【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成运算放大器测试的，具体涉及一种集成运算放大器的通用自动化测试系统。
技术介绍
1、集成电路的设计专业性强、复杂程度高、迭代速度快，具有较高的技术门槛。集成电路包括有模拟集成电路和数字集成电路，其中模拟集成电路主要用于处理模拟信号，包括有数模转换芯、放大器芯片、电源管理芯片等等。集成运算放大器简称集成运放，是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。随着集成电路产业的快速发展，模拟芯片尤其是集成运算放大器这类核心元件在电子产品中的应用日益广泛，因而对其性能指标的要求也越来越高。
2、然而在集成运算放大器的生产过程中，对每一个集成运算放大器产品进行全面而精确的测试是保障产品质量的关键环节。通常传统测试方法仍然依赖手动操作，其测试流程复杂、耗时长，并且在面对众多性能参数时容易出现效率低下、精度受限等问题。尤其在大规模生产和快速产品迭代的背景下，人力密集的手动测试方式已无法满足现代工业生产的效率和精度要求。并且不同测试工程师之间因测试流程不统一带来的测试结果一致性差，以及缺乏针对不同厂商、不同型号运放的通用自动化测试平台，也阻碍了产品的快速选型与评估。
3、另外，现阶段也出现了使用ate测试台来完成集成电路的测试。ate测试台是一种用于测试电子设备的系统，它可以自动执行测试程序并将测试结果与预期结果进行比较。ate测试台的优势较为明显，其测试准确度高以及测试覆盖范围广。但其缺点也是不容忽视的，比如ate测试台的成本非常高昂、灵活性较差以及测试执行时间长，将会大大影响生产效率。因此，开发一种
技术实现思路
1、本专利技术的内容部分用于以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。本专利技术的内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。
2、针对现有技术中存在的问题与不足，本专利技术提供一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，通过构建包含pc机的上位机结构，以及包含测试主电路、下位机结构和辅助仪表结构的测试电路板，即组成了通用模拟集成芯片的自动化测试系统。实现了测试项目的自动加载、测试信号的智能发送和接收、以及结果的自动处理和存储，极大提高了测试效率和准确性，同时也降低了测试过程中的错误率和人工干预。用以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
3、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构，所述上位机结构包括pc机以及与其连接的dc电源模块、信号发生器、源表和数字i/o模块，所述测试电路板包括测试主电路和下位机结构，所述下位机结构包括达林顿晶体管阵列、电平转换器和逻辑译码器，所述测试主电路连接待测芯片对其进行测试；所述dc电源模块连接所述测试主电路用于向其供电，所述源表和信号发生器连接所述测试主电路用于向其提供电压和电流信号，所述数字i/o模块通过所述下位机结构连接所述测试主电路，用于将提供的数字信号经过所述下位机结构，由所述下位机结构控制所述测试主电路选择所述待测芯片的性能测试项目，所述测试主电路的输出信号再通过辅助仪表结构采集送给所述pc机。
4、优选的，所述dc电源模块通过电源滤波器连接所述测试主电路。通过针对于电源滤波器的设计，减少了电源波动对测试结果的影响，有助于提高测试数据的精度，特别是对电源抑制比等敏感参数的测量方面。
5、优选的，所述测试主电路包括电阻、电容和辅助运算放大器，它们与所述测试主电路的输出、输入端分别通过连接继电器开关控制；所述待测芯片的反向输入端串联的电阻r7和r1与正向输入端串联的电阻r8和r2连接后接所述测试主电路的输入端；所述待测芯片的输出端串联电阻r13后连接所述辅助运算放大器的正向输入端，其反相输入端连接电阻r14后分别接地和基准电压端，所述辅助运算放大器的输出端连接所述测试主电路的输出端。
6、优选的，所述待测芯片dut输出端分别串联负载电阻r11和r12、负载电容c4、c5和c6后接地。测试操作人员可以根据待测芯片带负载能力的需求闭合相应的继电器开关，以控制负载电阻r11和r12和负载电容c4、c5和c6实现达到。
7、优选的，所述达林顿晶体管阵列与所述测试主电路中的所述继电器开关连接，每个所述达林顿晶体管阵列包括两个达林顿晶体管。通过两个达林顿晶体管能够保证磁保持继电器正常的置位和复位。
8、优选的，所述电源滤波器包括电感、电容和二极管，所述电源滤波器的输入、输出端串联连接电感，而其输入、输出端并联连接电容和二极管后接地。电源滤波器的输入端、输出端分别用于接收电源输入、输出的信号，电容和二极管串联后并联在输入端和输出端之间。通过将输入端并联一个二极管，其目的是能够防止电源线反接和限幅的作用。且电感和电容能够构成一阶rc滤波器，即可以有效减少电源纹波和噪声。
9、优选的，所述上位机结构、下位机结构、辅助仪表结构与测试主电路之间均通过接线端子连接，所述接线端子包括射频同轴线母座、射频同轴线、螺钉式接线端子、单股铜线。bnc射频同轴线母座连接射频同轴线具有屏蔽、抗寄生的作用，用于输入输出弱驱动电流和ac信号。螺钉式接线端子具有易插拔、可带动大负载以及提供大电流的特点，能够用于连接dc电源模块和源表。
10、优选的，所述待测芯片的测试座连接在所述测试电路板上，所述待测芯片通过芯片底座接入所述测试座，所述芯片底座采用2.54*6的母排、dip-12的底座。通过采用多类型的测试座设计，可确保测试过程中信号传输的稳定性和接口兼容性，以方便不同封装形式的集成运算放大器芯片进行快速、安全的连接和测试。
11、优选的，将所述待测芯片在测试时需其外侧使用热流仪罩住。通过热流仪等功能实现待测芯片的高低温测试，确保了通用自动化测试系统的全面性和实用性。
