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成像系统及其成像方法技术方案

技术编号:43095708 阅读:2 留言:0更新日期:2024-10-26 09:41
本发明专利技术提供一种成像系统及其成像方法。成像系统包括基座、结构成像设备和发射成像设备,结构成像设备和发射成像设备分别设置在基座上;发射成像设备包括导轨和探测环,探测环包括分别滑动连接至导轨的第一弧形探测部和第二弧形探测部,第一弧形探测部和第二弧形探测部相互间至少在第一配合状态与第二配合状态之间可切换;其中,第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态下,探测环处于闭环状态,结构成像设备处于关闭状态;第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第二配合状态下,探测环处于开环状态,结构成像设备处于开启状态。这样的成像系统中,结构成像设备和发射成像设备之间的相互干扰可以更少。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医学成像,具体地,涉及一种成像系统及其成像方法


技术介绍

1、医学成像系统可以作为一种医疗辅助手段用于诊断和治疗。为了获得更好的成像效果,成像系统通常可以包括多种成像设备,多种成像设备可以串行成像。这样的成像系统可以融合多种成像设备的优势,从而成像效果可以更好。

2、现有的成像系统通常包括结构成像设备和发射成像设备,这样的成像系统可以融合发射成像设备的成像优势和结构成像设备的成像优势。但是,现有的成像系统中的结构成像设备和发射成像设备在成像过程中存在相互干扰。


技术实现思路

1、为了至少部分地解决现有技术中存在的问题,根据本专利技术的一个方面,提供一种成像系统。成像系统包括基座、结构成像设备和发射成像设备,结构成像设备和发射成像设备分别设置在基座上;发射成像设备包括导轨和探测环,探测环包括分别滑动连接至导轨的第一弧形探测部和第二弧形探测部,第一弧形探测部和第二弧形探测部相互间至少在第一配合状态与第二配合状态之间可切换;其中,第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态下,探测环处于闭环状态,结构成像设备处于关闭状态;第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第二配合状态下,探测环处于开环状态,结构成像设备处于开启状态。

2、本专利技术所提供的成像系统中,通过第一弧形探测部和第二弧形探测部相互间在第一配合状态与第二配合状态之间切换,可以实现探测环在开环状态和闭环状态之间切换。探测环处于开环状态时,发射成像设备不参与成像,而结构成像设备可以处于开启状态,此时利用结构成像设备对待检体进行探测时,由于探测环处于开环状态,第一弧形探测部和第二弧形探测部均可以距离结构成像设备较远,也就有效降低了发射成像设备对结构成像设备成像时的干扰。探测环处于闭环状态下时,结构成像设备可以处于关闭状态,发射成像设备可以对待检体进行探测,而此时由于结构成像设备处于关闭状态,也就有效降低了结构成像设备对发射成像设备成像时的干扰。因此这样的成像系统中,结构成像设备和发射成像设备之间的相互干扰可以更少。另外,探测环处于开环状态下时,待检体可以进入接受探测位置,例如可以躺卧于探测环的中部,探测环处于闭环状态下时,可以对待检体上位于探测环中的部分进行探测,也就可以实现对待检体局部器官的探测。这样的发射成像设备在使用时,由于探测环可以在开环状态和闭环状态之间切换,待检体可以轻松进入探测环内以接受探测,因此,探测环可以设计成更小的尺寸,这样的探测环具有更小的探测孔径,也就可以实现更高的成像分辨率,对于局部器官的成像效果可以更好。在此基础上,这样的发射成像设备可以实现轻量化设计,整体设备的体积和成本都可以更低。这样的发射成像设备应用于与其他结构成像设备串行成像时也可以更加方便,因此这样的成像系统可以更加易于实现。

3、示例性地,第一弧形探测部包括滑动连接至导轨的第一连接端,第二弧形探测部包括滑动连接至导轨的第二连接端;其中,第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态下时,第一连接端至少部分抵靠第二连接端;第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第二配合状态下时,第一连接端与第二连接端间隔开。

