MEMS圆片级真空封装横向互连结构及其制造方法技术

技术编号:4314461 阅读:273 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
MEMS圆片级真空封装横向互连结构及其制造方法,属于微机电系统的导线互连结构,解决键合过程中气密性问题,实现真空腔内外电信号的连通。本发明专利技术互连结构,在硅基板表面依次具有SiO2绝缘层和多个电极,各电极在硅基板表面的SiO2绝缘层上周向分散排列,各电极引线上自下而上依次具有闭合曲线形状的绝缘介质层和键合环,键合环内部封闭空间为真空腔,用于放置MEMS器件;硅盖板与键合环完成键合。本发明专利技术的制造方法,依次包括热氧化SiO2绝缘介质层、制作金属电极、沉积绝缘介质层、生长多晶硅、化学机械抛光、键合步骤。本发明专利技术键合应力小、密封质量高、可靠性好、成本较低,可极大促进圆片级MEMS真空封装技术的商业化推广。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种MEMS圆片级真空封装横向互连结构,在硅基板表面具有SiO↓[2]绝缘层,SiO↓[2]绝缘层上具有多个电极,其特征在于:所述电极由连为一体的引线和焊盘组成,各电极在硅基板表面的SiO↓[2]绝缘层上周向分散排列,各电极的引线方向朝向硅基板中心;各电极引线上自下而上依次具有闭合曲线形状的绝缘介质层和键合环,键合环内部的封闭空间为真空腔,用于放置MEMS器件;硅盖板与键合环完成硅-玻璃阳极键合或金属焊料键合;所述电极为金属电极;所述绝缘介质层为化学气相淀积的SiO↓[2]层或Si↓[3]N↓[4]层中的一种或两种;所述化学气相淀积为等离子体化学增强气相淀积、常压化学气相淀积或低压化学气相淀积中的一种。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:汪学方刘川张卓罗小兵甘志银张鸿海刘胜
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:83[中国|武汉]

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