【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体光源领域，涉及远场强度测试技术，具体是一种半导体光源用远场强度测试系统及测试方法。
技术介绍
1、半导体照明亦称固态照明，是指用固态发光器件作为光源的照明，包括发光二极管和有机发光二极管，具有耗电量少、寿命长、色彩丰富、耐震动、可控性强等特点；
2、当前技术背景下，对于半导体光源在远场条件下的光束强度测量存在测试环境单一，难以适应波长与光源尺寸各异的半导体光源的测试需求，同时，激光蚀刻、光刻机等对于要求高精度操作的工作用光源则需要更加精准的测试结果以避免影响正常工作进程；
3、为此，我们提出一种半导体光源用远场强度测试系统及测试方法。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供一种半导体光源用远场强度测试系统及测试方法。
2、本专利技术所要解决的技术问题为：
3、如何解决半导体光源的测试环境适应性差的问题。
4、为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
5、第一方面，一种半导体光源用远场强度测试系统，包括参数导入模块、测试准备模块、综合测试模块、测试分析模块、测试终端和服务器；
6、所述参数导入模块用于将测试光源的光束特性数据经服务器发送至测试准备模块，所述测试准备模块用于定制测试光源的测试标准经服务器同步至测试终端，所述测试终端显示并根据测试标准设置测试光源的测试场景，所述综合测试模块用于对测试光源的光束集中程度和光斑均匀程度进行测试，测试得到测试光
7、进一步地，所述光束特性数据包括测试光源的光束直径和光束波长。
8、进一步地，所述测试准备模块的测试标准定制过程具体如下：
9、读取测试光源的光束直径lr，以10倍的光束直径作为光束测试距离l1；
10、读取测试光源的光束波长λ，并以测试光源为中心，半径在3λ以内的区域划分为测试光源的近场区域，半径在3λ以外的区域划分为测试光源的远场区域；
11、将光束测试距离的数值l1与3λ进行比对：
12、若l1≤3λ，则判定光束测试距离选定有误；若l1＞3λ，则判定光束测试距离选定无误；
13、若光束测试距离选定有误，则在原光束测试距离的基础上以光束直径为单位进行累加得到新光束测试距离，重复上述比对步骤；
14、若光束测试距离选定无误，则以光束测试距离设置测量光源和测试设备的测试间距，而后调节测量光源和测试设备的位置、朝向和高度，确保测量光源与测试设备处于同一水平高度，测量光源发出光束的中心点与测试设备中承光面的中心点重合；
15、测量光源发出光束后，承光面上形成测量光源的投射光斑，然后获取测量光源的投射光斑面积，进而计算得到测量光源的投射光斑直径，计算公式具体如下：
16、
17、将测量光源的投射光斑直径与承光面的标准弧形板直径进行比对；
18、若投射光斑直径小于等于第一标准弧形板直径，则选用一号承光面；若投射光斑直径大于第一标准弧形板直径且小于等于第二标准弧形板直径，则选用二号承光面；若投射光斑直径大于第二标准弧形板直径，则选用三号承光面；
19、其中，第一标准弧形板直径小于第二标准弧形板直径，第二标准弧形板直径小于第三标准弧形板直径，标准弧形板直径的数值均大于零。
20、进一步地，承光面与标准弧形板直径的对应关系为，一号承光面的弧形板直径为第一标准弧形板直径，二号承光面的弧形板直径为第二标准弧形板直径，三号承光面的弧形板直径为第三标准弧形板直径；
21、承光面的直径与承光面内侧光敏探头数的对应关系为，第一标准弧形板直径对应第一光敏探头数，第二标准弧形板直径对应第二光敏探头数，第三标准弧形板直径对应第三光敏探头数；第一光敏探头数小于第二光敏探头数，第二光敏探头数小于第三光敏探头数。
22、进一步地，所述综合测试模块的测试过程包括如下步骤：
23、启动测试光源，调节测试光源发出光束的中心点位置与承光面的中心位置于同一水平线上，并通过承光面内侧的光敏探头采集测试光源在承光面上各个测试点的光照强度gqi，i为光敏探头的编号，i为正整数，具体可以由光电转换器转化为数字信号从而得到测试光源在承光面上各个测试点的光照强度；
24、根据光敏探头与承光面中心的间距o将光照强度划分为若干间距划分集gqo，gqo∈(gqo1，gqo2，……，gqoi)；其中，o的数值为非零自然数，o为光敏探头与承光面中心的间距，gqoi为不同间距划分集中不同光敏探头的光照强度；
25、根据公式计算测试光源各个间距划分集的方差so2，公式具体如下：
26、
27、其中，e(gqo)为间距划分集中所有光敏探头对应光照强度的平均值，n为间距划分集中光敏探头的数量；
28、将各个间距划分集的方差与光照强度方差阈值进行比对：
29、若间距划分集的方差小于等于第一光照强度方差阈值，则判定该间距划分集的光斑均匀等级为第三光斑均匀等级；若间距划分集的方差大于第一光照强度方差阈值且小于等于第二光照强度方差阈值，则判定该间距划分集的光斑均匀等级为第二光斑均匀等级；若间距划分集的方差大于第二光照强度方差阈值，则判定该间距划分集的光斑均匀等级为第一光斑均匀等级。
