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【技术实现步骤摘要】
本专利技术设计引信电子头测试相关领域,具体为一种流水线式引信电子头性能自动检测系统。
技术介绍
1、引信电子头性能测试是保证引信在后续储存中的安全性以及使用中的可靠性的关键步骤,随着引信电子头产能的不断提升,传统的人工检测方式因其效率低、精度差、人力成本大等缺点,使得引信电子头性能测试难以与引信电子头的生产效率相匹配,不能满足工业生产的需求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种流水线式引信电子头性能自动检测系统,以实现引信电子头性能自动检测。
2、实现本专利技术目的的技术解决方案为:
3、一种流水线式引信电子头性能自动检测系统,包括:
4、上下料机构,用于完成引信电子头的上下料操作;
5、环形导轨,用于带动检测装置的移动,实现检测装置在环形导轨上多个不同工位的移动,进行不同功能的检测;
6、固定在多个工位上的无线供能装置,用于将电能转变成磁场能,给检测装置和引信电子头供电并发送测试信息,测试信息以电磁波的形式传递给检测装置;
7、检测装置,用于采集引信电子头信号,记录引信电子头运行数据,存储测试数据并发送至上位机;
8、上位机,与无线供能装置、检测装置通讯,向无线供能装置下发测设指令,接收检测装置的测试数据,判断测试过程是否正常以及引信电子头产生的电信号是否准确,将判断结果回传至检测装置以进行显示,并控制上下料机构、环形导轨的工作;
9、所述检测装置包括:
10、
11、检测电路模块,用于判断引信电子头上电信号的产生,采集引信电子头的充电信号、发火信号,通过识别接收到的测试信的高电平的持续时间,读取引信电子头数据,并存储读取到的引信电子头数据及采集到的电信号,将测试数据传输给上位机;
12、控制指示灯模块,通过指示控制信号,根据上位机的判断结果显示不同的颜色以判断测试过程是否正常以及引信电子头性能的测试结果。·
13、本专利技术与现有技术相比,其显著优点是:
14、本专利技术中,通过多工位、检测装置、无线供能装置、环形导轨、气缸、上下料装置的设置及上位机的统一控制,可以实现流水线式的引信电子头性能自动检测,大大提高了检测效率,提高测试精度且通过留有通用工位,使系统具有很好的通用性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种流水线式引信电子头性能自动检测系统,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的流水线式引信电子头性能自动检测系统,其特征在于,所述无线供能装置设置在供能装置盒内,通过供能装置盒固定在多个工位上,背面设置有接口采用有线方式连接上位机;所述检测装置设置在检测装置盒内,固定在环形导轨上,检测装置盒背面设置通信接口,采用磁吸的方式与上位机连接。
3.根据权利要求1所述的流水线式引信电子头性能自动检测系统,其特征在于,所述检测电路模块包括:
4.根据权利要求3所述的可用于流水线式自动检测系统的引信电子头性能检测装置,其特征在于,所述电源单元包括第三十三电容C33,第八钽电容E8,第三十七电阻R37,第八二极管D8,第十四电源转换芯片U14,第九钽电容E9,第十钽电容E10,第九二极管D9,第四十六电阻R46;第三十三电容C33和第八钽电容E8一端接15V,另一端接地;二极管D8一端接15V,另一端通过第三十七电阻R37接地;第十钽电容E10一端接5V及第十四电源转换芯片U14输入端引脚1,另一端接地;第九钽电容E9一端第十四电源转换芯片U14输
