【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试，尤其是一种加速存储芯片测试的方法及其系统、电子设备。
技术介绍
1、在存储芯片的生产流程中，量产测试是一个重要的环节。一般流程中，量产测试时间非常长，由此会导致相应的测试成本也比较高。因此，研究如何缩短量产测试的过程中的测试时间、提高量产测试效率、降低测试成本对于行业发展具有十分重要的意义。
2、相关技术中，在c语言代码的框架下，利用cpu执行测试代码，将数据写入存储芯片的存储空间中，依次读出数据并做比较，直至轮询完整个dram空间，完成测试。在此过程中，测试代码的循环次数非常多，例如单次读写的数据为32bit，则测试容量为1gb的芯片时测试代码需要循环2.68亿次。可见，测试单个存储芯片的耗时较长、测试成本较高。进而，导致了量产测试的测试时间较长、量产测试效率低。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种加速存储芯片测试的方法及其系统、电子设备，能够降低cpu运行成本，对单个存储芯片提高测试效率、减小测试耗时，从而有利于减少量产测试过程中的测试耗时、提高量产测试效率。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种加速存储芯片测试的方法，应用于加速存储芯片测试的系统，所述系统包括：中央处理器cpu、数据读写接口模块、分别与所述cpu和所述数据读写接口模块电连接的硬件加速模块，所述数据读写接口模块用于与待测试的至少一个候选存储芯片连接；
3、所述加速存储芯片测试的方法，包括：
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5、从所述候选存储芯片中确定当前测试的第一目标存储芯片；
6、通过所述数据读写接口模块，基于预设单次读取数据量对第一目标存储芯片中的所述测试数据进行数据读取处理，得到第一回读数据；将所述第一回读数据存储至所述硬件加速模块，通过所述硬件加速模块，对所述测试数据和所述第一回读数据进行对比校验处理，得到对比校验结果；
7、根据所述对比校验结果生成结果标志信息；
8、通过所述cpu检测所述结果标志信息确定所述第一目标存储芯片的测试情况，完成对所述第一目标存储芯片的测试。
9、根据本申请的一些实施例，所述结果标志信息包括：第一标志位和第二标志位；所述根据所述对比校验结果生成结果标志信息包括：
10、当所述对比校验结果为：所述第一回读数据与所述测试数据一致、无误，生成第一标志位；
11、当所述对比校验结果为：所述第一回读数据与所述测试数据不一致、有误，生成第二标志位。
12、根据本申请的一些实施例，所述通过所述cpu检测所述结果标志信息确定所述第一目标存储芯片的测试情况，包括：
13、当所述cpu检测到所述第一标志位，判断所述第一目标存储芯片通过测试；
14、当所述cpu检测到所述第二标志位，判断所述第一目标存储芯片未通过测试。
15、根据本申请的一些实施例，所述基于预设单次读取数据量对第一目标存储芯片中的所述测试数据进行数据读取处理，得到第一回读数据，将所述第一回读数据存储至所述硬件加速模块；通过所述硬件加速模块，对所述测试数据和所述第一回读数据进行对比校验处理，得到对比校验结果，包括：
16、根据初始读取地址和预设单次读取数据量，对所述第一目标存储芯片中的所述测试数据进行一次读取处理，得到数据量为预设单次读取数据量的第一回读子数据；
17、通过所述硬件加速模块，对所述第一回读子数据和所述测试数据进行数据逐位比较处理，得到逐位比较结果；
18、当所述逐位比较结果为数据对比一致、不存在错误，且判断当前地址不是预设结束地址，则将当前地址递增得到更新地址；
19、根据所述更新地址和预设单次读取数据量，对所述第一目标存储芯片中的所述测试数据进行再次读取处理，得到数据量为预设单次读取数据量的第二回读子数据；
20、通过所述硬件加速模块，对所述第二回读子数据和所述测试数据进行数据逐位比较处理，得到逐位比较结果；
21、当所述逐位比较结果为数据对比一致、不存在错误，且判断当前地址为预设结束地址，结束所述数据读取处理和对比校验处理，确定所述对比校验结果为：所述第一回读数据与所述测试数据一致、无误。
22、根据本申请的一些实施例，所述得到逐位比较结果之后，所述方法还包括：
23、当所述逐位比较结果为数据对比不一致、存在错误，结束所述数据读取处理和对比校验处理；
24、确定所述对比校验结果为：所述第一回读数据与所述测试数据不一致、有误；
25、记录校验失败地址；将所述校验失败地址和不一致的所述第一回读数据均返回给所述cpu。
26、根据本申请的一些实施例，所述硬件加速模块包括多个硬件寄存器；每个硬件寄存器的存储量相同；所述预设单次读取数据量由每个所述硬件寄存器的存储量与寄存器数量确定；所述通过所述硬件加速模块，对所述第一回读子数据和所述测试数据进行数据逐位比较处理，得到逐位比较结果，包括：
27、将所述第一回读子数据写入多个所述硬件寄存器中；
28、通过多个所述硬件寄存器串行地对所述第一回读子数据和所述测试数据进行数据逐位比较处理，得到逐位比较结果。
29、根据本申请的一些实施例，完成对所述第一目标存储芯片的测试之后，所述方法还包括：
30、清空所述硬件加速模块中的所述第一回读数据，从剩余未测试的所述候选存储芯片里按顺序确定下一个待测试的第二目标存储芯片；
