System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种核酸扩增方法及核酸扩增装置制造方法及图纸_技高网

一种核酸扩增方法及核酸扩增装置制造方法及图纸

技术编号:43096587 阅读:1 留言:0更新日期:2024-10-26 09:42
本发明专利技术涉及一种核酸扩增方法及核酸扩增装置,核酸扩增方法,包括:对反应样品保持持续制冷,以及通过控制加热机构从而控制反应样品的温度。核酸扩增装置使用如上的核酸扩增方法,核酸扩增装置包括冷却机构和加热机构,加热机构形成有容纳腔,容纳腔为扁平结构。通过对反应样品保持持续制冷以及通过控制加热机构,实现反应样品的保温、快速降温和快速升温,将反应样品升降、降温的过程控制在2.5s内,大大缩短检测时间。容纳腔为扁平结构,设置在容纳腔内的反应样品可以很薄,反应样品表面的温度可以很快传递至中心,从而大大提高反应样品的升温和降温速度。容纳腔直接形成在加热机构上,可以减少传热界面,进一步提高反应样品升温和降温速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医疗,尤其涉及一种核酸扩增方法及核酸扩增装置


技术介绍

1、pcr(聚合酶链式反应)是指体外酶促合成特异dna片段的一种分子生物学实验方法,pcr扩增,即核酸扩增主要由高温变性、低温退火和适温延伸三个步骤反复的热循环构成。

2、现有技术中,核酸检测在高温变性、低温退火和适温延伸三个阶段大约各需要保温10s-20s,一次升温或降温大约需要30s,并需要循环40-50次,整个检测周期大约需要1小时左右。现有的核酸扩增方法需要等待较长的时间,无法满足用户需求。


技术实现思路

1、本专利技术的一个目的在于提出一种核酸扩增方法,以进行核酸扩增。

2、为实现上述目的,本专利技术第一方面提供了一种核酸扩增方法,包括:

3、可选的,包括:

4、对反应样品保持持续制冷,以及

5、通过控制加热机构从而控制反应样品的温度。

6、可选的,包括如下步骤:

7、步骤s0、对反应样品保持持续制冷;

8、步骤s1、升温过程,控制所述加热机构使所述反应样品升温至变性温度或延伸温度;

9、步骤s2、降温过程,控制所述加热机构使所述反应样品降温至退火温度;或

10、包括如下步骤:

11、步骤s0、对样品保持持续制冷;

12、执行步骤s1,使所述反应样品升温至变性温度;

13、s3、高温变性阶段,控制所述加热机构使所述反应样品保持在变性温度第一预设时间

14、执行步骤s2;

15、s4、低温退火阶段,控制所述加热机构使所述反应样品保持在退火温度第二预设时间;

16、循环上述步骤多次直至达到预设循环数或预设扩增水平。

17、可选的,包括如下步骤:

18、执行步骤s1,使所述反应样品升温至变性温度;

19、s3、高温变性阶段,控制所述加热机构使所述反应样品保持在变性温度第一预设时间;

20、执行步骤s2;

21、s4、低温退火阶段,控制所述加热机构使所述反应样品保持在退火温度第二预设时间;

22、执行步骤s1,使所述反应样品升温至延伸温度;

23、s5、适温延伸阶段,控制所述加热机构使所述反应样品保持在延伸温度第三预设时间;

24、循环上述步骤多次直至达到预设循环数或预设扩增水平。

25、可选的,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述反应样品制冷。

26、可选的,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述加热机构制冷,以及所述冷却机构的温度不高于退火温度的最小值。

27、可选的,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述加热机构制冷,以及,在降温过程中,所述冷却机构为第一温度;在升温过程,所述冷却机构为第二温度,在适温延伸阶段,所述冷却机构为第三温度,在高温变性阶段,所述冷却机构为第四温度,所述第二温度、所述第三温度和所述第四温度均不低于所述第一温度。

28、可选的,所述对反应样品保持持续制冷还包括:在所述反应样品降温前,所述冷却机构的温度降至所述第一温度。

29、可选的,所述核酸扩增方法还包括:通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温。

30、可选的,所述通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温包括:

31、通过温度检测单元测量所述加热机构的温度标定值,并通过所述温度标定值校准通过所述加热机构的电阻值获取的温度值。

32、可选的,根据所述温度标定值得到所述加热机构的电阻温度系数和标称电阻值,以校准所述温度值。

33、可选的,在核酸扩增进程前、在核酸扩增进程的第一次升温过程中和/或在核酸扩增进程的第一次扩增循环中测量所述温度标定值。

34、可选的,测量至少两个不等的所述温度标定值,通过所述至少两个不等的所述温度标定值校准所述温度值。

35、可选的,待所述温度检测单元的温度与所述加热机构的温度一致后,读取温度标定值。

36、可选的,所述通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温包括如下步骤:

