System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统制造方法及图纸_技高网

一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统制造方法及图纸

技术编号:43181882 阅读:16 留言:0更新日期:2024-11-01 20:07
本发明专利技术公开了一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统。该信号测试装置应用于衰耗冗余控制器,该信号测试装置包括:塞孔插座、连接器、线束和设置在衰耗冗余控制器上的面板;其中,连接器的第一端与衰耗冗余控制器的控制板卡连接,连接器的第二端通过线束与塞孔插座的第一端连接;面板上设置有多个安装区域,每个安装区域设置有一塞孔插座;塞孔插座的第二端设置在面板上,且每个塞孔插座的第二端端面与对应的安装区域齐平设置;其中,塞孔插座的第二端端面上设置有多个内缩式测试孔;内缩式测试孔用于为待测设备提供信号测试通道。通过将测试通道内缩式设计,阻止外界静电场进入设备内部,提高设备的抗静电性能,增强电气安全性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及轨道电路测试,尤其涉及一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统


技术介绍

1、轨道电路是一种用于铁路信号系统的基本设备,它通过检测轨道上是否有列车占用来实现列车运行控制和列车定位,对确保行车安全和行车通顺有着至关重要的作用。

2、在轨道电路系统中,衰耗冗余控制器是关键部件,它用于监测和调节电路中的信号衰减,并在信号衰减超出一定阈值时进行冗余控制,以确保系统的稳定性和可靠性。为了分析设备的运转状态,需要使用测试设备,如测试表笔,通过线缆连接衰耗冗余控制器的板卡,以测量衰耗冗余控制器内部信号。

3、然而,这种方式需要将衰耗冗余控制器采用焊接的方式实现信号的连接,对用户的操作来说极为不便,且与外部设备直接接触,抗静电性能差,影响测试可靠性。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统,以实现衰耗冗余控制器的信号测试,且提高抗静电性能和测试可靠性。

2、根据本专利技术的一方面,提供了一种信号测试装置,该信号测试装置应用于衰耗冗余控制器,该信号测试装置包括:塞孔插座、连接器、线束和设置在所述衰耗冗余控制器上的面板;其中,所述连接器的第一端与所述衰耗冗余控制器的控制板卡连接,所述连接器的第二端通过所述线束与所述塞孔插座的第一端连接;

3、所述面板上设置有多个安装区域,每个所述安装区域设置有一所述塞孔插座;所述塞孔插座的第二端设置在所述面板上,且每个所述塞孔插座的第二端端面与对应的所述安装区域齐平设置;

4、其中,所述塞孔插座的第二端端面上设置有多个内缩式测试孔;所述内缩式测试孔用于为待测设备提供信号测试通道。

5、可选地,所述塞孔插座的第一端、所述线束以及所述连接器集成设置在所述衰耗冗余控制器内部。

6、可选地,所述内缩式测试孔为内缩式金属环。

7、可选地,该信号测试装置还包括可剥离式防尘防静电模块;所述可剥离式防尘防静电模块覆盖在所述内缩式测试孔上。

8、可选地,所述可剥离式防尘防静电模块为可剥离式弹性橡胶。

9、可选地,所述内缩式测试孔的内缩尺寸为6mm。

10、可选地,所述连接器设置有连接器触头和连接器外壳;所述控制板卡上设置有针座连接器,所述连接器外壳通过卡扣的方式与所述针座连接器连接;所述线束通过所述连接器触头压接到所述连接器外壳中。

11、可选地,所述连接器的基体材料为磷青铜,且表面镀金工艺。

12、根据本专利技术的另一方面,提供了一种衰耗冗余控制器,该衰耗冗余控制器包括如第一方面所述的信号测试装置。

13、根据本专利技术的另一方面,提供了一种轨道电路系统,该轨道电路系统包括如第二方面所述的衰耗冗余控制器。

14、本专利技术实施例的技术方案,通过提供一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统,该信号测试装置应用于衰耗冗余控制器,该信号测试装置包括:塞孔插座、连接器、线束和设置在衰耗冗余控制器上的面板;其中,连接器的第一端与衰耗冗余控制器的控制板卡连接,连接器的第二端通过线束与塞孔插座的第一端连接;面板上设置有多个安装区域,每个安装区域设置有一塞孔插座;塞孔插座的第二端设置在面板上,且每个塞孔插座的第二端端面与对应的安装区域齐平设置;其中,塞孔插座的第二端端面上设置有多个内缩式测试孔;内缩式测试孔用于为待测设备提供信号测试通道。由此可知,通过设置塞孔插座、连接器和面板,且将设置有内缩式测试孔的塞孔插座的端设置在衰耗冗余控制器的面板上,为待测设备提供信号测试通道。通过将测试通道内缩式设计,可以减少测试孔与塞孔材料之间的接触界面,有效降低接触电势差,减少静电积累和静荷电的产生,增加测试孔的物理屏蔽效果,阻止外界静电场进入设备内部,提高设备的抗静电性能,增强电气安全性。并且通过塞孔插座、线束、连接器实现与衰耗冗余控制器控制板卡的连接,可以简化测试接线结构,减少线束,减少干扰,提高测试的可靠性。

15、应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

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【技术保护点】

1.一种信号测试装置,其特征在于,应用于衰耗冗余控制器,所述装置包括:塞孔插座、连接器、线束和设置在所述衰耗冗余控制器上的面板;其中,所述连接器的第一端与所述衰耗冗余控制器的控制板卡连接,所述连接器的第二端通过所述线束与所述塞孔插座的第一端连接;

2.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述塞孔插座的第一端、所述线束以及所述连接器集成设置在所述衰耗冗余控制器内部。

3.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述内缩式测试孔为内缩式金属环。

4.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,还包括可剥离式防尘防静电模块;所述可剥离式防尘防静电模块覆盖在所述内缩式测试孔上。

5.根据权利要求4所述的信号测试装置,其特征在于,所述可剥离式防尘防静电模块为可剥离式弹性橡胶。

6.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述内缩式测试孔的内缩尺寸为6mm。

7.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述连接器设置有连接器触头和连接器外壳;所述控制板卡上设置有针座连接器,所述连接器外壳通过卡扣的方式与所述针座连接器连接;所述线束通过所述连接器触头压接到所述连接器外壳中。

8.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述连接器的基体材料为磷青铜,且表面镀金工艺。

9.一种衰耗冗余控制器,其特征在于,包括如权利要求1-8任一项所述的信号测试装置。

10.一种轨道电路系统,其特征在于,包括如权利要求9所述的衰耗冗余控制器。

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【技术特征摘要】

1.一种信号测试装置,其特征在于,应用于衰耗冗余控制器,所述装置包括:塞孔插座、连接器、线束和设置在所述衰耗冗余控制器上的面板;其中,所述连接器的第一端与所述衰耗冗余控制器的控制板卡连接,所述连接器的第二端通过所述线束与所述塞孔插座的第一端连接;

2.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述塞孔插座的第一端、所述线束以及所述连接器集成设置在所述衰耗冗余控制器内部。

3.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,所述内缩式测试孔为内缩式金属环。

4.根据权利要求1所述的信号测试装置,其特征在于,还包括可剥离式防尘防静电模块;所述可剥离式防尘防静电模块覆盖在所述内缩式测试孔上。

5.根据权利要求4所述的信号测试装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘宗宝韩雪松孙国营郜志强任国桥王华超陈懿方媛媛于树永张明妨翟一霖
申请(专利权)人:北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
类型:发明
国别省市:

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