一种漏电保护开关低电阻测试设备制造技术

技术编号:42926151 阅读:9 留言:0更新日期:2024-10-11 15:51
本技术提供一种漏电保护开关低电阻测试设备,涉及漏电保护开关技术领域,包括测试台,测试台上安装有连接块,连接块的内侧活动安装有螺杆,螺杆上螺纹连接有移动块,移动块的上部安装有移动座,移动座的下表面安装有限位块,限位块的内部贯穿设置有限位杆,测试台上安装有安装块,限位杆连接至安装块上,移动座上安装有支撑杆,支撑杆的上部安装有放置盘。本技术中移动座通过支撑管带动放置盘和限位盘移动,此时限位盘逐步向测试装置的下部移动,当移动到测试装置的下部时,启动推动气缸,推动气缸可以推动放置盘上移,同时限位盘内部的零件上移,通过测试探头对其进行测试,通过放置盘和限位盘可以提高零件的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于漏电保护开关,更具体地说,特别涉及一种漏电保护开关低电阻测试设备


技术介绍

1、漏电保护器,简称漏电开关,又叫漏电断路器,主要是用来在设备发生漏电故障时以及对有致命危险的人身触电保护,具有过载和短路保护功能,可用来保护线路或电动机的过载和短路,亦可在正常情况下作为线路的不频繁转换启动之用。

2、基于上述,本专利技术人发现存在以下问题:在漏电保护开关生产过程中,需要对内部零件进行电阻测试,一般的电阻测试方式大多是通过在输送带上设置测试装置,对输送带上的装置进行测试,零件在运送过程中,会出现偏移的情况,该种方式容易导致测试装置不能够和零件完全匹配,进而影响整体的测试效果。

3、于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供一种漏电保护开关低电阻测试设备,以期达到更具有更加实用价值性的目的。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本技术提供一种漏电保护开关低电阻测试设备,以解决现在的测试台上零件在运送过程中,会出现偏移的情况的问题。

2、本技术一种漏电保护开关低电阻测试设备的目的与功效,由以下具体技术手段所达成:

3、一种漏电保护开关低电阻测试设备,包括测试台,所述测试台上安装有连接块,所述连接块的内侧活动安装有螺杆,所述螺杆上螺纹连接有移动块,所述移动块的上部安装有移动座,所述移动座的下表面安装有限位块,所述限位块的内部贯穿设置有限位杆,所述测试台上安装有安装块,所述限位杆连接至安装块上,所述移动座上安装有支撑杆,所述支撑杆的上部安装有放置盘。

4、进一步的,所述放置盘的内侧设置有限位盘,所述限位盘的内侧开设有限位槽,所述放置盘的侧面开设有凹槽。

5、进一步的,所述移动座上安装有限制筒,所述支撑杆贯穿于限制筒的内部,所述支撑杆和限制筒的数量为四个,分别位于移动座的四角处。

6、进一步的,所述移动座上安装有推动气缸,所述放置盘的下部安装有顶块,所述推动气缸的输出端和顶块连接。

7、进一步的,所述螺杆的一端安装有驱动电机,所述驱动电机的输出端和螺杆连接,所述驱动电机连接至测试台上。

8、进一步的,所述测试台上安装有竖杆,所述竖杆上设置有测试装置,所述测试装置上设置有测试探头。

9、与现有技术相比,本技术具有如下有益效果:

10、本技术中螺杆转动时可以带动与其螺纹连接的移动块移动,移动块移动时,可以带动移动座平移,移动座通过支撑管带动放置盘和限位盘移动,此时限位盘逐步向测试装置的下部移动,当移动到测试装置的下部时,启动推动气缸,推动气缸可以推动放置盘上移,同时限位盘内部的零件上移,通过测试探头对其进行测试,通过放置盘和限位盘可以提高零件的稳定性。

11、本技术中通过凹槽处,将限位盘从放置盘的内部取出,此时测试好的零件从放置板内部移出,将另一个限位盘上待测试的零件放到放置盘内部,可以提高整体的测试效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种漏电保护开关低电阻测试设备,包括测试台(1),其特征在于:所述测试台(1)上安装有连接块(5),所述连接块(5)的内侧活动安装有螺杆(6),所述螺杆(6)上螺纹连接有移动块(8),所述移动块(8)的上部安装有移动座(7),所述移动座(7)的下表面安装有限位块(9),所述限位块(9)的内部贯穿设置有限位杆(10),所述测试台(1)上安装有安装块(11),所述限位杆(10)连接至安装块(11)上,所述移动座(7)上安装有支撑杆(13),所述支撑杆(13)的上部安装有放置盘(17)。

2.如权利要求1所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:所述放置盘(17)的内侧设置有限位盘(18),所述限位盘(18)的内侧开设有限位槽(19),所述放置盘(17)的侧面开设有凹槽(20)。

3.如权利要求1所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:所述移动座(7)上安装有限制筒(12),所述支撑杆(13)贯穿于限制筒(12)的内部,所述支撑杆(13)和限制筒(12)的数量为四个,分别位于移动座(7)的四角处。

4.如权利要求3所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:所述移动座(7)上安装有推动气缸(15),所述放置盘(17)的下部安装有顶块(14),所述推动气缸(15)的输出端和顶块(14)连接。

5.如权利要求1所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:所述螺杆(6)的一端安装有驱动电机(16),所述驱动电机(16)的输出端和螺杆(6)连接,所述驱动电机(16)连接至测试台(1)上。

6.如权利要求1所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:所述测试台(1)上安装有竖杆(2),所述竖杆(2)上设置有测试装置(3),所述测试装置(3)上设置有测试探头(4)。

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【技术特征摘要】

1.一种漏电保护开关低电阻测试设备,包括测试台(1),其特征在于:所述测试台(1)上安装有连接块(5),所述连接块(5)的内侧活动安装有螺杆(6),所述螺杆(6)上螺纹连接有移动块(8),所述移动块(8)的上部安装有移动座(7),所述移动座(7)的下表面安装有限位块(9),所述限位块(9)的内部贯穿设置有限位杆(10),所述测试台(1)上安装有安装块(11),所述限位杆(10)连接至安装块(11)上,所述移动座(7)上安装有支撑杆(13),所述支撑杆(13)的上部安装有放置盘(17)。

2.如权利要求1所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:所述放置盘(17)的内侧设置有限位盘(18),所述限位盘(18)的内侧开设有限位槽(19),所述放置盘(17)的侧面开设有凹槽(20)。

3.如权利要求1所述一种漏电保护开关低电阻测试设备,其特征在于:...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨明
申请(专利权)人:无锡芯明圆微电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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