【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
根据本专利技术的实施例涉及用于使用统计显著性相异度值确定关于一个或多个待测设备dut的特征的信息的方法和装置。
技术介绍
1、在许多情况下，技术设备在被用于其相应目标应用之前需要被测试。为了提供经济高效且可靠的测试结果，可以使用自动化测试仪器ate。
2、然而，特别是对于要测试多个参数和较多数量的设备的测试场景，可能难以处理和/或评估测试结果。
3、因此，希望得到一种适用于这种情况的概念，并在可靠性、效率和成本之间提供更好的折中。
4、这是通过本申请的独立权利要求的主题实现的。
5、根据本专利技术的进一步实施例由本申请的从属权利要求的主题限定。
技术实现思路
1、根据本专利技术的实施例包括一种用于使用来自自动化测试仪器(ate)的测量数据来确定关于一个或多个待测设备dut的特征的信息(例如，信息“待测设备在这些条件下显示出具有统计显著性的不同行为”)的方法，测量数据包括多个测量结果(例如目标变量，例如t，例如“测试通过”，例如“测试失败”，例如连续值，例如电压或电流或信号特征)和描述待测设备(dut)的对应测量条件(例如描述对应自变量的条件，例如v＝v，例如描述自变量v具有值v的条件；例如在其下已经获得测量结果的测量条件)的信息。
2、该方法包括确定关于与测量条件的第一子集(例如对于给定测量条件或对于测量条件的给定(例如小)范围，例如其中自变量取值v＝v)相对应的测量结果的条件分布(例如在非布尔目标变量的情况下的局部条件目
3、该方法还包括确定关于至少一个样本分布(例如在非布尔目标变量的情况下的多个经验分布qs或qs(t)，或者例如在布尔目标变量的情况下的概率q’)的信息，例如表示或描述前述的信息，其中至少一个样本分布(例如在布尔目标变量的情况下的一个经分析确定的代表性样本分布，或者在非布尔目标变量的情况下的多个经验样本分布)与条件分布可比较(例如相关联)(例如，与比条件分布更广泛范围的测量条件相关联，例如，包括相等或相似数量的测量结果)。
4、此外，该方法包括使用关于条件分布的信息(例如表示或描述条件分布的信息)并使用关于至少一个样本分布的信息(例如表示或描述至少一个样本分布的信息)来确定统计显著性相异度值(例如，其指示dut的行为如何取决于测量条件；例如d(v)；例如，其表征了dut针对给定测量条件的行为；例如，描述介于条件分布和一个或多个样本分布之间的统计显著性相异度；例如，确定相异度阈值，例如d(v)，使得样本分布中仅预定部分(例如5％)包括相对于条件分布小于或等于相异度阈值的相异度；例如，确定相异度阈值使得样本分布(例如二项式的二项式分布)的所有实例中仅预定部分(例如5％)包括相对于条件分布小于或等于相异度阈值的相异度；例如，确定相异度阈值，该相异度阈值指示条件分布是否包括指示介于条件分布和样本分布之间的最小相异度阈值，排除样本分布中与条件分布最相似的预定部分)，其中关于一个或多个dut的特征的信息包括统计显著性相异度值或者基于统计显著性相异度值。
5、专利技术人认识到，基于包括多个测量结果和描述对应测量条件的信息的测量数据，通过使用(例如比较)关于条件分布的信息和关于至少一个样本分布的信息，可以稳健且高效地确定或评估dut特征。
6、简单地说，作为示例，专利技术人认识到，为了评估或分类与测量条件的第一子集相对应的测量结果，可以确定关于其条件分布的信息。为了允许稳健且可靠的评估，例如可以将该条件分布与至少一个样本分布进行比较。简单地说，在多个ate测试用例(例如，包括结果和对应条件)中，可以一次或多次(例如随机地)选择测试用例，并且可以确定其一个或多个样本分布。为了保持一个或多个样本分布与条件分布可比较，相应样本分布可以与相比于条件分布相似或甚至相等数量的测试用例相关联。
7、现在，可以将样本分布中的一个或每一个例如与条件分布进行比较。简单地说，比较可以回答条件分布是否与样本分布相似或者显著不同(其中，作为示例，样本分布基于随机抽取的测试用例)。因此，基于比较，不仅可以(例如)检测到差异，还可以提供关于差异的统计显著性的信息。
8、专利技术人认识到，相异度值可以允许为这种比较提供良好衡量标准。因此，可以基于介于条件分布和一个或多个样本分布之间的一次或多次比较来确定统计显著性相异度值。
9、根据本专利技术的进一步实施例，样本分布是经验分布，并且确定关于(例如表示或描述)至少一个样本分布的信息包括确定关于(例如表示或描绘)测量数据(例如在大范围的测量条件内获得或者在随机范围的测量条件内获得的测量结果)的多个子集的测量结果的多个经验分布(例如qs)的信息。
10、此外，为确定关于相应经验分布的信息(例如关于每个经验分布的信息)而考虑的测量结果的数量与为确定关于条件分布的信息而考虑的测量结果的数量相关联(例如前者对应于后者，例如前者相对于后者偏离不超过10％或20％；例如前者等于后者)，并且测量数据的相应子集的测量结果是测量数据的经随机或伪随机(例如或者任意)选择测量结果的集合。
11、该方法还包括使用关于条件分布的信息(例如条件分布本身)并使用关于相应经验分布的信息(例如经验分布本身)来确定条件分布和相应(例如每个)经验分布之间的多个相异度度量(例如kullback-leibler散度)。此外，该方法还包括使用多个相异度度量来确定统计显著性相异度值，例如d(v)。
12、根据本专利技术的进一步实施例，统计显著性相异度值(例如d(v)，例如，其指示dut的行为如何取决于测量条件；例如d(v)，例如，其表征dut针对给定测量条件的行为，例如描述介于条件分布和一个或多个样本分布之间的统计显著性相异度；例如，确定相异度阈值，例如d(v)，使得样本分布中仅预定部分(例如5％)包括相对于条件分布小于或等于相异度阈值的相异度；例如，确定相异度阈值使得样本分布(例如二项式的二项式分布)的所有实例中仅预定部分(例如5％)包括相对于条件分布小于或等于相异度阈值的相异度；例如，确定相异度阈值，该相异度阈值指示条件分布是否包括指示介于条件分布和样本分布之间的最小相异度阈值，排除样本分布中与条件分布最相似的预定部分)与相异度度量的分布的分位数(例如，百分位数，例如，较低1-c百分位，例如c＝95％)相关联。
