测试治具及测试装置制造方法及图纸

技术编号:42981537 阅读:3 留言:0更新日期:2024-10-15 13:16
本申请公开了一种测试治具及测试装置,涉及测试装置技术领域。测试治具包括架体、滑轨、多个固定件和调节件,其中,所述架体开设有活动腔,所述滑轨设置于所述活动腔内,并与所述架体连接,多个所述固定件设置于所述活动腔内,所述固定件与所述滑轨滑动连接,以调节各所述固定件之间的距离,调节件用于固定多个所述多个固定件。本申请提供的测试治具能够同时对多个芯片进行检测,提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及测试装置,尤其涉及一种测试治具及测试装置


技术介绍

1、半导体技术中的欧姆接触是指半导体器件上,金属引线和半导体接触的区域。任何半导体器件都需要有良好的欧姆接触特性,即要求半导体与金属的连接处有非常好的线性接触,附加电阻小,长期使用稳定性好。

2、相关技术中通过人工方式测试半导体芯片的接触电阻值,具体的测试操作需要一手执一个探针,两手同时接触芯片的两个电极,一次只能测试一个芯片,测试效率低。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供了一种测试治具及测试装置,目的在于解决现有技术中的技术问题。

2、为实现上述目的,本申请采用的技术方案如下:

3、第一方面,本申请实施例提供了一种测试治具,包括:

4、架体,开设有活动腔;

5、滑轨,设置于所述活动腔内,并与所述架体连接;

6、多个固定件,设置于所述活动腔内,所述固定件与所述滑轨滑动连接,以调节各所述固定件之间的距离;

7、调节件,用于固定多个所述多个固定件。

8、在第一方面的其中一个实施例中,所述固定件包括第一夹持块、第二夹持块和第一调节旋钮,所述第一调节旋钮与第一夹持块和/或第二夹持块连接。

9、在第一方面的其中一个实施例中,所述第一夹持块和所述第二夹持块之间形成开口,探针放置于所述开口内,所述第一调节旋钮用于调整所述开口的间距,以松开或固定所述探针。

10、在第一方面的其中一个实施例中,所述第一调节旋钮还用于移动所述固定件,以调节各个固定件之间的距离。

11、在第一方面的其中一个实施例中,所述调节件包括连接杆和第二调节旋钮,所述连接杆和所述多个固定件可拆卸连接,所述连接杆与所述第二调节旋钮连接。

12、在第一方面的其中一个实施例中,当所述连接杆和所述固定件连接时,调节所述第二调节旋钮,使所述固定件在所述滑轨上处于固定状态或滑动状态。

13、在第一方面的其中一个实施例中,所述架体的横截面呈长条状,所述滑轨沿所述架体的延伸方向设置。

14、在第一方面的其中一个实施例中,至少一个所述滑轨设置于所述活动腔内,每个所述固定件架设于所述滑轨上。

15、第二方面,本申请实施例还提供一种测试装置,包括:上述任一实施例中的测试治具。

16、在第二方面的其中一个实施例中,所述测试装置还包括:

17、多个探针,每个所述探针和一个所述固定件连接;

18、承载台,所述承载台具有操作面,所述测试治具对应所述操作面设置;

19、固定座,所述测试治具和所述承载台分别与所述固定座连接;

20、电控单元,包括控制模块和显示模块,所述电控单元与所述探针电性连接。

21、相对于现有技术,本申请的有益效果是:本申请提出一种测试治具,包括架体、滑轨、多个固定件和调节件,其中,架体开设有活动腔,滑轨设置于所述活动腔内,并与所述架体连接,多个固定件设置于所述活动腔内,这样,一个探针与一个固定件连接,多个探针呈单列的形状间隔排布,各探针之间互不干涉,多个探针可以同时对多个芯片进行测试,提高测试效率。

22、另外,所述固定件与所述滑轨滑动连接,以调节各所述固定件之间的距离,调节件用于固定多个所述多个固定件,这样,还可以使测试治具可适用于具有不同测试电极间距的不同型号的芯片。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试治具,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述固定件包括第一夹持块、第二夹持块和第一调节旋钮,所述第一调节旋钮与第一夹持块和/或第二夹持块连接。

3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述第一夹持块和所述第二夹持块之间形成开口,探针放置于所述开口内,所述第一调节旋钮用于调整所述开口的间距,以松开或固定所述探针。

4.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述第一调节旋钮还用于移动所述固定件,以调节各个固定件之间的距离。

5.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述调节件包括连接杆和第二调节旋钮,所述连接杆和所述多个固定件可拆卸连接,所述连接杆与所述第二调节旋钮连接。

6.根据权利要求5所述的测试治具,其特征在于,当所述连接杆和所述固定件连接时,调节所述第二调节旋钮,使所述固定件在所述滑轨上处于固定状态或滑动状态。

7.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述架体的横截面呈长条状,所述滑轨沿所述架体的延伸方向设置。

8.根据权利要求4所述的测试治具,其特征在于,至少一个所述滑轨设置于所述活动腔内,每个所述固定件架设于所述滑轨上。

9.一种测试装置,其特征在于,包括权利要求1-8中任一项所述的测试治具。

10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,还包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种测试治具,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述固定件包括第一夹持块、第二夹持块和第一调节旋钮,所述第一调节旋钮与第一夹持块和/或第二夹持块连接。

3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述第一夹持块和所述第二夹持块之间形成开口,探针放置于所述开口内,所述第一调节旋钮用于调整所述开口的间距,以松开或固定所述探针。

4.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述第一调节旋钮还用于移动所述固定件,以调节各个固定件之间的距离。

5.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述调节件包括连接杆和第二调节旋钮,所述连接杆和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:何文鑫蔡文姜建兴
申请(专利权)人:深圳市思坦科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1