【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体元件检测，尤其涉及一种半导体元件检测用转运机构。
技术介绍
1、近年来，随着半导体元器件市场竞争越来越激烈，对半导体元件的出厂品质的监控也越来越严格，因此对半导体元件的检测提出了新的要求，在半导体进行检测，需要将载盘上的半导体元件转运到转盘上检测，因此会使用到半导体元件检测用转运机构。
2、现有的部分半导体元件检测用转运机构，需要人工拿取半导体元件到检测区域进行检测再分类，分成合格和不合格产品，若在大批量生产的情况下，人工操作会导致生产效率的降低，并且会增加工人的劳动强度。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体元件检测用转运机构，旨在改善现有技术中人工拿取半导体元件进行检测操作导致生产效率低的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：
3、一种半导体元件检测用转运机构，包括支撑底座和连接带，所述支撑底座的内部后侧开设有连动槽，所述支撑底座的后侧左侧固定连接有限定槽，所述限定槽的驱动端固定连接有电机一，所述电机一的中部固定连接有转件所述转件的外部啮合连接有主动齿轮，所述主动齿轮的外部固定连接有链条带，所述链条带的外部开设有多个放置槽，所述主动齿轮的内部右端啮合连接有从动齿轮杆，所述电机一的外部后侧滑动连接有皮带，所述皮带的内部左侧转动连接有传动件，所述传动件的中部后侧固定连接有主动锥齿轮，所述支撑底座的顶端左侧转动连接有连杆，所述连杆的底端固定连接有从动锥齿轮，所述连杆的外部顶
4、进一步地，所述支撑底座的顶端左侧固定连接有总控器，所述总控器的右侧固定连接有防护罩，所述总控器的右侧固定连接有支撑板，所述支撑板的前后端均固定连接有电机二，所述电机二的驱动端固定连接有主动圆轮，所述支撑板的右侧开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块的右侧固定连接有辅助块，所述辅助块的右侧前后两侧均固定连接有定位块，所述定位块的外部转动连接有从动圆轮一，所述辅助块的右侧槽内滑动连接有活动块，所述活动块的右侧顶端固定连接有固定柱，所述固定柱的外部转动连接有从动圆轮二。
5、进一步地，所述限位组件包括送料架、限位槽一、限位槽二，所述送料架的前侧底端固定连接在所述支撑底座的顶端前侧，所述限位槽一开设在所述送料架的后侧右端，所述限位槽二开设在所述送料架的后侧右端。
6、进一步地，所述电机一的外部转动连接在所述联动槽的内壁，所述传动件的前后两端转动连接在所述支撑底座的内部前后两侧，所述从动齿轮杆的前后两侧转动连接在所述支撑底座的内部前后两侧，所述卡块一的左端上下两侧滑动连接在所述限位槽二的内壁，所述卡块二的左端上下两侧滑动连接在所述限位槽一的内壁。
7、进一步地，所述电机二的外部固定连接在所述防护罩的左侧前后两端，所述活动块的右侧固定连接有拾取器。
8、进一步地，所述支撑底座顶端左侧固定连接有双向电机，所述双向电机的前后驱动端均固定连接有传送带，所述传送带的前后两侧右端转动连接在所述限定槽的内壁前后两侧。
9、进一步地，所述连接带套设在所述主动圆轮的外部，所述连接带套设在所述从动圆轮一的外部。
10、进一步地，所述连接带套设在所述从动圆轮二的外部，所述连接带的底端固定连接在所述活动块的底端顶部，所述支撑底座的顶端中部固定连接有扫描器。
11、本技术具有如下有益效果：
12、1、本技术中，本技术中，通过电机一、链条带、从动齿轮杆、转件、卡块二等结构的配合下，实现了自动送料进行检测，有效加速半导体元件的转运过程，从而提高生产线的整体速度。
13、2、本技术中，通过总控器、连接带、拾取器、从动圆轮二、活动块等结构的配合下，实现了自动识别合格和不合格半导体元件进行分类，从而大大提高生产线的效率。
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1.一种半导体元件检测用转运机构，包括支撑底座(1)和连接带(33)，其特征在于：所述支撑底座(1)的内部后侧开设有连动槽(2)，所述支撑底座(1)的后侧左侧固定连接有限定槽(3)，所述限定槽(3)的驱动端固定连接有电机一(4)，所述电机一(4)的中部固定连接有转件(5)所述转件(5)的外部啮合连接有主动齿轮(6)，所述主动齿轮(6)的外部固定连接有链条带(7)，所述链条带(7)的外部开设有多个放置槽(8)，所述主动齿轮(6)的内部右端啮合连接有从动齿轮杆(9)，所述电机一(4)的外部后侧滑动连接有皮带(10)，所述皮带(10)的内部左侧转动连接有传动件(11)，所述传动件(11)的中部后侧固定连接有主动锥齿轮(12)，所述支撑底座(1)的顶端左侧转动连接有连杆(13)，所述连杆(13)的底端固定连接有从动锥齿轮(14)，所述连杆(13)的外部顶端固定连接有卡块一(15)，所述连杆(13)的顶端固定连接有卡块二(16)，所述支撑底座(1)的顶端前侧固定连接有限位组件。