5.根据权利要求3所述的可用于流水线式自动检测系统的引信电子头性能检测装置,其特征在于,所述电信号采集单元包括第二十一电阻R21,第二十二电阻R22,第七电压比较器芯片U7,第二十四电容C24,第二十五电容C25,第二十三电阻R23,第二十四电阻R24,第二十五电阻R25,第二十六电阻R26,第二十七电阻R27,第二十七电容C27,第二MOS管S2,第三十二电阻R32,第三十电阻R30,第三十一电阻R31,第二十九电阻R29,第二十六电容C26,第二十八电阻R28,第二十八电容C28,第八运算放大器芯片U8,第三十三电阻R33,第三十六电阻R36,第三十四电阻R34,第三十电容C30,第三MOS管S3,第七十电阻R70,第六十八电阻R68,第六十九电阻R69,第六十七电阻R67,第二十九电容C29,第三十五电阻R35,第三十一电容R31,第九运算放大器芯片U9;第二十一电阻R21一端接3V3,另一端接VREF以及第二十二电阻R22一端;第二十二电阻R22另一端接地;第七电压比较器芯片U7为两路电压比较器,引脚2和引脚6接VREF,引脚3和5接引信电子头信号YX_C2CK,引脚4接地,引脚8接3V3;第二十四电容C24和第二十五电容C25一端接3V3,另一端接地;第二十四电阻和第二十三电阻一端接3V3,另一端分别接第七电压比较器芯片U7引脚1和引脚7及上电脉冲信号signal CK1和signal CK2;第二十五电阻R25一端接引信电子头1的信号PK1,另一端接第八运算放大器芯片U8引脚5;第二十六电阻R26一端接第八运算放大器芯片U8引脚5及第二十五电阻R25;第八运算放大器芯片U8引脚6和引脚7相连,第二十七电阻R27一端接第八运算放大器芯片U8引脚7,另一端接第二十七电容C27一端及处理过的充电信号charge adc1;第二十七电容C27另一端接地;第二MOS管引脚3接引信电子头1的信号PK1,引脚2接引信电子头地YXGND1,引脚1接控制端Pin pk ctl1;第三十二电阻R32一端接第二MOS管引脚2,另一端接引脚1;第三十电阻一端接引信电子头发火信号fire1,另一端接第三十一电阻R31一端;第三十一电阻R31另一端接地,第二十九电阻R29一端接引信电子头地YX_GND1及第8芯片U8引脚3,另一端接地;第二十六电容C26一端接3V3及第八运算放大器芯片引脚8,另一端接地;第二十八电阻R28一端接第八运算放大器芯片U8引脚1,另一端接第二十八电容C28一端及处理过的发火信号fire adc1,;第二十八电容C28另一端接地;第三十三电阻R23一端接引信电子头2的信号PK2,另一端接第九运算放大器芯片U9引脚5;第三十六电阻R36一端接第九运算放大器芯片U9引脚5及第三十三电阻R33;第九运算放大器芯片U9引脚6和引脚7相连;第三十四电阻R34一端接第九运算放大器芯片U9引脚7,另一端接第三十电容C30一端及处理过的充电信号charge adc2;第三十电容C30另一端接地,第三MOS管S3引脚3接引信电子头1的信号PK2,引脚2接引信电子头地YX GND2,引脚1接控制端Pin pk ctl2;第七十电阻R70一端接第二MOS管引脚2,另一端接引脚1;第三十电阻一端接引信电子头发火Fire2,另一端接第六十九电阻R69,第六十...
