【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及校核测力传感器，特别涉及一种测力传感器的校核装置和校核方法。
技术介绍
1、桥梁支座作为桥梁结构重要构件，实时动态的监测桥梁支座受力状态的变化至关重要，测力传感器是实现这个目标的重要因素。测力传感器的性能受到使用环境及时间的影响，测力传感器性能的退化会引起测量结果的误差，其测量误差的累计对监测结果有着明显影响。
2、对测力传感器定期进行校核是保证测量结果准确的重要措施。目前，对于测力传感器的校核方法，通常是通过将桥测力传感器从桥梁支座上拆下，然后将测力传感器带至实验室中，通过加载试验机对测力传感器施加荷载，并通过比较测力传感器检测到的荷载和加载试验机施加的荷载，以对测力传感器进行校核。目前的校核方法需要将测力传感器从桥梁支座上拆下，并需将测力传感器带回实验室，繁琐不便，且耗时较长。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种测力传感器的校核装置和校核方法，旨在解决测力传感器的校核方法繁琐不便，且耗时较长的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提出的测力传感器的校核装置，所述测力传感器用于监测桥梁支座的受力状态，所述校核装置包括：
3、基座；
4、检测组件，所述检测组件包括弹性导体、输入线和输出线，所述弹性导体设置于所述基座上方并与所述基座之间形成空腔，所述弹性导体的顶部形成有用于放置所述测力传感器的放置位，所述弹性导体的两端分别通过所述输入线与所述输出线与所述电源连接，使所述电源、所述弹性导体、所述输入线和所述
5、加载机构，所述加载机构用于向放置于所述放置位的所述测力传感器施加向下的荷载。
6、在一实施方式中，所述基座上设置有安装壁，所述安装壁和所述基座围合形成校核腔，所述加载机构安装于所述安装壁，所述弹性导体、所述输入线和所述输出线均设置于所述校核腔内，所述空腔位于所述校核腔内，所述安装壁的顶部形成有与所述校核腔连通的插口，所述插口对应所述放置位设置，所述插口供所述测力传感器插入所述校核腔。
7、在一实施方式中，所述加载机构包括升降结构和限位结构，所述升降结构可升降地设置于所述安装壁的顶部，所述升降结构用于向下推动所述测力传感器，以向放置于所述放置位的所述测力传感器施加向下的荷载，所述限位结构设置于所述升降结构，所述限位结构用于与所述测力传感器抵接配合，以对所述测力传感器进行限位。
8、在一实施方式中，所述升降结构包括升降板，所述升降板可升降地设置于所述安装壁的顶部，所述升降板开设有用于供所述测力传感器穿过的通孔，所述升降板用于向下推动所述测力传感器；
9、所述限位结构包括多个限位块，多个限位块环绕所述通孔间隔设置于所述升降板的底部并围合形成限位腔，所述测力传感器能伸入所述限位腔内，多个所述限位块均用于与伸入所述限位腔内的所述测力传感器抵接配合，以对所述测力传感器进行限位。
10、在一实施方式中，所述电源包括电池和开关，所述电池和所述开关安装于所述基座，所述弹性导体的两端分别通过所述输入线和所述输出线与所述电池连接，所述开关设置于所述输出线或所述输入线并用于通断所述检测回路。
11、在一实施方式中，所述检测组件还包括电流表，所述电流表设置于所述输出线或所述输入线。
12、本专利技术还提出一种测力传感器的校核方法，所述校核方法包括：
13、将校核装置设置于所述桥梁支座上；其中所述校核装置应用上述的测力传感器的校核装置；
14、将测力传感器放置于所述校核装置的弹性导体上；
15、通过所述校核装置的加载结构向所述测力传感器施加向下的荷载，获取所述测力传感器测量到的第一荷载值，并获取所述检测回路的电流值；
16、根据所述电流值获得第二荷载值；
17、比较第一荷载值和所述第二荷载值，获得比对结果；
18、根据比对结果对所述测力传感器进行校核。
19、在一实施方式中，所述根据所述电流值获得第二荷载值的步骤包括；
20、将所述电流值代入第一公式，并根据所述第一公式获得所述第二荷载值；其中，第一公式为i为电流值，f为第二荷载值，a和b均为常数。
21、在一实施方式中，在将所述电流值代入第一公式，并根据所述第一公式获得所述第二荷载的步骤之前，还包括：
22、向所述弹性导体施加标准荷载，并获取检查回路中的标准电流值；
23、将所述标准电流值作为所述电流值，并将所述标准荷载值作为所述第二荷载值代入所述第一公式，以计算得出a和b。
24、在一实施方式中，所述比较第一荷载值和所述第二荷载值，获得比对结果的步骤包括：
25、根据所述第一荷载值与所述第二荷载值的比值，获得校核系数c；
26、所述根据比对结果对测力传感器进行校核的步骤包括：