30、进一步地，第一光照强度方差阈值和第二光照强度方差阈值均大于零，第一光照强度方差阈值小于第二光照强度方差阈值，第一光斑均匀等级的光斑分布均匀程度低于第二光斑均匀等级的光斑分布均匀程度，第二光斑均匀等级的光斑分布均匀程度低于第三光斑均匀等级的光斑分布均匀程度。
31、进一步地，所述综合测试模块的测试过程还包括如下步骤：
32、统计承光面内侧光敏探头的感光探头数和未感光探头数，计算测试光源的光斑覆盖率，公式具体如下：
33、
34、将测试光源在各个光敏探头的光照强度与光照强度区间进行比对；
35、若光照强度属于第一光照强度区间，则将该光敏探头划分至光束扩散区域；若光照强度属于第二光照强度区间，则将该光敏探头划分至光束过渡区域；若光照强度属于第三光照强度区间，则将该光敏探头划分至光束集中区域；
36、根据光敏探头所属区域进行计数得到光束扩散区域的光敏探头数ks、光束过渡区域的光敏探头数gd和光束集中区域的光敏探头数jz，并计算光束扩散区域、光束过渡区域和光束集中区域的覆盖率，公式具体如下：
37、
38、
39、
40、进一步地，光照强度区间均为左开右闭区间，且光照强度区间本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述光束特性数据包括测试光源的光束直径和光束波长。
3.根据权利要求2所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述测试准备模块的测试标准定制过程具体如下：
4.根据权利要求3所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，承光面与标准弧形板直径的对应关系为：
5.根据权利要求4所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述综合测试模块的测试过程包括如下步骤：
6.根据权利要求5所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，第一光照强度方差阈值和第二光照强度方差阈值均大于零，第一光照强度方差阈值小于第二光照强度方差阈值，第一光斑均匀等级的光斑分布均匀程度低于第二光斑均匀等级的光斑分布均匀程度，第二光斑均匀等级的光斑分布均匀程度低于第三光斑均匀等级的光斑分布均匀程度。
7.根据权利要求4所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述综合测试模块的
8.根据权利要求7所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，光照强度区间均为左开右闭区间，且光照强度区间的取值均大于零，第一光照强度区间的光照强度均小于第二光照强度区间的光照强度，第二光照强度区间的光照强度均小于第三光照强度区间的光照强度，光束扩散区域的光照强度低于光束过渡区域的光照强度，光束过渡区域的光照强度低于光束集中区域的光照强度。
9.根据权利要求7所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述测试分析模块用于对测试光源的光束性能进行分析，分析过程具体如下：
10.一种半导体光源用远场强度测试方法，其特征在于，基于权利要求1-9任一项所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，远场强度测试方法具体如下：
...【技术特征摘要】
1.一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述光束特性数据包括测试光源的光束直径和光束波长。
3.根据权利要求2所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述测试准备模块的测试标准定制过程具体如下：
4.根据权利要求3所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，承光面与标准弧形板直径的对应关系为：
5.根据权利要求4所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，所述综合测试模块的测试过程包括如下步骤：
6.根据权利要求5所述的一种半导体光源用远场强度测试系统，其特征在于，第一光照强度方差阈值和第二光照强度方差阈值均大于零，第一光照强度方差阈值小于第二光照强度方差阈值，第一光斑均匀等级的光斑分布均匀程度低于第二光斑均匀等级的光斑分布均匀程度，第二光斑均匀等级的光斑分布均...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘俊杰，陈小妹，唐文丽，陈雪怡，
申请(专利权)人：深圳日晨物联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。