【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电阻扎针测试，尤其涉及一种电阻测试方法、设备、存储介质以及程序产品。
技术介绍
1、在相关技术中，测量电阻的温度系数时，通常是通过人眼确定扎针的位置后，再控制测试探针对待测试电阻进行扎针测试。但人工定位的方式难以保证扎针位置的准确性，会影响待测试电阻的温度系数测量结果的准确度。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种电阻测试方法、设备、存储介质以及程序产品，旨在解决相关技术中电阻测试准确度较低的技术问题。
2、为实现上述目的，本申请提出一种电阻测试方法，包括：
3、获取待测试电阻的电阻图像和测试针座的针孔图像；测试针座上设置有针孔，针孔用于放置用于电阻测试的测试探针；
4、基于电阻图像，确定出待测试电阻的电阻位置信息；
5、基于针孔图像，确定出针孔位置信息；
6、基于电阻位置信息和针孔位置信息，调整测试针座的位置，以使测试探针对准待测试电阻进行电阻扎针测试。
7、在一实施例中，基于电阻图像，确定出待测试电阻的电阻位置信息的步骤包括：
8、基于电阻标准图像对电阻图像进行灰度匹配，确定待测试电阻图像中的电阻区域图像；
9、提取电阻区域图像的边缘轮廓；
10、基于边缘轮廓，确定电阻位置信息；电阻位置信息包括待测试电阻的放置角度信息。
11、在一实施例中，基于边缘轮廓，确定电阻位置信息的步骤之后还包括：
12、对电阻区域图像进行二值化处理，获
13、提取电阻区域二值图像中的电极区域轮廓；
14、对电极区域轮廓进行矩阵拟合，获得电极拟合模型；
15、基于电极拟合模型，确定待测试电阻的电极几何参数；电极几何参数包括电极长度和电极宽度；
16、基于电极几何参数，修正电阻位置信息。
17、在一实施例中，待测试电阻放置于载物盘；测试针座包括设置于载物盘一侧的第一测试针座和设置于载物盘另一侧的第二测试针座；针孔图像包括第一测试针座的第一针孔图像和第二测试针座的第二针孔图像；
18、基于针孔图像，确定出针孔位置信息的步骤包括：
19、基于第一针孔标准图像对第一针孔图像进行灰度匹配，确定第一针孔的位置信息；
20、基于第二针孔标准图像对第二针孔图像进行灰度匹配，确定第二针孔的位置信息。
21、在一实施例中，基于电阻位置信息和针孔位置信息，调整测试针座的位置的步骤包括：
22、基于第一针孔的位置信息和第二针孔的位置信息，确定第一针孔和第二针孔之间的针孔差值信息；
23、基于针孔差值信息和电阻位置信息，调整测试针座的位置。
24、在一实施例中，针孔差值信息包括第一针孔和第二针孔之间的角度信息；
25、基于针孔差值信息和电阻位置信息，调整测试针座的位置的步骤包括：
26、基于角度信息和待测试电阻的放置角度信息之间的差值，调整测试针座的位置或载物盘的位置，以使待测试电阻、第一针孔和第二针孔处于同一竖直平面上。
27、在一实施例中，针孔差值信息包括第一针孔和第二针孔之间的距离信息；电阻位置信息包括电极距离信息；
28、基于针孔差值信息和电阻位置信息，调整测试针座的位置的步骤还包括：
29、基于距离信息和电极距离信息，调整测试针座的位置。
30、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种电阻测试设备，该设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，计算机程序配置为实现如上述的电阻测试方法的步骤。
31、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种存储介质，该存储介质为计算机可读存储介质，存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的电阻测试方法的步骤。
32、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的电阻测试方法的步骤。
33、本申请提出的一个或多个技术方案，至少具有以下技术效果：
34、本申请提供的电阻测试方法中，可以获取待测试电阻的电阻图像和测试针座的针孔图像；其中，测试针座上设置有针孔，针孔用于放置用于电阻测试的测试探针；基于电阻图像，可以确定出待测试电阻的电阻位置信息；基于针孔图像，可以确定出针孔位置信息；由此可以基于电阻位置信息和针孔位置信息，调整测试针座的位置，以使测试探针对准待测试电阻进行电阻扎针测试。
35、本申请可以通过测试时的电阻图像和针孔图像，确定出较为准确的电阻位置信息和针孔位置信息，由此可以根据上述信息自动调整测试针座的位置，以确保测试探针能够正确地接触到电阻测试点，减少了人工定位可能引起的对准误差，可以有效提升电阻测试的准确度。
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1.一种电阻测试方法，其特征在于，所述电阻测试方法包括：
2.如权利要求1所述的电阻测试方法，其特征在于，所述基于所述电阻图像，确定出所述待测试电阻的电阻位置信息的步骤包括：
3.如权利要求2所述的电阻测试方法，其特征在于，所述基于所述边缘轮廓，确定所述电阻位置信息的步骤之后还包括：
4.如权利要求3所述的电阻测试方法，其特征在于，所述待测试电阻放置于载物盘；所述测试针座包括设置于所述载物盘一侧的第一测试针座和设置于所述载物盘另一侧的第二测试针座；所述针孔图像包括所述第一测试针座的第一针孔图像和所述第二测试针座的第二针孔图像；
5.如权利要求4所述的电阻测试方法，其特征在于，所述基于所述电阻位置信息和所述针孔位置信息，调整所述测试针座的位置的步骤包括：
6.如权利要求5所述的电阻测试方法，其特征在于，所述针孔差值信息包括所述第一针孔和所述第二针孔之间的角度信息；
7.如权利要求6所述的电阻测试方法，其特征在于，所述针孔差值信息包括所述第一针孔和所述第二针孔之间的距离信息；所述电阻位置信息包括电极距离信息；p>
8.一种电阻测试设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的电阻测试方法的步骤。
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的电阻测试方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的电阻测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种电阻测试方法，其特征在于，所述电阻测试方法包括：
2.如权利要求1所述的电阻测试方法，其特征在于，所述基于所述电阻图像，确定出所述待测试电阻的电阻位置信息的步骤包括：
3.如权利要求2所述的电阻测试方法，其特征在于，所述基于所述边缘轮廓，确定所述电阻位置信息的步骤之后还包括：
4.如权利要求3所述的电阻测试方法，其特征在于，所述待测试电阻放置于载物盘；所述测试针座包括设置于所述载物盘一侧的第一测试针座和设置于所述载物盘另一侧的第二测试针座；所述针孔图像包括所述第一测试针座的第一针孔图像和所述第二测试针座的第二针孔图像；
5.如权利要求4所述的电阻测试方法，其特征在于，所述基于所述电阻位置信息和所述针孔位置信息，调整所述测试针座的位置的步骤包括：
6.如权利要求5所述的电阻测试方法，其特征在于，所述针孔...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭仲生，杜春，杨永军，罗伟，窦国珍，
申请(专利权)人：成都云绎智创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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