【技术实现步骤摘要】
本技术涉及探针测试平台的,特别涉及一种集成电路测试平台。
技术介绍
1、电路板检测设备的原理是通过金属探针连接电路板上的焊盘或测试点，在电路板通电的情况下，获取测试电路的电压值、电流值等典型数值，从而观测所测试电路是否导通正常，能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，现有的测试平台测试功能和测试夹具较为单一，测试时需要配合相应的测试夹具才能完成检测，存在不兼容切换载具不方便，更换针模不方便，整体空间占比高等缺点。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构紧凑使用方便，能兼容不同尺寸产品完成测试的集成电路测试平台。
2、本技术所采用的技术方案是：本技术包括底壳、上盖、两组压紧组件、两组针块组件以及两组测试机，所述上盖与所述底壳固定连接，两组所述测试机设于所述底壳上，两组所述压紧组件均与所述上盖的上表面相连接，两组所述针块组件固定连接于所述上盖的下表面，两组所述针块组件对应与两组所述测试机电性连接，两组所述压紧组件将产品载板扣紧，所述针块组件与产品载板导通连接。
3、进一步，所述压紧组件包括固定座、翻转盖、卡扣以及若干浮动限位件，所述固定座与所述上盖固定连接，所述翻转盖与所述固定座转动连接，所述卡扣设于所述翻转盖远离所述固定座的一侧，所述上盖设有与所述卡扣相适配的扣合块，若干所述浮动限位件分别设置于所述翻转盖
4、进一步，所述浮动限位件设有固定板、浮动顶头以及弹性件，所述固定板与所述翻转盖固定连接，所述浮动顶头与所述固定板滑动配合，所述弹性件设于所述浮动顶头和所述翻转盖之间。
5、进一步，所述翻转盖靠近所述固定座的一侧设有若干让位槽，若干所述让位槽内均设有扭簧，若干所述扭簧对应与所述固定座和所述翻转盖顶推配合。
6、进一步，所述针块组件包括导向板、针块座、若干探针以及电路板，所述针块座与所述上盖固定连接，所述导向板设于所述针块座上，所述针块座和所述导向板均设有与若干所述探针相适配的若干针孔，所述电路板与所述针块座固定连接，若干所述探针的一端均与所述电路板相连接，所述电路板通过连接线与所述测试机导通连接。
7、进一步，所述针块座的两端设有导向件，两组所述导向件与所述上盖导向配合。
8、进一步，所述上盖设有若干定位件，若干所述定位件与产品载板配合连接。
9、进一步，所述底壳设置有隔条、固定条、两组限位件以及两组挡边块，所述隔条设于所述底壳的中部，两组所述测试机分别设于所述隔条的两侧，所述固定条与所述底壳固定连接，所述固定条将两组所述测试机压紧于所述底壳上，两组所述限位件分别与两组所述测试机的一端限位顶推，两组所述挡边块分别设于所述底壳的两端，两组所述挡边块分别与两组所述测试机限位配合。
10、进一步，所述底壳的侧边设置有若干通气孔。
11、本技术的有益效果是：由于本技术底壳采用拼接的方案组装，配合螺丝定位锁紧，使用时能便于工作人员组装，完成测试后可实现快速拆卸，节省空间位置，底壳内设置有隔条、固定条、两组限位件以及两组挡边块用于测试机快速定位，两组测试机对称设置在两侧，放置配合高效简单，压紧组件采用翻盖扣压结构配合浮动限位件对产品载板进行限位，结构简洁，便于工作人员日常安装拆卸维护，浮动限位件设有多组并排结构，针块模组为公共针模，对不同产品载具有良好的适配性，底壳外围设置的多面通气孔结构是内部热量能快速散发，避免温度过高针块组件和测试机过热导致电路板烧坏的情况。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种集成电路测试平台，它包括底壳（1）和上盖（2），所述上盖（2）与所述底壳（1）固定连接，其特征在于：所述集成电路测试平台还包括两组压紧组件（3）、两组针块组件（4）以及两组测试机（5），两组所述测试机（5）设于所述底壳（1）上，两组所述压紧组件（3）均与所述上盖（2）的上表面相连接，两组所述针块组件（4）固定连接于所述上盖（2）的下表面，两组所述针块组件（4）对应与两组所述测试机（5）电性连接，两组所述压紧组件（3）将产品载板扣紧，所述针块组件（4）与产品载板导通连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述压紧组件（3）包括固定座（31）、翻转盖（32）、卡扣（33）以及若干浮动限位件（34），所述固定座（31）与所述上盖（2）固定连接，所述翻转盖（32）与所述固定座（31）转动连接，所述卡扣（33）设于所述翻转盖（32）远离所述固定座（31）的一侧，所述上盖（2）设有与所述卡扣（33）相适配的扣合块（35），若干所述浮动限位件（34）分别设置于所述翻转盖（32）的两侧并与产品载板浮动压紧。