13、根据本专利技术的进一步实施例，该方法还包括确定多个相异度度量的累积分布(例如cdf)，并确定统计显著性相异度值(例如d(v))，使得经验分布中仅预定部分包括相对于条件分布小于或等于统计显著性相异度值的相异度度量，例如使得相应经验分布和条件分布之间的相异度度量中仅预定部分小于或等于统计显著性相异度值。
14、根据本专利技术的进一步实施例，该方法还包括外推累积分布和/或插值累积分布，以确定统计显著性相异度值，例如d(v)。
15、根据本专利技术本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于使用来自自动化测试仪器(ATE)的测量数据来确定关于一个或多个待测设备(DUT)的特征的信息的方法(500、600、700)，所述测量数据包括多个测量结果和描述所述待测设备(DUT)的对应测量条件的信息，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法(500、600、700)，
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述统计显著性相异度值与所述相异度度量的分布的分位数相关联。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括DUT测试的数据集的数量；并且
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括所述测量结果和一个或多个对应自变量的值；并且其中所述方法还包括
12.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括所述测量结果和一个或多个对应自变量的值，其中所述方法还包括
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括所述测量结果和一个或多个对应自变量的值，其中所述方法还包括
14.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中针对与相应值箱相对应的测量条件的不同子集，确定多个统计显著性相异度值和/或多个归一化相异度分数。
15.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
16.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括所述测量结果和对应自变量值，其中所述方法还包括
17.根据权利要求16所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
18.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
19.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述方法还包括
20.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，
21.根据权利要求20所述的方法(500、600、700)，其中所述高亮显示包括对绘图的背景进行着色，其中根据所述统计显著性相异度值确定所述着色的饱和度。
22.根据权利要求20或21中任一项所述的方法(500、600、700)，
23.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括
24.一种计算机程序，用于当所述计算机程序在计算机上运行时执行根据前述权利要求中任一项所述的方法。
25.一种用于使用来自自动化测试仪器(ATE)的测量数据来确定关于一个或多个待测设备(DUT)的特征的信息的装置(900)，所述测量数据包括多个测量结果和描述所述待测设备(DUT)的对应测量条件的信息，其中所述装置被配置为：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于使用来自自动化测试仪器(ate)的测量数据来确定关于一个或多个待测设备(dut)的特征的信息的方法(500、600、700)，所述测量数据包括多个测量结果和描述所述待测设备(dut)的对应测量条件的信息，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法(500、600、700)，
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述统计显著性相异度值与所述相异度度量的分布的分位数相关联。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，所述方法还包括：
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述方法还包括测量数据值的分箱(310)，其中所述分箱基于参数α执行，所述参数α影响测量数据值被量化到值箱的数目；并且
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括dut测试的数据集的数量；并且
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括所述测量结果和一个或多个对应自变量的值；并且其中所述方法还包括
12.根据前述权利要求中任一项所述的方法(500、600、700)，其中所述测量数据包括所述测量结果和一个或多个对应自变量的值，其中所述方法还包括
13.根据前述权利要求中任一项...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。