31、通过所述数据读写接口模块，基于预设单次读取数据量对所述第二目标存储芯片中的所述测试数据进行数据读取处理，得到第二回读数据；将所述第二回读数据存储至所述硬件加速模块，通过所述硬件加速模块，对所述测试数据和所述第二回读数据进行对比校验处理，得到对比校验结果；根据所述对比校验结果生成结果标志信息；通过所述cpu检测所述结果标志信息确定所述第一目标存储芯片的测试情况，完成对所述第二目标存储芯片的测试；
32、直至依次地对剩余的所有所述候选存储芯片完成测试，结束芯片量产测试。
33、第二方面，本申请实施例提供了一种加速存储芯片测试的系统，包括：中央处理器cpu、数据读写接口模块、分别与所述cpu和所述数据读写接口模块电连接的硬件加速模块，所述数据读写接口模块用于与待测试的至少一个候选存储芯片连接；
34、所述加速存储芯片测试的系统用于：响应于汇编代码测试指令，通过所述数据读写接口模块向所述候选存储芯片的全空间写入测试数据；从所述候选存储芯片中确定当前测试的第一目标存储芯片；通过所述数据读写接口模块，基于预设单次读取数据量对第一目标存储芯片中的所述测试数据进行数据读取处理，得到第一回读数据；将所述第一回读数据存储至所述硬件加速模块，通过所述硬件加速模块，对所述测试数据和所本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种加速存储芯片测试的方法，其特征在于，应用于加速存储芯片测试的系统，所述系统包括：中央处理器CPU、数据读写接口模块、分别与所述CPU和所述数据读写接口模块电连接的硬件加速模块，所述数据读写接口模块用于与待测试的至少一个候选存储芯片连接；
2.根据权利要求1所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述结果标志信息包括：第一标志位和第二标志位；所述根据所述对比校验结果生成结果标志信息包括：
3.根据权利要求2所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述通过所述CPU检测所述结果标志信息确定所述第一目标存储芯片的测试情况，包括：
4.根据权利要求1所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述基于预设单次读取数据量对第一目标存储芯片中的所述测试数据进行数据读取处理，得到第一回读数据，将所述第一回读数据存储至所述硬件加速模块；通过所述硬件加速模块，对所述测试数据和所述第一回读数据进行对比校验处理，得到对比校验结果，包括：
5.根据权利要求4所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述得到逐位比较结果之后，所述方法还包括：>
6.根据权利要求1所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述硬件加速模块包括多个硬件寄存器；每个硬件寄存器的存储量相同；所述预设单次读取数据量由每个所述硬件寄存器的存储量与寄存器数量确定；所述通过所述硬件加速模块，对所述第一回读子数据和所述测试数据进行数据逐位比较处理，得到逐位比较结果，包括：
7.根据权利要求1所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，完成对所述第一目标存储芯片的测试之后，所述方法还包括：
8.一种加速存储芯片测试的系统，其特征在于，包括：中央处理器CPU、数据读写接口模块、分别与所述CPU和所述数据读写接口模块电连接的硬件加速模块，所述数据读写接口模块用于与待测试的至少一个候选存储芯片连接；
9.根据权利要求8所述的加速存储芯片测试的系统，其特征在于，所述硬件加速模块包括多个硬件寄存器；每个硬件寄存器的存储量相同；所述预设单次读取数据量由每个所述硬件寄存器的存储量与寄存器数量确定。
10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求8至9任一项所述的加速存储芯片测试的系统。
...【技术特征摘要】
1.一种加速存储芯片测试的方法，其特征在于，应用于加速存储芯片测试的系统，所述系统包括：中央处理器cpu、数据读写接口模块、分别与所述cpu和所述数据读写接口模块电连接的硬件加速模块，所述数据读写接口模块用于与待测试的至少一个候选存储芯片连接；
2.根据权利要求1所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述结果标志信息包括：第一标志位和第二标志位；所述根据所述对比校验结果生成结果标志信息包括：
3.根据权利要求2所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述通过所述cpu检测所述结果标志信息确定所述第一目标存储芯片的测试情况，包括：
4.根据权利要求1所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述基于预设单次读取数据量对第一目标存储芯片中的所述测试数据进行数据读取处理，得到第一回读数据，将所述第一回读数据存储至所述硬件加速模块；通过所述硬件加速模块，对所述测试数据和所述第一回读数据进行对比校验处理，得到对比校验结果，包括：
5.根据权利要求4所述的加速存储芯片测试的方法，其特征在于，所述得到逐位比较结果之后，所述方...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓森，胡秋勇，赖鼐，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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