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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及高压电力设备状态监测领域,特别是一种基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法及系统。
技术介绍
1、电力系统的可靠运行一直是电力行业的重点关注问题。在高压电力设备运行过程中,局部放电是最为普遍和重要的一个监测指标。局部放电是指电力设备绝缘体内部或者表面发生的局部性放电,它往往是绝缘体老化、损坏的前兆,如果不能及时发现并采取措施,可能会导致设备绝缘故障,引发严重的安全事故。因此,如何通过有效的局部放电检测手段,实现对电力设备绝缘状态的在线监测和故障诊断,成为电力行业亟待解决的关键技术问题。
2、目前,常用的局部放电检测技术有脉冲电流法、特高频检测法、超声波检测法以及光测法等。其中,基于荧光光纤传感器的局部放电检测方法因其抗电磁干扰、本质绝缘、灵敏度高等优点,得到了广泛的研究与应用。这种方法利用光纤材料,当电力设备局部放电产生的紫外辐射激发光纤材料中的稀土离子时,会发射出荧光,通过对荧光信号的检测和分析,可以间接获取局部放电的相关信息。
3、尽管荧光光纤本身具有抗干扰能力,但是在将光信号转换为电信号进行后续处理时,仍然会受到一定程度的噪声干扰,从而影响局部放电检测的准确性,导致出现误报和漏报现象。此外,单一依靠局部放电检测手段,无法全面反映电力设备的绝缘状态。
技术实现思路
1、鉴于现有的基于荧光光纤的局部放电检测方法具有抗电磁干扰的优势,但是在将光信号转换为电信号进行后续处理时,仍然会受到噪声干扰,导致出现误报和漏报现象,提出了本专利技术。<
...【技术保护点】
1.一种基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述同步比较数据解调后得到的局部放电信息和温度信息包括对数据解调后的局部放电数据和温度数据分别进行定量分析,并分别计算出局部放电强度和温升幅度,将局部放电强度和温升幅度结果进行逻辑判断和模糊处理,确定最终的放电检测结果。
3.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述数据解调包括对采集的光电倍增管输出电压信号进行去噪和放电强度计算,所述去噪和放电强度计算包括以下步骤:
4.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述数据解调处理还包括对采集的微型光谱仪的光谱进行去噪和温度信息计算,所述去噪包括:光谱去噪,对原始光谱做离散小波变换,得到小波系数如下:
5.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述判定最终局部放电检测结果包括:
6.一种基于铈铽共掺荧光光
7.如权利要求4所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测装置,其特征在于:所述铈铽共掺荧光光纤(101)通过光纤法兰连接传输光纤(103)的一端,所述传输光纤(103)的另一端与光纤耦合器(102)的第一端口(102a)相连接,所述光纤耦合器(102)的第二端口(102b)连接光电倍增管(201)的输入端,所述光纤耦合器(102)的第三端口(102c)连接微型光谱仪(202)的输入端,所述光电倍增管(201)的信号输出端与数据采集卡(301)的信号输入端相连接,所述微型光谱仪(202)的信号输出端连接计算机(302),所述数据采集卡(301)的信号输出端连接计算机(302)。
8.如权利要求7所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测装置,其特征在于:所述传输光纤(103)封装采用无金属绝缘护套。
9.一种基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测系统,基于权利要求1~5任一所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:还包括,
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1~5任一所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述同步比较数据解调后得到的局部放电信息和温度信息包括对数据解调后的局部放电数据和温度数据分别进行定量分析,并分别计算出局部放电强度和温升幅度,将局部放电强度和温升幅度结果进行逻辑判断和模糊处理,确定最终的放电检测结果。
3.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述数据解调包括对采集的光电倍增管输出电压信号进行去噪和放电强度计算,所述去噪和放电强度计算包括以下步骤:
4.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述数据解调处理还包括对采集的微型光谱仪的光谱进行去噪和温度信息计算,所述去噪包括:光谱去噪,对原始光谱做离散小波变换,得到小波系数如下:
5.如权利要求1所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征在于:所述判定最终局部放电检测结果包括:
6.一种基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测装置,基于权利要求1~5任一所述的基于铈铽共掺荧光光纤的局部放电和温度同测方法,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:王廷云,胡程勇,黄怿,邓传鲁,张小贝,张琦,
申请(专利权)人:上海大学,
类型:发明
国别省市:
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