【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测仪，特别涉及用于检测贵金属成分的x荧光检测装置。
技术介绍
1、现有技术中，在进行贵金属成分检测时，都是采用机械手将被检测件直接抓取后，移动到检测仪检测口的上方，直接进行检测，而在检测口的上方都覆盖有迈拉膜，这种迈拉膜非常薄，用机械手将被检测件移动到检测口上方时，很容易将该迈拉膜刺破或损坏，影响检测结果，还有就是当被检测件比较小的时候，采用机械手夹取部件直接检测，检测仪很容易将机械手当作被检测对象，从而导致检测数据不准确。
技术实现思路
1、本技术在检测仪上设置一个检测平台用于承载和固定被检测件，避免机械手损坏检测口处的迈拉膜，同时也消除机械手的影响，解决现有技术中检测数据不准确的技术问题。
2、本技术为解决上述技术问题而设计的这种带有检测平台的x荧光检测仪包括检测仪壳体，设置于所述检测仪壳体内用于检测被检测件成色的荧光检测系统，所述检测仪壳体的顶面上开设有检测口，其特征在于：该x荧光检测仪还包括在对应检测口位置上还设有用于承载被检测件的检测平台，所述检测平台用于承载被检测件的部分也覆盖有第二迈拉膜。
3、本技术的进一步改进是：所述检测平台包括支架，所述支架的底部连接有第二迈拉膜，被检测件置于所述第二迈拉膜的位置上。或者所述支架为框架结构，所述第二迈拉膜覆盖整个框架结构支架的底部。
4、本技术的再一步改进是：所述机架上还设有支撑座，所述检测平台座落于所述支撑座；优选的是所述支撑座为滑动导轨，所述检测平台底部设有与所述滑动导轨相配合的
5、本技术更进一步改进是：所述检测仪壳体上设有用于输送被检测件进入检测工位的传递口，该传递口上设有用于遮挡x荧光射线活动式的防辐射挡板。
6、本技术采用上述技术方案，第一机械手在输送被检测件时在检测口旁边进行取放，不容易损坏迈拉膜，同时，在检测过程中，机械手也不在检测仪的检测范围内，不影响检测结果，使得检测数据更加精准。
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1.一种带有检测平台的X荧光检测仪，包括检测仪壳体(10)，设置于所述检测仪壳体(10)内用于检测被检测件成色的荧光检测系统，所述检测仪壳体(10)的顶面上开设有检测口(21)，其特征在于：该X荧光检测仪还包括在对应检测口(21)位置上还设有用于承载被检测件的检测平台(30)，所述检测平台(30)用于承载被检测件的部分也覆盖有第二迈拉膜(31)。
2.根据权利要求1所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述检测平台(30)包括支架(32)，所述支架(32)的底部连接有第二迈拉膜(31)，被检测件置于所述第二迈拉膜(31)的位置上。
3.根据权利要求2所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述支架(32)为框架结构，所述第二迈拉膜(31)覆盖整个框架结构支架(32)的底部。
4.根据权利要求1所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述检测仪壳体(10)上还设有支撑座(13)，所述检测平台(30)座落于所述支撑座(13)。
5.根据权利要求4所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述支撑座(13)为滑动导轨，所述
6.根据权利要求5所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述驱动机构为丝套丝杆传动机构。
7.根据权利要求5所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述驱动机构为皮带传动机构。
8.根据权利要求1至7中任一项所述带有检测平台的X荧光检测仪，其特征在于：所述检测仪壳体(10)上设有用于输送被检测件进入检测工位的传递口(14)，该传递口(14)上设有用于遮挡X荧光射线活动式的防辐射挡板(15)。
...【技术特征摘要】
1.一种带有检测平台的x荧光检测仪，包括检测仪壳体(10)，设置于所述检测仪壳体(10)内用于检测被检测件成色的荧光检测系统，所述检测仪壳体(10)的顶面上开设有检测口(21)，其特征在于：该x荧光检测仪还包括在对应检测口(21)位置上还设有用于承载被检测件的检测平台(30)，所述检测平台(30)用于承载被检测件的部分也覆盖有第二迈拉膜(31)。
2.根据权利要求1所述带有检测平台的x荧光检测仪，其特征在于：所述检测平台(30)包括支架(32)，所述支架(32)的底部连接有第二迈拉膜(31)，被检测件置于所述第二迈拉膜(31)的位置上。
3.根据权利要求2所述带有检测平台的x荧光检测仪，其特征在于：所述支架(32)为框架结构，所述第二迈拉膜(31)覆盖整个框架结构支架(32)的底部。
4.根据权利要求1所述带有检测平台的x荧光检测仪，其特征在于：所述检...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑慧琳，张军，罗健，刘运清，解孝文，
申请(专利权)人：东莞市绍隆实业有限公司，
类型：新型
国别省市：
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