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【技术实现步骤摘要】
本申请属于激光雷达领域,尤其涉及介质层厚度测量方法、存储介质及计算机设备。
技术介绍
1、相对于摄像头的彩色图像而言,激光雷达能够获取采集区域的位置信息,因此能够形成具有位置信息的点云图像。因此,可以基于激光雷达的点云数据获取采集区域真实的轮廓信息和位置信息,例如测量前方车辆的位置以及具体大小。然而,当激光雷达发射的激光束遇到介质层时,由于激光束会在介质层界面发生折射。而激光雷达本身并不知道折射现象的发生,还是按照正常的直线传播计算激光束到达的位置信息,导致得到了错误的介质层厚度,影响了激光雷达的探测功能。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种介质层厚度测量方法、存储介质及计算机设备,可以满足对介质层深度探测的高精度需求。
2、第一方面,本申请实施例提供一种介质层厚度测量方法,包括:
3、获取激光雷达关于当前介质层的反射点云和虚拟折射点云,所述反射点云为激光雷达根据激光束到达介质层界面时发生反射的点云,所述虚拟折射点云为激光雷达根据介质层底部对激光束进行反射得到的点云;
4、定义标准反射点云数据,标准虚拟折射点云数据和标准雷达位置信息,所述标准反射点云数据为当前坐标系下所述反射点云根据标准坐标系转换得到的点云数据;所述标准虚拟折射点云数据为当前坐标系下所述虚拟折射点云根据标准坐标系转换得到的点云数据;所述标准雷达位置信息为标准坐标系下激光雷达的位置信息;所述标准坐标系为xy轴平面平行于介质层界面且z轴垂直于介质层界面的坐标系;
5、
6、根据所述入射角α和介质层,得到激光雷达在介质层中的折射角β;
7、根据所述入射角α、折射角β,标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据,得到介质层的厚度值。
8、可选地,所述根据所述入射角 α、折射角 β,标准虚拟折射点云数据的z轴坐标值和标准反射点云数据的z轴坐标值,得到介质层的厚度值,包括:
9、根据标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据,得到标准虚拟折射点云与介质层界面的距离 d;
10、根据标准虚拟折射点云数据与介质层界面的距离 d和入射角 α,得到反射点云和虚拟折射点云的距离 l;
11、根据反射点云和虚拟折射点云的距离 l和折射角 β,得到介质层的厚度值d。
12、可选地,所述 d通过以下公式得到:
13、 d=∣z虚-z反∣
14、式中,所述z虚为标准虚拟折射点云数据的z轴坐标值,所述z反为标准反射点云数据的z轴坐标值。由于 d表示距离,因此取绝对值。
15、可选地,所述 l通过以下公式得到:
16、 =d/cos α。
17、可选地,所述d通过以下公式得到:
18、d= l*cos β。
19、可选地,所述根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到激光束到达介质层界面时的入射角 α,包括:
20、根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到在xyz轴上各自的相对差值;
21、根据xyz轴上各自的相对差值得到激光束到达介质层界面时的入射角 α。
22、可选地,所述根据xyz轴上各自的相对差值得到激光束到达介质层界面时的入射角 α,包括:
23、
24、式中,所述 x相=∣x雷-x反∣;所述 y相=∣y雷-y反∣;所述 z相=∣z雷-z反∣。由于x相、y相和z相均表示距离,因此取绝对值。
25、可选地,所述获取激光雷达关于当前介质层的反射点云和虚拟折射点云之前,还包括:
26、根据当前激光雷达接收的点云数据,形成点云图像;
27、根据点云图像,判断点云图像中是否存在平行于介质层界面的区域,定义为目标区域;
28、若存在目标区域,判断目标区域内每束激光束所产生的点云数量是否满足预设条件,若满足预设条件,则认定目标区域是介质层。
29、可选地,所述预设条件为每束激光束所产生的点云数量为2n,所述n基于激光雷达的接收模块而决定,n为正整数。
30、第二方面,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,当所述计算机程序在计算机上执行时,使得所述计算机执行本申请实施例提供的介质层厚度测量方法。
31、第三方面,本申请实施例还提供一种计算机设备,包括存储器,处理器,所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序,用于执行本申请实施例提供的介质层厚度测量方法。
32、本申请实施例中,通过获取激光雷达关于当前介质层的反射点云和虚拟折射点云;定义标准反射点云数据,标准虚拟折射点云数据和标准雷达位置信息;根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到激光束到达介质层界面时的入射角 α;根据所述入射角 α和介质层,得到激光雷达在介质层中的折射角 β;根据所述入射角 α、折射角 β,标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据,得到介质层的厚度值。由此,基于标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到入射角 α,再根据入射角 α得到折射角 β;再基于入射角 α,折射角 β,标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据得到准确的介质层的厚度值满足了对深度探测的高精度需求。
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1.介质层厚度测量方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述根据所述入射角α、折射角β,标准虚拟折射点云数据的Z轴坐标值和标准反射点云数据的Z轴坐标值,得到介质层的厚度值,包括:
3.根据权利要求2所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述d通过以下公式得到:
4.根据权利要求2所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述l通过以下公式得到:
5.根据权利要求2所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述D通过以下公式得到:
6.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到激光束到达介质层界面时的入射角α,包括:
7.根据权利要求6所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述根据XYZ轴上各自的相对差值得到激光束到达介质层界面时的入射角α,包括:
8.根据权利要求1、2、3、4、5或7所述的介质层厚度测量方法,所述获取激光雷达关于当前介质层的反射点云和虚拟折射点云之前,还包括:
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机程序,当所述计算机程序在计算机上运行时,使得所述计算机执行权利要求1至9任一项所述的介质层厚度测量方法。
11.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括处理器和存储器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序,用于执行权利要求1至9任一项所述的介质层厚度测量方法。
...【技术特征摘要】
1.介质层厚度测量方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述根据所述入射角α、折射角β,标准虚拟折射点云数据的z轴坐标值和标准反射点云数据的z轴坐标值,得到介质层的厚度值,包括:
3.根据权利要求2所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述d通过以下公式得到:
4.根据权利要求2所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述l通过以下公式得到:
5.根据权利要求2所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述d通过以下公式得到:
6.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到激光束到达介质层界面时的入射角α,包括:
7.根据权利要求6所述的介质层厚度测量方法,其特征在于,所述根据x...
【专利技术属性】
技术研发人员:张钦满,韩勇,
申请(专利权)人:深圳市镭神智能系统有限公司,
类型:发明
国别省市:
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