4、示例性地,第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态下时,第一连接端连接至第二连接端。

5、示例性地,第一弧形探测部包括远离第一连接端的第一自由端,第二弧形探测部包括远离第二连接端的第二自由端;其中,第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态下时,第一自由端可拆卸连接至第二自由端;第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第二配合状态下时,第一自由端与第二自由端间隔开。

6、示例性地,第一自由端上设置有卡接部,第二自由端上设置有卡接配合部,第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态下时,卡接部与卡接配合部形成卡接配合。

7、示例性地,探测环处于闭环状态时,探测环具有探测孔径d,探测孔径d不大于50cm。

8、示例性地,第一弧形探测部与第二弧形探测部均呈半圆环状。

9、示例性地,结构成像设备包括核磁共振成像设备。

10、示例性地,结构成像设备包括ct成像设备。

11、根据本专利技术的另一个方面,提供一种成像方法。成像方法应用于如上文所述中的任一种成像系统,成像方法包括:

12、第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第一配合状态;

13、探测环对待检体进行探测;

14、第一弧形探测部与第二弧形探测部相互间切换至第二配合状态;

15、结构成像设备对待检体进行探测。

16、在
技术实现思路
中引入了一系列简化形式的概念,这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本
技术实现思路
部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征,更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。

17、以下结合附图,详细说明本专利技术的优点和特征。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种成像系统,其特征在于,包括基座、结构成像设备和发射成像设备,所述结构成像设备和所述发射成像设备分别设置在所述基座上;

2.根据权利要求1所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部包括滑动连接至所述导轨的第一连接端,所述第二弧形探测部包括滑动连接至所述导轨的第二连接端;

3.根据权利要求2所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部与所述第二弧形探测部相互间切换至所述第一配合状态下时,所述第一连接端连接至所述第二连接端。

4.根据权利要求2所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部包括远离所述第一连接端的第一自由端,所述第二弧形探测部包括远离所述第二连接端的第二自由端;

5.根据权利要求4所述的成像系统,其特征在于,所述第一自由端上设置有卡接部,所述第二自由端上设置有卡接配合部,所述第一弧形探测部与所述第二弧形探测部相互间切换至所述第一配合状态下时,所述卡接部与所述卡接配合部形成卡接配合。

6.根据权利要求1所述的成像系统,其特征在于,所述探测环处于闭环状态时,所述探测环具有探测孔径D,所述探测孔径D不大于50cm。

7.根据权利要求1所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部与所述第二弧形探测部均呈半圆环状。

8.根据权利要求1所述的成像系统,其特征在于,所述结构成像设备包括核磁共振成像设备。

9.根据权利要求1所述的成像系统,其特征在于,所述结构成像设备包括CT成像设备。

10.一种成像方法,其特征在于,所述成像方法应用于如权利要求1-9中任一项所述的成像系统,所述成像方法包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种成像系统,其特征在于,包括基座、结构成像设备和发射成像设备,所述结构成像设备和所述发射成像设备分别设置在所述基座上;

2.根据权利要求1所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部包括滑动连接至所述导轨的第一连接端,所述第二弧形探测部包括滑动连接至所述导轨的第二连接端;

3.根据权利要求2所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部与所述第二弧形探测部相互间切换至所述第一配合状态下时,所述第一连接端连接至所述第二连接端。

4.根据权利要求2所述的成像系统,其特征在于,所述第一弧形探测部包括远离所述第一连接端的第一自由端,所述第二弧形探测部包括远离所述第二连接端的第二自由端;

5.根据权利要求4所述的成像系统,其特征在于,所述第一自由端上设置有卡接部...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭旗宇侍大为张义彬赵慧萍陶进勇刘涵赵智钧梁达邹灏煜朱文静于昕曾家旸
申请(专利权)人:深圳湾实验室
类型:发明
国别省市:

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