3.根据权利要求2所述的一种集
4.根据权利要求2所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述翻转盖（32）靠近所述固定座（31）的一侧设有若干让位槽，若干所述让位槽内均设有扭簧（36），若干所述扭簧（36）对应与所述固定座（31）和所述翻转盖（32）顶推配合。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述针块组件（4）包括导向板（41）、针块座（42）、若干探针（43）以及电路板（44），所述针块座（42）与所述上盖（2）固定连接，所述导向板（41）设于所述针块座（42）上，所述针块座（42）和所述导向板（41）均设有与若干所述探针（43）相适配的若干针孔（45），所述电路板（44）与所述针块座（42）固定连接，若干所述探针（43）的一端均与所述电路板（44）相连接，所述电路板（44）通过连接线与所述测试机（5）导通连接。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述针块座（42）的两端设有导向件（46），两组所述导向件（46）与所述上盖（2）导向配合。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述上盖（2）设有若干定位件（6），若干所述定位件（6）与产品载板配合连接。
8.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述底壳（1）设置有隔条（11）、固定条（12）、两组限位件（13）以及两组挡边块（14），所述隔条（11）设于所述底壳（1）的中部，两组所述测试机（5）分别设于所述隔条（11）的两侧，所述固定条（12）与所述底壳（1）固定连接，所述固定条（12）将两组所述测试机（5）压紧于所述底壳（1）上，两组所述限位件（13）分别与两组所述测试机（5）的一端限位顶推，两组所述挡边块（14）分别设于所述底壳（1）的两端，两组所述挡边块（14）分别与两组所述测试机（5）限位配合。
9.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述底壳（1）的侧边设置有若干通气孔（15）。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试平台，它包括底壳（1）和上盖（2），所述上盖（2）与所述底壳（1）固定连接，其特征在于：所述集成电路测试平台还包括两组压紧组件（3）、两组针块组件（4）以及两组测试机（5），两组所述测试机（5）设于所述底壳（1）上，两组所述压紧组件（3）均与所述上盖（2）的上表面相连接，两组所述针块组件（4）固定连接于所述上盖（2）的下表面，两组所述针块组件（4）对应与两组所述测试机（5）电性连接，两组所述压紧组件（3）将产品载板扣紧，所述针块组件（4）与产品载板导通连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述压紧组件（3）包括固定座（31）、翻转盖（32）、卡扣（33）以及若干浮动限位件（34），所述固定座（31）与所述上盖（2）固定连接，所述翻转盖（32）与所述固定座（31）转动连接，所述卡扣（33）设于所述翻转盖（32）远离所述固定座（31）的一侧，所述上盖（2）设有与所述卡扣（33）相适配的扣合块（35），若干所述浮动限位件（34）分别设置于所述翻转盖（32）的两侧并与产品载板浮动压紧。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述浮动限位件（34）设有固定板（341）、浮动顶头（342）以及弹性件（343），所述固定板（341）与所述翻转盖（32）固定连接，所述浮动顶头（342）与所述固定板（341）滑动配合，所述弹性件（343）设于所述浮动顶头（342）和所述翻转盖（32）之间。
4.根据权利要求2所述的一种集成电路测试平台，其特征在于：所述翻转盖（32）靠近所述固定座（31）的一侧设有若干让位槽，若干所述让位槽内均设有扭簧（36），若干所述扭簧（36）对应与所述固定座（31）和所...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘智坤，吴国奇，杨波，李文超，孙胜震，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。