System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法技术_技高网

一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法技术

技术编号:43158223 阅读:1 留言:0更新日期:2024-11-01 19:52
本发明专利技术涉及物理分析技术领域,具体涉及一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,包括:获取同一待测样品的多个放射性薄层色谱图,分析每个峰的差异性、差异均值和变异系数,结合展开缸内的温度值进行调控,计算每个峰的峰态离差值及温度调控有效峰。最后根据色谱峰态调控效能指数和色谱重现性综合指数,评估调控后每个放射性薄层色谱图的重现性。本发明专利技术增强了检测的重现性,提升了整体的检测准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及物理分析,具体涉及一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法


技术介绍

1、放射性薄层色谱扫描仪具备高分辨率和高灵敏度,能够通过光束照射并检测其强度变化来定量分析薄层板上的组分含量。这项技术在医学领域尤其重要,用于测定药品纯度和成分组成等。然而,放射性薄层色谱扫描仪的操作过程复杂且易受外界环境影响,如展开剂挥发不一致导致的边缘效应,这会使得色谱曲线出现偏移和拖尾现象,降低结果的重现性。改善重现性差的方法包括更换溶剂和控制环境湿度,现有薄层扫描技术存在对同一样品进行多次检测后的扫描结果差异较大的问题,即重现性较差,无法根据色谱曲线的具体变化对溶剂的蒸汽浓度进行精准调控,影响了测量结果的准确性和重现性。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,以解决现有的问题。

2、本专利技术的一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法采用如下技术方案:

3、本专利技术一个实施例提供了一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,该方法包括以下步骤:

4、获取同一待测样品的多个放射性薄层色谱图;获取每个展开缸内的初始温度值;所述放射性薄层色谱图的横坐标为时间,纵轴标为放射性信号强度;

5、获取每个放射性薄层色谱图中峰的个数和面积;根据每个放射性薄层色谱图中每个峰的放射性信号强度、时间值、面积及展开缸的个数,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性;

6、根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个峰的差异均值;根据所有放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个放射性薄层色谱图每个峰的综合均值;根据每个峰的差异均值、每个放射性薄层色谱图中峰的个数及每个峰的综合均值,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数;根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数及每个展开缸内的初始温度值,获取调控后的每个放射性薄层色谱图;

7、根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性,获取调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值;根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数、调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值,获取每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数;

8、根据每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数以及每个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数,获取调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数;根据调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数评价薄层扫描检测的准确性。

9、进一步地,所述根据每个放射性薄层色谱图中每个峰的放射性信号强度、时间值、面积及展开缸的个数,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性,包括的具体步骤如下:

10、

11、式中,表示第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性,表示第个放射性薄层色谱图中第个峰的面积,表示除第个放射性薄层色谱图外的其他放射性薄层色谱图中所有第个峰的面积的均值,表示放射性薄层色谱图的个数,表示第个放射性薄层色谱图中第个峰的最大放射性信号强度,表示除第个放射性薄层色谱图之外的第个放射性薄层色谱图中第个峰的最大放射性信号强度,表示第个放射性薄层色谱图中第个峰的峰值点的时间值,表示除第个放射性薄层色谱图之外的第个放射性薄层色谱图中第个峰的峰值点的时间值,表示取绝对值。

12、进一步地,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个峰的差异均值,包括的具体步骤如下:

13、记所有射性薄层色谱图第个峰的差异性均值为第个峰的差异均值。

14、进一步地,所述根据所有放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个放射性薄层色谱图每个峰的综合均值,包括的具体步骤如下:

15、获取第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性与除第个放射性薄层色谱图外,其他所有放射性薄层色谱图中第个峰差异性的差值绝对值的均值,将所述差值绝对值的均值记为第个放射性薄层色谱图第个峰的综合均值。

16、进一步地,所述根据每个峰的差异均值、每个放射性薄层色谱图中峰的个数及每个峰的综合均值,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数,包括的具体步骤如下:

17、

18、式中,表示第个放射性薄层色谱图第个峰的变异系数,表示第个放射性薄层色谱图第个峰的综合均值,表示第个峰的差异均值,表示第个放射性薄层色谱图中峰的个数,表示第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性,表示取绝对值,表示线性归一化函数。

19、进一步地,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数及每个展开缸内的初始温度值,获取调控后的每个放射性薄层色谱图,包括的具体步骤如下:

20、将一加第个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数均值的和值与第个展开缸内的初始温度值的乘积,记为调控后第个展开缸的温度;

21、在调控后第个展开缸的温度下,获取调控后的第个放射性薄层色谱图。

22、进一步地,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性,获取调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值,包括的具体步骤如下:

23、按照获取第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性的方式,获取调控后的第个放射性薄层色谱图中第个峰的差异性,进一步计算第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性与调控后的第个放射性薄层色谱图中第个峰差异性的差值绝对值,将所述差值绝对值记为调控后的第个放射性薄层色谱图第个峰的峰态离差值;

24、当第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性大于调控后的第个放射性薄层色谱图中第个峰的差异性时,将调控后的第个放射性薄层色谱图中第个峰记为温度调控有效峰。

25、进一步地,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数、调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值,获取每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数,包括的具体步骤如下:

26、按照获取第个放射性薄层色谱图第个峰的差异性的方式,获取调控后的第个放射性薄层色谱图中第个峰的差异性;

27、

28、式中,表示第个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数,表示第个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数均值,表示调控后的第个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数均值,表示调控后第放射性薄层色谱图中温度调控有效峰的个数,表示调控后的第个放射性薄层色谱图中所有温度调控有效峰的峰态离差值的均值,表示调控后的第个放射性薄层色谱图第个温度调控有效峰的峰态离差值,表示取绝对值。

29、进一步地,所述根据每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数以及每个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数,获取调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数,包括的具体步骤如下:

30、按照获取第个放射性薄层色谱图第个峰的变异系数的方式,获取调控后的第个放射性薄层色谱图第个峰的变异系数;

31、

32、式中,表示调控后第个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数,表示所有放射性薄层色谱图的色本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图中每个峰的放射性信号强度、时间值、面积及展开缸的个数,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性,包括的具体步骤如下:

3.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个峰的差异均值,包括的具体步骤如下:

4.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据所有放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个放射性薄层色谱图每个峰的综合均值,包括的具体步骤如下:

5.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个峰的差异均值、每个放射性薄层色谱图中峰的个数及每个峰的综合均值,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数,包括的具体步骤如下:

6.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数及每个展开缸内的初始温度值,获取调控后的每个放射性薄层色谱图,包括的具体步骤如下:

7.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性,获取调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值,包括的具体步骤如下:

8.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数、调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值,获取每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数,包括的具体步骤如下:

9.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数以及每个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数,获取调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数,包括的具体步骤如下:

10.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数评价薄层扫描检测的准确性,包括的具体步骤如下:

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【技术特征摘要】

1.一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图中每个峰的放射性信号强度、时间值、面积及展开缸的个数,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性,包括的具体步骤如下:

3.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个峰的差异均值,包括的具体步骤如下:

4.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据所有放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个放射性薄层色谱图每个峰的综合均值,包括的具体步骤如下:

5.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个峰的差异均值、每个放射性薄层色谱图中峰的个数及每个峰的综合均值,获取每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数,包括的具体步骤如下:

6.根据权利要求1所述一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法,其特征在于,所述根据每个放射性薄层色谱图每个峰...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘建营梁万胜邵亚辉
申请(专利权)人:陕西正泽生物技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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