一种液体颗粒检测和清洗系统技术方案

技术编号:42940695 阅读:13 留言:0更新日期:2024-10-11 16:00
本技术涉及一种液体颗粒检测和清洗系统,包括用于发射出检测激光的半导体激光器、第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置,该液体颗粒检测和清洗系统还包括清洗装置,清洗装置包括用于发射出清洗激光的脉冲激光器、用于接收并调整所述清洗激光光路的振镜组件、场镜及活动设置的反射镜;清洗时,脉冲激光器发出的激光经振镜组件改变光路路径后照射到场镜上,然后经反射镜反射到样品流通池的光学窗口表面形成光斑。本技术的液体颗粒检测和清洗系统通过改变反射镜的位置可以实现检测模式和清洗模式的切换,而利用激光辐照所产生的热应力实现样品流通池光学窗口表面快速、无损的清洗,不仅清洗效果好,且清洗速度快。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种液体颗粒检测和清洗系统


技术介绍

1、近年来,随着科技的进步以及工业的发展,各个行业对于工作介质和工作环境的洁净度也提出了更高的要求。同时为了定量的描述介质的洁净度,世界上许多国家和企业都制定了洁净度的检测标准和控制标准,将介质中微小颗粒污染物的数量和粒径作为判断其介质洁净程度的重要指标。液体作为一大工作介质,对于其微小颗粒污染物的检测也变得越来越重视。

2、液体颗粒计数器作为一种检测液体介质中微小颗粒物的粒径分布和数量的检测仪器,其在半导体、过滤器检测、生物制药、医疗器械和油液清洁度检测的各个领域都有着广泛的应用。液体中微小颗粒的检测方法目前主要有显微镜计数法、库尔特法和光学计数法,其中光学液体颗粒计数器是使用最多的颗粒技术检测方法。

3、在液体颗粒计数器使用过程中,由于检测的液体内含有不同浓度的微粒污染物,在长期使用后会出现液体颗粒计数器的样品流通池光学窗口面的污染。污染后会导致传感器计数异常,导致检测结果不准确。目前市面上的液体颗粒计数器通常只具备冲洗功能,利用有机溶剂以及超纯水的冲洗来实现样品流通池光学窗口面的清洁。这种清洗方式首先需要大量的冲洗液来进行冲洗,其次冲洗后的清洗效果并不一定符合预期。


技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足提供一种基于热应力激光清洗的液体颗粒检测和清洗系统,即能实现检测液体颗粒功能,又能实现清洗功能,还有清洗效果好、清洗速度快的优点。

2、为解决以上技术问题,本技术采用如下技术方案:

3、一种液体颗粒检测和清洗系统,包括用于发射出检测激光的半导体激光器、第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置,所述第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置沿所述检测激光光路依次设置,所述液体颗粒检测和清洗系统还包括与所述光信号接收装置信号连接的控制模块,所述液体颗粒检测和清洗系统还包括清洗装置,所述清洗装置包括用于发射出清洗激光的脉冲激光器、用于接收并调整所述清洗激光光路的振镜组件、场镜及活动设置的反射镜;

4、所述液体颗粒检测和清洗系统具有检测模式和清洗模式,当处于所述检测模式时,所述半导体激光器发出的激光经所述第一透镜组件整形后照射到所述样品流通池,所述样品流通池中经过的液体颗粒所产生的信号被所述第二透镜组件收集并汇聚到光信号接收装置上,然后发送至所述控制模块进行处理得到液体颗粒的检测数据;

5、当处于所述清洗模式时,所述脉冲激光器发出的激光经所述振镜组件改变光路路径后照射到所述场镜上,然后经所述反射镜反射到所述样品流通池的光学窗口表面形成光斑。

6、在一些具体实施方式中,所述振镜组件包括沿所述清洗激光光路依次设置的第一振镜和第二振镜,通过所述第一振镜和/或第二振镜的转动,实现所述光斑在所述光学窗口表面的移动。

7、在一些实施方式中,所述液体颗粒检测和清洗系统还包括能够使所述场镜活动的移动平台,所述场镜在所述移动平台上至少具有二个工作位置,当所述场镜处于第一工作位置时,所述光斑形成在所述样品流通池一侧的光学窗口表面;当所述场镜处于第二工作位置时,所述光斑形成在样品流通池另一侧的光学窗口表面。

