【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储器测试，具体地说，涉及一种存储器测试方法及芯片。
技术介绍
1、近年来，消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着soc（systemon a chip，系统级芯片）产品集成水平的提高，并促使其具有更多的功能和更好的性能。soc的典型结构包括cpu、存储器、外围逻辑电路、多媒体数字信号编解码器和接口模块等。现在的soc中，存储器通常占据整个芯片的大部分面积。目前soc设计要求存储器的容量不断地增大，存储器在soc中所占的面积百分比也随之不断增加。另外，soc的复杂度不断地提高而集成电路工艺尺寸在不断减小，这就导致存储器的制造缺陷比例也不断地增加。因此存储器的故障率对于soc的总成品率的影响越来越大，而保证低故障率的其中关键一点是高效率的存储器测试方案。
2、目前的存储器测试方案通常是对每个存储单元分别写入一个二进制值，然后读取每个存储器单元的数值，并检验其正确性。由于需要对所有存储器单元的数值执行读操作，导致耗时较长，且系统能耗较高，因此该方案存在测试效率低和能耗高的缺点，不能适应实际生产过程中不断变化的测试需求。
3、需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、针对现有技术中的问题，本申请的目的在于提供一种存储器测试方法及芯片，提高了存储器的测试效率以及降低了系统能耗。
2、第一方面，本申请提供了一种存储器测试方
3、对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列；
4、对所述第一排布阵列进行逻辑运算，得到对应的第一逻辑运算结果；
5、判断所述第一逻辑运算结果和第一预设结果是否相同；
6、若所述第一逻辑运算结果和所述第一预设结果相同，对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第二排布阵列；其中，同一所述存储单元在所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中写入的二进制数值不同；
7、对所述第二排布阵列进行逻辑运算，得到对应的第二逻辑运算结果；
8、基于所述第二逻辑运算结果和第二预设结果，判断所述存储器是否存在故障，并输出第一存储器测试结果。
9、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列，包括：
10、从所述存储器的测试起始位置开始，按照地址递增的顺序对所有的存储单元分别写入第一二进制数值，形成第一排布阵列；
11、所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第二排布阵列，包括：
12、从所述存储器的测试起始位置开始，按照地址递增的顺序对所有的存储单元分别写入第二二进制数值，形成第二排布阵列；所述第一二进制数值与所述第二二进制数值不同。
13、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列，包括：
14、将所述存储器的所有存储单元划分为第一类存储单元和第二类存储单元；
15、对所述第一类存储单元写入第一二进制数值，以及对所述第二类存储单元写入第二二进制数值，形成第一排布阵列；
16、所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第二排布阵列，包括：
17、对所述第一类存储单元写入所述第二二进制数值，以及对所述第二类存储单元写入所述第一二进制数值，形成第二排布阵列；所述第一二进制数值与所述第二二进制数值不同。
18、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述将所述存储器的所有存储单元划分为第一类存储单元和第二类存储单元，包括：
19、将所述存储器的其中一个存储单元作为第一类存储单元，其余的所述存储单元作为第二类存储单元；
20、所述方法还包括：
21、将所述存储器的下一个存储单元作为所述第一类存储单元，再次执行测试流程；直至所有的存储单元均作为所述第一类存储单元且完成了所述测试流程。
22、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中相邻两个所述存储单元中的二进制数值不同。
23、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述对所述第一排布阵列进行逻辑运算，得到对应的第一逻辑运算结果，包括：
24、对所述第一排布阵列的每一行分别进行逻辑运算，得到每一行对应的初始逻辑运算结果；
25、对不同行之间的所述初始逻辑运算结果进行逻辑运算，得到所述第一逻辑运算结果。
26、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述基于所述第二逻辑运算结果和第二预设结果，判断所述存储器是否存在故障，包括：
27、若所述第二逻辑运算结果和所述第二预设结果相同，则所述存储器不存在故障；否则所述存储器存在故障。
28、在第一方面的一种可能的实现方式中，所述逻辑运算为逻辑与运算、逻辑或运算、逻辑非运算、逻辑异或运算、逻辑同或运算、逻辑与非运算和逻辑或非运算中的一种。
29、在第一方面的一种可能的实现方式中，同一所述存储单元在所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中写入的二进制数值的逻辑关系相反。
30、第二方面，本申请提供了一种芯片，包括：
31、处理器；
32、存储器，其中存储有所述处理器的可执行程序；
33、其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行程序来执行上述任意一项存储器测试方法的步骤。
34、本申请与现有技术相比，具有以下优点及突出性效果：
35、本申请提供的存储器测试方法及芯片对每个存储单元分别多次写入不同的二进制数值之后，对所有的存储单元进行逻辑运算，基于逻辑运算结果来验证存储器是否存在故障；而不需要对所有存储器单元的数值执行读操作，由于逻辑运算的耗时较短且能耗较低，因此提高了存储器的测试效率以及降低了系统能耗，能够适应实际生产过程中不断变化的测试需求。
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1.一种存储器测试方法，其特征在于，所述存储器包括多个存储单元，所述方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列，包括：
3.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列，包括：
4.如权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述将所述存储器的所有存储单元划分为第一类存储单元和第二类存储单元，包括：
5.如权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中相邻两个所述存储单元中的二进制数值不同。
6.如权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对所述第一排布阵列进行逻辑运算，得到对应的第一逻辑运算结果，包括：
7.如权利要求1-6中任一项所述的存储器测试方法，其特征在于，所述基于所述第二逻辑运算结果和第二预设结果，判断所述存储器是否存在故障，包括：
8.如权利要求1-6中任一项所述的存储器测试方法，其特征在于，所述逻
9.如权利要求1-6中任一项所述的存储器测试方法，其特征在于，同一所述存储单元在所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中写入的二进制数值的逻辑关系相反。
10.一种芯片，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种存储器测试方法，其特征在于，所述存储器包括多个存储单元，所述方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列，包括：
3.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对每一所述存储单元分别写入二进制数值，形成第一排布阵列，包括：
4.如权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述将所述存储器的所有存储单元划分为第一类存储单元和第二类存储单元，包括：
5.如权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中相邻两个所述存储单元中的二进制数值不同。
6.如权利要求3所...
【专利技术属性】
技术研发人员：方盼，苏绩，方运田，郭宁，孙超扬，
申请(专利权)人：杭州世德云测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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