37、得到至少两个不同的所述温度标定值;检测所述加热机构在所述温度标定值下的第一电压和第一电流,根据所述第一电压和所述第一电流得到所述加热机构的第一电阻;

38、根据至少两个所述第一电阻,得到所述加热机构的电阻系数和标称电阻值;

39、持续检测所述加热机构的电流和电压,根据电阻系数和标称电阻值得到所述加热机构的温度曲线。

40、可选的,根据公式:r=r0(1+αδt)校准所述加热机构的电阻系数和标称电阻值以及通过持续测量所述加热机构的电压和电流,根据所述公式得到所述加热机构的温度曲线,其中,r0是标称电阻值,α是材料的电阻温度系数。

41、可选的,在校准所述温度值前,依据所述电阻测温法检测的温度值控制所述加热机构。

42、可选的,通过控制所述加热机构的热量对冲所述冷却机构的热量,以使所述反应样品升温、降温或保持温度。

43、可选的,通过控制所述加热机构的功率控制所述反应样品的温度。

44、可选的,所述加热机构在升温过程中以高于所述加热机构在降温过程中的功率运行。

45、可选的,所述加热机构在降温过程中停止加热。

46、可选的,所述冷却机构采用固体降温方式或喷射降温方式为所述加热机构和所述反应样品降温。

47、可选的,所述加热机构为脉冲加热、电阻丝加热、半导体加热或者电磁加热。

48、本专利技术的另一个目的在于提供一种核酸扩增装置,以进行核酸扩增。

49、为达此目的,本专利技术第二方面采用以下技术方案:

50、一种核酸扩增装置,执行如上所述的核酸扩增方法,所述核酸扩增装置包括冷却机构和加热机构,所述加热机构形成有容纳腔,所述容纳腔为扁平结构。

51、可选的,所述冷却机构的冷却介质与所述加热机构直接接触进行冷却。

52、可选的,所述加热机构的至少部分上表面,或所述加热机构部分凹陷处的上表面的至少部分作为容纳腔的底壁。

53、可选的,所述加热机构的所述上表面包括均热层,所述均热层与所述容纳腔内的反应样品直接接触。

54、可选的,所述加热机构包括机构本体和所述容纳腔的底壁;

55、所述底壁与所述机构本体的至少部分上表面紧密接触,或所述底壁与所述机构本体部分凹陷处的上表面紧密接触,或

56、所述底壁与所述机构本体之间设置有柔性导热件。

57、可选的,所述容纳腔内设置有至少两个独立的子腔;或所述容纳腔的数量为一个或至少两个。

58、可选的,所述加热机构包括加热体和用于体现所述加热体温度的温度校准部。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种核酸扩增方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,包括如下步骤:

3.根据权利要求2所述的核酸扩增方法,其特征在于,包括如下步骤:

4.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述反应样品制冷。

5.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述加热机构制冷,以及所述冷却机构的温度不高于退火温度的最小值。

6.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述加热机构制冷,以及,在降温过程中,所述冷却机构为第一温度;在升温过程,所述冷却机构为第二温度,在适温延伸阶段,所述冷却机构为第三温度,在高温变性阶段,所述冷却机构为第四温度,所述第二温度、所述第三温度和所述第四温度均不低于所述第一温度。

7.根据权利要求6所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷还包括:在所述反应样品降温前,所述冷却机构的温度降至所述第一温度。

8.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述核酸扩增方法还包括:通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温。

9.根据权利要求8所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温包括:

10.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,根据所述温度标定值得到所述加热机构的电阻温度系数和标称电阻值,以校准所述温度值。

11.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,在核酸扩增进程前、在核酸扩增进程的第一次升温过程中和/或在核酸扩增进程的第一次扩增循环中测量所述温度标定值。

12.根据权利要求11所述的核酸扩增方法,其特征在于,测量至少两个不等的所述温度标定值,通过所述至少两个不等的所述温度标定值校准所述温度值。

13.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,待所述温度检测单元的温度与所述加热机构的温度一致后,读取温度标定值。

14.根据权利要求9-13任意一项所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温包括如下步骤:

15.根据权利要求9-12任意一项所述的核酸扩增方法,其特征在于,根据公式:R=R0(1+αΔT)校准所述加热机构的电阻系数和标称电阻值以及通过持续测量所述加热机构的电压和电流,根据所述公式得到所述加热机构的温度曲线,其中,R0是标称电阻值,α是材料的电阻温度系数。