8、在一些具体实施方式中,所述场镜沿所述清洗激光光路的延伸方向活动;所述移动平台与所述控制模块电连接。

9、在一些实施方式中,当处于所述清洗模式时,所述反射镜位于所述第一透镜组件和样品流通池之间。

10、在一些具体实施方式中,所述液体颗粒检测和清洗系统还包括电机,所述反射镜设置在所述电机的电机轴上,通过所述电机轴的转动带动转动,所述电机与所述控制模块电连接

11、在一些具体实施方式中,所述第一透镜组件包括沿所述检测激光光路依次设置的第一准直透镜和第一聚焦透镜,所述第一准直透镜位于所述半导体激光器和第一聚焦透镜之间。

12、在一些具体实施方式中,所述第二透镜组件包括沿所述检测激光光路依次设置的第二准直透镜和第二聚焦透镜,所述第二准直透镜设置在样品流通池和第二聚焦透镜之间。

13、在一些具体实施方式中,所述控制系统还与所述半导体激光器、脉冲激光器、振镜组件电连接。

14、在一些具体实施方式中,所述脉冲激光器的波长为1064±50nm,脉宽为100±20ns。

15、由于上述技术方案运用,本技术与现有技术相比具有下列优点:

16、本技术的液体颗粒检测和清洗系统通过改变反射镜的位置可以实现检测模式和清洗模式的切换,而利用激光辐照所产生的热应力实现样品流通池光学窗口表面快速、无损的清洗,不仅清洗效果好,且清洗速度快。

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【技术保护点】

1.一种液体颗粒检测和清洗系统,包括用于发射出检测激光的半导体激光器、第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置,所述第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置沿所述检测激光光路依次设置,所述液体颗粒检测和清洗系统还包括与所述光信号接收装置信号连接的控制模块,其特征在于:所述液体颗粒检测和清洗系统还包括清洗装置,所述清洗装置包括用于发射出清洗激光的脉冲激光器、用于接收并调整清洗激光光路的振镜组件、场镜及活动设置的反射镜;

2.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述振镜组件包括沿所述清洗激光光路依次设置的第一振镜和第二振镜,通过所述第一振镜和/或第二振镜的转动,实现所述光斑在所述光学窗口表面的移动。

3.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述液体颗粒检测和清洗系统还包括能够使所述场镜活动的移动平台,所述场镜在所述移动平台上至少具有二个工作位置,当所述场镜处于第一工作位置时,所述光斑形成在所述样品流通池一侧的光学窗口表面;当所述场镜处于第二工作位置时,所述光斑形成在样品流通池另一侧的光学窗口表面。

4.根据权利要求3所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述场镜沿所述清洗激光光路的延伸方向活动;和/或,所述移动平台与所述控制模块电连接。

5.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:当处于所述清洗模式时,所述反射镜位于所述第一透镜组件和样品流通池之间。

6.根据权利要求5所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述液体颗粒检测和清洗系统还包括电机,所述反射镜设置在所述电机的电机轴上,通过所述电机轴的转动带动转动,所述电机与所述控制模块电连接。

7.根据权利要求1或5所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述第一透镜组件包括沿所述检测激光光路依次设置的第一准直透镜和第一聚焦透镜,所述第一准直透镜位于所述半导体激光器和第一聚焦透镜之间。

8.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述第二透镜组件包括沿所述检测激光光路依次设置的第二准直透镜和第二聚焦透镜,所述第二准直透镜设置在样品流通池和第二聚焦透镜之间。

9.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述控制模块还与所述半导体激光器、脉冲激光器、振镜组件电连接。

10.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述脉冲激光器的波长为1064±50nm,脉宽为100±20ns。

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【技术特征摘要】

1.一种液体颗粒检测和清洗系统,包括用于发射出检测激光的半导体激光器、第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置,所述第一透镜组件、样品流通池、第二透镜组件和光信号接收装置沿所述检测激光光路依次设置,所述液体颗粒检测和清洗系统还包括与所述光信号接收装置信号连接的控制模块,其特征在于:所述液体颗粒检测和清洗系统还包括清洗装置,所述清洗装置包括用于发射出清洗激光的脉冲激光器、用于接收并调整清洗激光光路的振镜组件、场镜及活动设置的反射镜;

2.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述振镜组件包括沿所述清洗激光光路依次设置的第一振镜和第二振镜,通过所述第一振镜和/或第二振镜的转动,实现所述光斑在所述光学窗口表面的移动。

3.根据权利要求1所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述液体颗粒检测和清洗系统还包括能够使所述场镜活动的移动平台,所述场镜在所述移动平台上至少具有二个工作位置,当所述场镜处于第一工作位置时,所述光斑形成在所述样品流通池一侧的光学窗口表面;当所述场镜处于第二工作位置时,所述光斑形成在样品流通池另一侧的光学窗口表面。

4.根据权利要求3所述的液体颗粒检测和清洗系统,其特征在于:所述场镜沿所述清洗激光光路的...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴晨炜梁凤飞沈玮栋陈建孙吉勇
申请(专利权)人:江苏苏净集团有限公司
类型:新型
国别省市:

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