12、与现有技术相比，本专利技术所提供的有益效果是：
13、本专利技术中集成运算放大器的通用自动化测试系统结构简单且便于控制，其使用时的安全性更高也更加可靠。包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构，上位机结构包括pc机、dc电源模块、信号发生器、源表和数字i/o模块，测试电路板包括测试主电路、达林顿晶体管阵列、逻辑译码器和电平转换器，辅助仪表结构包括数字电压电流表和示波器。dc电源模块通过电源滤波器向测试主电路供电，源表和信号发生器向测试主电路提供电压和电流信号，数字i/o模块提供输出数字信号经过电平转换器、逻辑译码器和达林顿晶体管阵列后控制测试主电路工作选择待测芯片的性能测试项目。本专利技术整合上位机结构和测试电路板，形成了一套完整的硬件测试架构，可以灵活应对集成运算放大器的各种测试需求。通过逻辑电路精细控制继电器开关动作，实现在不同测试条件下自动切换信号源的测量项目模式，提升了测试的速度和准确性。并且还能降低电源噪声对测试结果的影响，确保了测试数据的可靠性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构，所述上位机结构包括PC机以及与其连接的DC电源模块、信号发生器、源表和数字I/O模块，所述测试电路板包括测试主电路和下位机结构，所述下位机结构包括达林顿晶体管阵列、电平转换器和逻辑译码器，所述测试主电路连接待测芯片对其进行测试；所述DC电源模块连接所述测试主电路用于向其供电，所述源表和信号发生器连接所述测试主电路用于向其提供电压和电流信号，所述数字I/O模块通过所述下位机结构连接所述测试主电路，用于将提供的数字信号经过所述下位机结构，由所述下位机结构控制所述测试主电路选择所述待测芯片的性能测试项目，所述测试主电路的输出信号再通过辅助仪表结构采集送给所述PC机。
2.根据权利要求1所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述DC电源模块通过电源滤波器连接所述测试主电路。
3.根据权利要求2所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述测试主电路包括电阻、电容和辅助运算放大器，它们与所述测试主电路的输出、输入端均通过连接继电器开关
4.根据权利要求3所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述待测芯片DUT输出端分别串联负载电阻R11和R12、负载电容C4、C5和C6后接地。
5.根据权利要求4所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述达林顿晶体管阵列与所述测试主电路中的所述继电器开关连接，每个所述达林顿晶体管阵列包括两个达林顿晶体管。
6.根据权利要求2所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述电源滤波器包括电感、电容和二极管，所述电源滤波器的输入、输出端串联连接电感，而其输入、输出端并联连接电容和二极管后接地。
7.根据权利要求1所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述上位机结构、下位机结构、辅助仪表结构与测试主电路之间均通过接线端子连接，所述接线端子包括射频同轴线母座、射频同轴线、螺钉式接线端子和单股铜线连接构成。
8.根据权利要求1所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述待测芯片的测试座连接在所述测试电路板上，所述待测芯片通过芯片底座接入所述测试座，所述芯片底座采用2.54*6的母排、DIP-12的底座。
9.根据权利要求1所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述待测芯片在进行测试时，其外侧需要用热流仪罩住。
...【技术特征摘要】
1.一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构，所述上位机结构包括pc机以及与其连接的dc电源模块、信号发生器、源表和数字i/o模块，所述测试电路板包括测试主电路和下位机结构，所述下位机结构包括达林顿晶体管阵列、电平转换器和逻辑译码器，所述测试主电路连接待测芯片对其进行测试；所述dc电源模块连接所述测试主电路用于向其供电，所述源表和信号发生器连接所述测试主电路用于向其提供电压和电流信号，所述数字i/o模块通过所述下位机结构连接所述测试主电路，用于将提供的数字信号经过所述下位机结构，由所述下位机结构控制所述测试主电路选择所述待测芯片的性能测试项目，所述测试主电路的输出信号再通过辅助仪表结构采集送给所述pc机。
2.根据权利要求1所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述dc电源模块通过电源滤波器连接所述测试主电路。
3.根据权利要求2所述的一种集成运算放大器的通用自动化测试系统，其特征在于：所述测试主电路包括电阻、电容和辅助运算放大器，它们与所述测试主电路的输出、输入端均通过连接继电器开关控制；所述待测芯片的反向输入端串联的电阻r7和r1与正向输入端串联的电阻r8和r2连接后接所述测试主电路的输入端；所述待测芯片的输出端串联电阻r13后连接所述辅助运算放大器的正向输入端，其反相输入端连接电阻r14后分别接地和基准电压端，所述辅助运算放...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈启航，闫涛涛，范超杰，吴俊，沈晓斌，
申请(专利权)人：昇陌微电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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