16.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,在校准所述温度值前,依据所述电阻测温法检测的温度值控制所述加热机构。

17.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,通过控制所述加热机构的热量对冲所述冷却机构的热量,以使所述反应样品升温、降温或保持温度。

18.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,通过控制所述加热机构的功率控制所述反应样品的温度。

19.根据权利要求18所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述加热机构在升温过程中以高于所述加热机构在降温过程中的功率运行。

20.根据权利要求18所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述加热机构在降温过程中停止加热。

21.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述冷却机构采用固体降温方式或喷射降温方式为所述加热机构和所述反应样品降温。

22.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述加热机构为脉冲加热、电阻丝加热、半导体加热或者电磁加热。

23.一种核酸扩增装置,其特征在于,执行权利要求1-22任意一项所述的核酸扩增方法,所述核酸扩增装置包括冷却机构和加热机构,所述加热机构形成有容纳腔,所述容纳腔为扁平结构。

24.根据权利要求23所述的核酸扩增装置,其特征在于,所述冷却机构的冷却介质与所述加热机构直接接触进行冷却。

25.根据权利要求23所述的核酸扩增装置,其特征在于,所述加热机构的至少部分上表面,或所述加热机构部分凹陷处的上表面的至少部分作为容纳腔的底壁。

26.根据权利要求25所述的核酸扩增装置,其特征在于,所述加热机构的所述上表面包括均热层,所述均热层与所述容纳腔内的反应样品直接接触。

27.根据权利要求25所述的核酸扩增装置,其特征在于,所述加热机构包括机构本体和所述容纳腔的底壁;

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【技术特征摘要】

1.一种核酸扩增方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,包括如下步骤:

3.根据权利要求2所述的核酸扩增方法,其特征在于,包括如下步骤:

4.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述反应样品制冷。

5.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述加热机构制冷,以及所述冷却机构的温度不高于退火温度的最小值。

6.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷包括:冷却机构持续对所述加热机构制冷,以及,在降温过程中,所述冷却机构为第一温度;在升温过程,所述冷却机构为第二温度,在适温延伸阶段,所述冷却机构为第三温度,在高温变性阶段,所述冷却机构为第四温度,所述第二温度、所述第三温度和所述第四温度均不低于所述第一温度。

7.根据权利要求6所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述对反应样品保持持续制冷还包括:在所述反应样品降温前,所述冷却机构的温度降至所述第一温度。

8.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述核酸扩增方法还包括:通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温。

9.根据权利要求8所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温包括:

10.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,根据所述温度标定值得到所述加热机构的电阻温度系数和标称电阻值,以校准所述温度值。

11.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,在核酸扩增进程前、在核酸扩增进程的第一次升温过程中和/或在核酸扩增进程的第一次扩增循环中测量所述温度标定值。

12.根据权利要求11所述的核酸扩增方法,其特征在于,测量至少两个不等的所述温度标定值,通过所述至少两个不等的所述温度标定值校准所述温度值。

13.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,待所述温度检测单元的温度与所述加热机构的温度一致后,读取温度标定值。

14.根据权利要求9-13任意一项所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述通过电阻测温法和对所述加热机构的温度进行标定的双测温方式实现测温包括如下步骤:

15.根据权利要求9-12任意一项所述的核酸扩增方法,其特征在于,根据公式:r=r0(1+αδt)校准所述加热机构的电阻系数和标称电阻值以及通过持续测量所述加热机构的电压和电流,根据所述公式得到所述加热机构的温度曲线,其中,r0是标称电阻值,α是材料的电阻温度系数。

16.根据权利要求9所述的核酸扩增方法,其特征在于,在校准所述温度值前,依据所述电阻测温法检测的温度值控制所述加热机构。

17.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,通过控制所述加热机构的热量对冲所述冷却机构的热量,以使所述反应样品升温、降温或保持温度。

18.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,通过控制所述加热机构的功率控制所述反应样品的温度。

19.根据权利要求18所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述加热机构在升温过程中以高于所述加热机构在降温过程中的功率运行。

20.根据权利要求18所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述加热机构在降温过程中停止加热。

21.根据权利要求4所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述冷却机构采用固体降温方式或喷射降温方式为所述加热机构和所述反应样品降温。

22.根据权利要求1所述的核酸扩增方法,其特征在于,所述加热机构为脉冲加热、电阻丝加热、半导体加热或者电磁加热。

23.一种核酸...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐强韦嘉赵蒙徐涛
申请(专利权)人:广州国家实验室
类型:发明
国别省市:

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