【技术特征摘要】
1.一种流水线式引信电子头性能自动检测系统,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的流水线式引信电子头性能自动检测系统,其特征在于,所述无线供能装置设置在供能装置盒内,通过供能装置盒固定在多个工位上,背面设置有接口采用有线方式连接上位机;所述检测装置设置在检测装置盒内,固定在环形导轨上,检测装置盒背面设置通信接口,采用磁吸的方式与上位机连接。
3.根据权利要求1所述的流水线式引信电子头性能自动检测系统,其特征在于,所述检测电路模块包括:
4.根据权利要求3所述的可用于流水线式自动检测系统的引信电子头性能检测装置,其特征在于,所述电源单元包括第三十三电容c33,第八钽电容e8,第三十七电阻r37,第八二极管d8,第十四电源转换芯片u14,第九钽电容e9,第十钽电容e10,第九二极管d9,第四十六电阻r46;第三十三电容c33和第八钽电容e8一端接15v,另一端接地;二极管d8一端接15v,另一端通过第三十七电阻r37接地;第十钽电容e10一端接5v及第十四电源转换芯片u14输入端引脚1,另一端接地;第九钽电容e9一端第十四电源转换芯片u14输出端引脚2,另一端接地;第九二极管d9一端接第十四电源转换芯片u14输出端引脚2,另一端通过第三十六电阻r36接地;第八二极管d8和第九二极管d9为发光二极管,用于展示检测电路模块供电是否正常。
5.根据权利要求3所述的可用于流水线式自动检测系统的引信电子头性能检测装置,其特征在于,所述电信号采集单元包括第二十一电阻r21,第二十二电阻r22,第七电压比较器芯片u7,第二十四电容c24,第二十五电容c25,第二十三电阻r23,第二十四电阻r24,第二十五电阻r25,第二十六电阻r26,第二十七电阻r27,第二十七电容c27,第二mos管s2,第三十二电阻r32,第三十电阻r30,第三十一电阻r31,第二十九电阻r29,第二十六电容c26,第二十八电阻r28,第二十八电容c28,第八运算放大器芯片u8,第三十三电阻r33,第三十六电阻r36,第三十四电阻r34,第三十电容c30,第三mos管s3,第七十电阻r70,第六十八电阻r68,第六十九电阻r69,第六十七电阻r67,第二十九电容c29,第三十五电阻r35,第三十一电容r31,第九运算放大器芯片u9;第二十一电阻r21一端接3v3,另一端接vref以及第二十二电阻r22一端;第二十二电阻r22另一端接地;第七电压比较器芯片u7为两路电压比较器,引脚2和引脚6接vref,引脚3和5接引信电子头信号yx_c2ck,引脚4接地,引脚8接3v3;第二十四电容c24和第二十五电容c25一端接3v3,另一端接地;第二十四电阻和第二十三电阻一端接3v3,另一端分别接第七电压比较器芯片u7引脚1和引脚7及上电脉冲信号signal ck1和signal ck2;第二十五电阻r25一端接引信电子头1的信号pk1,另一端接第八运算放大器芯片u8引脚5;第二十六电阻r26一端接第八运算放大器芯片u8引脚5及第二十五电阻r25;第八运算放大器芯片u8引脚6和引脚7相连,第二十七电阻r27一端接第八运算放大器芯片u8引脚7,另一端接第二十七电容c27一端及处理过的充电信号charge adc1;第二十七电容c27另一端接地;第二mos管引脚3接引信电子头1的信号pk1,引脚2接引信电子头地yxgnd1,引脚1接控制端pin pk ctl1;第三十二电阻r32一端接第二mos管引脚2,另一端接引脚1;第三十电阻一端接引信电子头发火信号fire1,另一端接第三十一电阻r31一端;第三十一电阻r31另一端接地,第二十九电阻r29一端接引信电子头地yx_gnd1及第8芯片u8引脚3,另一端接地;第二十六电容c26一端接3v3及第八运算放大器芯片引脚8,另一端接地;第二十八电阻r28一端接第八运算放大器芯片u8引脚1,另一端接第二十八电容c28一端及处理过的发火信号fire adc1,;第二十八电容c28另一端接地;第三十三电阻r23一端接引信电子头2的信号pk2,另一端接第九运算放大器芯片u9引脚5;第三十六电阻r36一端接第九运算放大器芯片u9引脚5及第三十三电阻r33;第九运算放大器芯片u9引脚6和引脚7相连;第三十四电阻r34一端接第九运算放大器芯片u9引脚7,另一端接第三十电容c30一端及处理过的充电信号charge adc2;第三十电容c30另一端接地,...
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