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检测闪速存储器设备中的温度的方法及其闪速存储器设备技术

技术编号:42943109 阅读:2 留言:0更新日期:2024-10-11 16:01
本公开提供了一种用于检测闪速存储器设备中的温度的方法和闪速存储器设备。该方法包括从主机设备接收输入/输出(I/O)请求、以及在接收到I/O请求时确定闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值。该方法还包括将闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值与闪速存储器设备的存储的导通单元计数数据进行比较。此外,该方法包括基于比较来确定与存储的导通单元计数值对应的闪速存储器设备的温度。基于闪速存储器设备的温度和闪速存储器设备的阈值操作温度向主机设备发送通知信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术构思涉及存储设备领域,并且更具体地,涉及闪速存储器设备以及用于检测闪速存储器设备中的温度的方法。


技术介绍

1、在存储设备中,高性能常常导致更高的功率使用,因此导致产生的热增加。如果不减少产生的热,则存储设备温度可能超过阈值操作条件/温度并导致存储设备损坏(例如,硬件损坏)。温度检测和到主机设备的通知传输可帮助主机设备采取适当的行动以将存储设备温度降低到阈值操作条件/温度。传统上,在诸如闪速存储器设备的一些存储设备中,使用热传感器来执行温度检测。然而,热传感器的使用增加了闪速存储器设备的成本。此外,在不包括或未实现热传感器的低成本闪速存储器设备中,用于实施现有的热传感器来检测闪速存储器设备温度的技术可能由于增加的成本而不切实际。


技术实现思路

1、根据本专利技术构思的实施例,一种检测闪速存储器设备中的温度的方法包括:从主机设备接收输入/输出(i/o)请求;在接收到i/o请求时,确定闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值;将在闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值与预定义的导通单元计数表的存储的导通单元计数数据进行比较;以及基于比较来确定与存储的导通单元计数值对应的闪速存储器设备的温度,其中基于闪速存储器设备的温度和闪速存储器设备的阈值操作温度,向主机设备发送通知信号。

2、根据本专利技术构思的实施例,一种用于检测闪速存储器设备中的温度的闪速存储器设备包括:存储器;通信接口,用于与主机设备通信;以及处理器,配置为:通过通信接口从主机设备接收输入/输出(i/o)请求;在接收到i/o请求时,确定闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值;将在闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值与预定义的导通单元计数表的存储的导通单元计数数据进行比较;以及基于比较来确定与存储的导通单元计数值对应的闪速存储器设备的温度,其中基于闪速存储器设备的温度和闪速存储器设备的阈值操作温度向主机设备发送通知信号。

3、根据本专利技术构思的实施例,一种用于检测闪速存储器设备中的温度的闪速存储器设备包括:存储器,包括存储在其中的数据和多个模块;输入/输出(i/o)接口,用于与主机设备通信;以及处理器,通信地耦合到所述多个模块,其中所述多个模块包括收发器模块、确定模块和比较模块,其中收发器模块被配置为从主机设备接收命令,其中确定模块配置为:在从主机设备接收到所述命令时,针对多个温度中的每个温度测量闪速存储器设备中的块的每个目标页的导通单元计数值;将闪速存储器设备中的块的每个目标页的导通单元计数值和对应的温度作为导通单元计数数据存储在闪速存储器设备中;确定闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值;以及基于闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值与存储的导通单元计数数据之间的比较来确定与存储的导通单元计数值对应的闪速存储器设备的温度。

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【技术保护点】

1.一种检测闪速存储器设备中的温度的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,I/O请求是数据写请求或数据读请求。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,存储的导通单元计数数据被存储在闪速存储器设备中。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,在从主机设备接收I/O请求之前,所述方法包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其中,基于闪速存储器设备的温度和闪速存储器设备的阈值操作温度向主机设备发送通知信号包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其中,闪速存储器设备是基于NAND的设备。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,目标页是闪速存储器设备中的块内的要被检查导通单元计数值的页。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,活动块是闪速存储器设备中执行I/O请求的块。

9.一种闪速存储器设备,用于检测该闪速存储器设备中的温度,该闪速存储器设备包括:

10.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,I/O请求是数据写请求或数据读请求。

11.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,存储的导通单元计数数据被存储在所述闪速存储器设备中。

12.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,处理器配置为:

13.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,处理器被配置为:

14.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,闪速存储器设备是基于NAND的设备。

15.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,目标页是闪速存储器设备中的块内的要被检查导通单元计数值的页。

16.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,活动块是闪速存储器设备中运行I/O请求的块。

17.一种闪速存储器设备,用于检测所述闪速存储器设备中的温度,所述闪速存储器设备包括:

18.根据权利要求17所述的闪速存储器设备,其中,确定模块还被配置为基于闪速存储器设备的温度和闪速存储器设备的阈值操作温度来生成要发送到主机设备的通知信号。

19.根据权利要求17所述的闪速存储器设备,其中,比较模块执行闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值与存储的导通单元计数数据之间的比较。

20.根据权利要求17所述的闪速存储器设备,其中,响应于来自主机设备的I/O请求来确定闪速存储器设备的活动块内的目标页的导通单元计数值。

...

【技术特征摘要】

1.一种检测闪速存储器设备中的温度的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,i/o请求是数据写请求或数据读请求。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,存储的导通单元计数数据被存储在闪速存储器设备中。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,在从主机设备接收i/o请求之前,所述方法包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其中,基于闪速存储器设备的温度和闪速存储器设备的阈值操作温度向主机设备发送通知信号包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其中,闪速存储器设备是基于nand的设备。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,目标页是闪速存储器设备中的块内的要被检查导通单元计数值的页。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,活动块是闪速存储器设备中执行i/o请求的块。

9.一种闪速存储器设备,用于检测该闪速存储器设备中的温度,该闪速存储器设备包括:

10.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,i/o请求是数据写请求或数据读请求。

11.根据权利要求9所述的闪速存储器设备,其中,存储的导通单元计数数据被存储在所述闪速存储器设备中...

【专利技术属性】
技术研发人员:维奈·库马尔·MN阿基列什·库马尔·贾斯瓦尔普尼特·库克雷亚
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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