【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
根据本专利技术的实施例涉及用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备。根据本专利技术的其他实施例涉及被测设备。根据本专利技术的其他实施例涉及测试装置。根据本专利技术的其他实施例涉及用于操作自动测试设备的方法。根据本专利技术的其他实施例涉及用于测试被测设备的方法。根据本专利技术的其他实施例涉及计算机程序。一般来说，根据本专利技术的实施例涉及通过片上系统测试的生产测试仪控制。
技术介绍
1、自动测试设备(automated test equipment，ate)是用于生产测试和后硅验证的平台，可快速自动执行测试用例并灵活控制被测设备(device under test，dut)的外部测试条件。
2、数字集成电路的生产测试传统上是在ate上通过结构测试完成的。将循环精确输入模式应用于被测设备(dut)，并通过比较结果输出模式与预期模式，检测出故障设备。
3、dut的内部结构正在向复杂的片上系统(soc)设备发展，这些设备包含具有由片上网络结构互连的多处理器、存储器和外设单元的许多子系统。即使结构测试的覆盖率达到99.5％，这些soc中仍有数百万个晶体管未经测试，这导致片上系统测试(on-chip-system-test，ocst)的引入。
4、ocst由嵌入式软件在dut的处理器环境中作为实时场景执行，并通过对包括soc的所有子系统的关键用例进行功能性能检查来缩小测试差距。
5、通过测试模式上传ocst/功能测试的传统方法
6、以下，将描述通过模式测试上传ocst/功能测试的传
7、图4示出了ate系统将功能测试用例(test case，tc)的软件(software，sw)上传到被测设备(dut)的存储器中的常用方法。通过应用于dut上的存储器接口的循环精确模式的序列上传sw。缺点是将sw代码转换为模式序列需要耗费大量时间，而且下载速度受到数字通道的最大时钟速率的限制。
8、总之，图4示出了通过测试模式的ocst/功能测试上传和控制。例如，自动测试设备410可包括与运行ate测试程序424的工作站422耦接的测试仪资源420。例如，作为测试资源一部分的数字通道可用于基于模式的ocst上传和通过数字通道的控制。换句话说，数字通道例如可用于将测试程序(例如ocst测试用例432)上传到被测设备430。为此，可以对ate的数字通道进行编程，以提供控制向被测设备上传(例如ocst测试用例的)程序的模式。此外，额外的测试仪资源如数字通道和/或模拟通道和/或电源线，可用于为被测设备提供信号如输入信号和/或一个或多个电源电压。此外，测试资源420还可用于接收来自被测设备430的一个或多个信号，并评估来自被测设备的这些信号。例如，可以向被测设备提供适当的电源电压，以及自动测试设备和被测设备之间也可以使用各自的测试仪资源进行交互。此外，测试资源可选地还可用于执行测量，从而评估被测设备。
9、总之，自动测试设备可使用适当的测试仪资源执行ocst测试用例的上传，并且自动测试设备和被测设备之间可以使用自动测试设备的测试仪资源进行交互。
10、通过高速io的ocst/功能测试上传和控制
11、以下，将描述通过高速io的ocst/功能测试上传和控制。
12、功能测试用例处理的演变是在本地模式下使用被测设备(dut)的hsio接口(如usb、pcie、eth)。例如，这意味着现在是通过完全支持协议的高速接口上传和控制测试用例软件(sw)，而不再是以循环导向的确定性模式。要支持hsio接口，可能需要预先在被测设备(dut)上安装驱动器，如通过jtag上传和激活。
13、图5示出了通过高速io的功能测试上传和控制的示意图。在该构思中，例如可以使用自动测试设备510，其中包括测试仪资源520和工作站522。此外还有被测设备530。例如，ate测试程序可以实现ocst-tc上传(如片上系统测试的测试用例上传)。此外，测试程序还可以实现执行控制。例如，ocst-tc上传和执行控制都可以使用高速输入输出(hsio)来执行，例如通用串行总线接口、“外设部件互连快车”接口(pcie)或经由以太网接口(eth)。因此，典型的基于协议的高速输入输出接口可用于测试用例tc的上传和对测试用例的执行的控制。在这方面，应该注意的是，ocst测试用例532通常是使用(或在)被测设备540(如使用被测设备530的一个或多个处理器)执行的软件。
14、此外，被测设备530可以与测试仪资源520连接，其中，可以使用例如数字通道和/或模拟通道和/或电源线。例如，可以使用用于为dut供电、测试交互和测量的ate控制信号。换句话说，测试仪资源例如可以包括一个或多个设备电源，例如可以为被测设备提供一个或多个电源电压。此外，测试仪资源还可以包括一个或多个数字通道，用于向被测设备提供数字信号和/或接收来自被测设备的数字信号。自动测试设备510例如可以使用一个或多个数字通道与被测设备530进行交互，自动测试设备510还可以可选地使用数字通道进行测量。此外，测试资源520例如可以包括一个或多个模拟通道，这些模拟通道可例如用于向被测设备530提供一个或多个模拟信号和/或接收来自被测设备530的一个或多个模拟信号。此外，一个或多个模拟通道可选地还可用于进行测量例如以评估从被测设备530接收到的信号。
15、总之，参考图5描述了通过高速io的ocst/功能测试上传和控制。
16、图6示出了通过使用单独控制器进行ocst/功能测试的变体的示意图。
17、图6的布置600是自动测试设备610，包括测试仪资源620和工作站622。此外，根据图6所示的测试布置600中还有被测设备630，可在被测设备上执行ocst测试用例632。
