方法确定的所述一个或多个测试信号用作干扰机(46)中的干扰信号的用途。
10.一种用于确定被测设备(47)的电磁易感性测试的测试信号的系统(40)，包括：
11.根据权利要求10所述的系统(40)，还包括：
12.根据权利要求10或11所述的系统(40)，还包括：
13.根据权利要求12所述的系统(40)，
【技术特征摘要】
1.一种用于确定被测设备(47)的电磁易感性测试的测试信号的方法(10)，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法(10)，
3.根据权利要求1或2所述的方法(10)，
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法(10)，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法(10)，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法(10)，
7.一种用被测设备(47)执行电磁易感性测试的方法(20)，所述方...
【专利技术属性】
技术研发人员：昂德里克·巴尔特科，吴萧棱，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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