27、根据第二公式对第二荷载进行校核，获得校核荷载，完成对测力传感器的校核；其中，第二公式为f1＝c*f，f1为校核荷载。
28、本专利技术的技术方案通过在需要校核测力传感器时，将校核装置放置于桥梁支座上，再将测力传感器放置于校核装置内的弹性导体上，通过加载机构向测力传感器上施加向下的荷载，测力传感器可测量得到第一荷载值，并测量检测回路中的电流，可以获得检测回路中的电流值。由于作用于测力传感器的荷载被传递至弹性导体上，弹性导体在受到向下的荷载的作用下会产生形变，导致弹性导体的电阻发生变化，故可根据电流值计算获得第二荷载值，计算获得的第二荷载值即可以视作为测力传感器受到荷载的荷载值。通过比较第一荷载值和第二荷载值，获得比对结果，根据比对结果便可对测力传感器进行校核。通过本专利技术测力传感器的校核方法可在桥梁支座上对测力传感器进行校核，无需将测力传感器从桥梁支座上拆下并带至实验室进行校核，简单方便，耗时较短。
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1.一种测力传感器的校核装置，其特征在于，所述测力传感器用于监测桥梁支座的受力状态，所述校核装置包括：
2.如权利要求1所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，所述基座上设置有安装壁，所述安装壁和所述基座围合形成校核腔，所述加载机构安装于所述安装壁，所述弹性导体、所述输入线和所述输出线均设置于所述校核腔内，所述空腔位于所述校核腔内，所述安装壁的顶部形成有与所述校核腔连通的插口，所述插口对应所述放置位设置，所述插口供所述测力传感器插入所述校核腔。
3.如权利要求2所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，所述加载机构包括升降结构和限位结构，所述升降结构可升降地设置于所述安装壁的顶部，所述升降结构用于向下推动所述测力传感器，以向放置于所述放置位的所述测力传感器施加向下的荷载，所述限位结构设置于所述升降结构，所述限位结构用于与所述测力传感器抵接配合，以对所述测力传感器进行限位。
4.如权利要求3所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，
5.如权利要求1至4中任一项所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，所述电源包括电池和开关，所述电池和所述
6.如权利要求1至4中任一项所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，所述检测组件还包括电流表，所述电流表设置于所述输出线或所述输入线。
7.一种测力传感器的校核方法，其特征在于，所述校核方法包括步骤：
8.如权利要求1所述的测力传感器的校核方法，其特征在于，所述根据所述电流值获得第二荷载值的步骤包括；
9.如权利要求8所述的测力传感器的校核方法，其特征在于，在将所述电流值代入第一公式，并根据所述第一公式获得所述第二荷载的步骤之前，还包括：
10.如权利要求8所述的测力传感器的校核方法，其特征在于，所述比较第一荷载值和所述第二荷载值，获得比对结果的步骤包括：
...【技术特征摘要】
1.一种测力传感器的校核装置，其特征在于，所述测力传感器用于监测桥梁支座的受力状态，所述校核装置包括：
2.如权利要求1所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，所述基座上设置有安装壁，所述安装壁和所述基座围合形成校核腔，所述加载机构安装于所述安装壁，所述弹性导体、所述输入线和所述输出线均设置于所述校核腔内，所述空腔位于所述校核腔内，所述安装壁的顶部形成有与所述校核腔连通的插口，所述插口对应所述放置位设置，所述插口供所述测力传感器插入所述校核腔。
3.如权利要求2所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，所述加载机构包括升降结构和限位结构，所述升降结构可升降地设置于所述安装壁的顶部，所述升降结构用于向下推动所述测力传感器，以向放置于所述放置位的所述测力传感器施加向下的荷载，所述限位结构设置于所述升降结构，所述限位结构用于与所述测力传感器抵接配合，以对所述测力传感器进行限位。
4.如权利要求3所述的测力传感器的校核装置，其特征在于，
...【专利技术属性】
技术研发人员：崔梦琳，宋鹏杰，陈师节，徐浩，梁缄鑫，谢忻，史鸣，翟丹彦，
申请(专利权)人：中铁二十局集团南方工程有限公司，
类型：发明
国别省市：
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