18、然而，除了根据图5所示的测试布置500之外，根据图6的测试布置600还包括例如可以是自动测试设备610的一部分的片上系统测试控制器640。片上系统测试控制器640例如可以使用高速输入输出接口hsio(如usb、pcie或eth)耦接到工作站622。例如，工作站622上执行的ate测试程序624可以经由接口(如经由hsio接口)与ocst控制器640通信，以启动、支持或控制ocst-tc上传和/或执行控制。例如，ate测试程序可向ocst控制器640提供ocst测试用例(tc)的表示，并例如可指示ocst控制器640将所述ocst测试用例上传到被测设备640。随后，ocst控制器640例如可将ocst测试用例上传到被测设备630。此外，ate测试程序624可以与ocst控制器通信(如经由hsio接口)，以控制测试用例的执行。例如，ate测试程序624与ocst控制器640之间的通信可以是双向的(如双向箭头所示)。此外，ocst控制器640可以被配置为与在被测设备630上执行的ocst测试用例632通信，以控制测试用例的执行。例如，ocst控制器640与ocst测试用例632之间的通信可以是双向的(如双向箭头所示)。
19、此外，测试仪本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于测试被测设备(242；260；1930)的自动测试设备(240；280；1910)，
2.根据权利要求1所述的自动测试设备(240；280；1910)，
3.根据权利要求1或2所述的自动测试设备(240；280；1910)，
4.根据权利要求1至3之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
5.根据权利要求1至4之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
6.根据权利要求1至5之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
7.根据权利要求1至5之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
8.根据权利要求1至7之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
9.根据权利要求1至8之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
10.根据权利要求1至9之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
11.根据权利要求1至10之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
12.一种
13.根据权利要求12所述的被测设备(242；260；1930)，
14.根据权利要求12至13之一所述的被测设备(242；260；1930)，
15.一种测试装备(1900)，
16.一种用于操作自动测试设备(240；280；1910)的方法，自动测试设备包括能够受被测设备(242；260；1930)控制的触发线(250；295；1990)，
17.一种用于测试被测设备(242；260；1930)的方法，
18.一种计算机程序，当计算机程序在一台或多台计算机和/或一台或多台微处理器和/或一台或多台微控制器上运行时，用于执行权利要求16或权利要求17的方法。
19.一种用于测试被测设备的自动测试设备(240；280；1920)，
20.一种用于操作自动测试设备(240；280；1990)的方法，自动测试设备包括能够受测试用例(262；19940)控制的触发线(250；295；1990)，
21.一种用于测试被测设备(242；260；1930)的方法，
22.一种计算机程序，当计算机程序在一台或多台计算机和/或一台或多台微处理器和/或一台或多台微控制器上运行时，用于执行权利要求20或权利要求21所述的方法。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于测试被测设备(242；260；1930)的自动测试设备(240；280；1910)，
2.根据权利要求1所述的自动测试设备(240；280；1910)，
3.根据权利要求1或2所述的自动测试设备(240；280；1910)，
4.根据权利要求1至3之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
5.根据权利要求1至4之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
6.根据权利要求1至5之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
7.根据权利要求1至5之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
8.根据权利要求1至7之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
9.根据权利要求1至8之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
10.根据权利要求1至9之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
11.根据权利要求1至10之一所述的自动测试设备(240；280；1910)，
12.一种被测设备(242；260；1930)，
13.根据权利要求12所述的被测设备(24...
【专利技术属性】
技术研发人员：克劳斯迪特·希里格斯，马库斯·布克尔，马库斯·舒尔茨韦斯滕霍斯特，奥拉夫·珀普，托马斯·格罗斯，
申请(专利权)人：爱德万测试集团，
类型：发明
国别省市：
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