2.根据权利要求1所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述支撑底座(1)的顶端左侧固定连
3.根据权利要求1所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述限位组件包括送料架(17)、限位槽一(18)、限位槽二(19)，所述送料架(17)的前侧底端固定连接在所述支撑底座(1)的顶端前侧，所述限位槽一(18)开设在所述送料架(17)的后侧右端，所述限位槽二(19)开设在所述送料架(17)的后侧右端。
4.根据权利要求3所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述电机一(4)的外部转动连接在所述连动槽(2)的内壁，所述传动件(11)的前后两端转动连接在所述支撑底座(1)的内部前后两侧，所述从动齿轮杆(9)的前后两侧转动连接在所述支撑底座(1)的内部前后两侧，所述卡块一(15)的左端上下两侧滑动连接在所述限位槽二(19)的内壁，所述卡块二(16)的左端上下两侧滑动连接在所述限位槽一(18)的内壁。
5.根据权利要求2所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述电机二(23)的外部固定连接在所述防护罩(21)的左侧前后两端，所述活动块(30)的右侧固定连接有拾取器(34)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述支撑底座(1)顶端左侧固定连接有双向电机(35)，所述双向电机(35)的前后驱动端均固定连接有传送带(36)，所述传送带(36)的前后两侧右端转动连接在所述限定槽(3)的内壁前后两侧。
7.根据权利要求2所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述连接带(33)套设在所述主动圆轮(24)的外部，所述连接带(33)套设在所述从动圆轮一(29)的外部。
8.根据权利要求2所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述连接带(33)套设在所述从动圆轮二(32)的外部，所述连接带(33)的底端固定连接在所述活动块(30)的底端顶部，所述支撑底座(1)的顶端中部固定连接有扫描器(37)。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体元件检测用转运机构，包括支撑底座(1)和连接带(33)，其特征在于：所述支撑底座(1)的内部后侧开设有连动槽(2)，所述支撑底座(1)的后侧左侧固定连接有限定槽(3)，所述限定槽(3)的驱动端固定连接有电机一(4)，所述电机一(4)的中部固定连接有转件(5)所述转件(5)的外部啮合连接有主动齿轮(6)，所述主动齿轮(6)的外部固定连接有链条带(7)，所述链条带(7)的外部开设有多个放置槽(8)，所述主动齿轮(6)的内部右端啮合连接有从动齿轮杆(9)，所述电机一(4)的外部后侧滑动连接有皮带(10)，所述皮带(10)的内部左侧转动连接有传动件(11)，所述传动件(11)的中部后侧固定连接有主动锥齿轮(12)，所述支撑底座(1)的顶端左侧转动连接有连杆(13)，所述连杆(13)的底端固定连接有从动锥齿轮(14)，所述连杆(13)的外部顶端固定连接有卡块一(15)，所述连杆(13)的顶端固定连接有卡块二(16)，所述支撑底座(1)的顶端前侧固定连接有限位组件。
2.根据权利要求1所述的一种半导体元件检测用转运机构，其特征在于：所述支撑底座(1)的顶端左侧固定连接有总控器(20)，所述总控器(20)的右侧固定连接有防护罩(21)，所述总控器(20)的右侧固定连接有支撑板(22)，所述支撑板(22)的前后端均固定连接有电机二(23)，所述电机二(23)的驱动端固定连接有主动圆轮(24)，所述支撑板(22)的右侧开设有滑槽(25)，所述滑槽(25)的内部滑动连接有滑块(26)，所述滑块(26)的右侧固定连接有辅助块(27)，所述辅助块(27)的右侧前后两侧均固定连接有定位块(28)，所述定位块(28)的外部转动连接有从动圆轮一(29)，所述辅助块(27)的右侧槽内滑动连接有活动块(30)，所述活动块(30)的右侧顶端固定连接有固定柱(31)，所述固定柱(31)的外部转动连接有从动圆轮二(32)。
<...【专利技术属性】
技术研发人员：谢江林，
申请(专利权)人：深圳市中天达精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：
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