缺陷检测装置及缺陷检测系统制造方法及图纸

技术编号:42889892 阅读:15 留言:0更新日期:2024-09-30 15:10
本申请公开了一种缺陷检测装置及缺陷检测系统。缺陷检测装置包括支架机构、第一检测机构及第二检测机构。支架机构包括第一支架组件及第二支架组件,所述第二支架组件安装于所述第一支架组件。第一检测机构可活动地设于第一支架组件并朝向待检测件的顶部,第一检测机构用于检测待检测件的顶部的缺陷。第一检测机构包括第一照明组件及第一拍摄组件;第一照明组件包括同轴设置的同轴光源及环形AOI光源。第二检测机构可活动地设于第一支架组件和第二支架组件并朝向待检测件的侧面,第二检测机构用于检测待检测件的侧面的缺陷。同轴设置的同轴光源和环形AOI光源能够对待检测件的顶部打出更多种类的光线,检验精度较高,不易漏检缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及缺陷检测领域,更具体而言,涉及一种缺陷检测装置及缺陷检测系统


技术介绍

1、待检测件,例如电池极柱,在制备过程中由于工艺原因可能会产生一些表面的缺陷,例如:表面划痕、凹坑、胶圈残缺、焊接不良或凸起等。待检测件表面的缺陷可能会导致安全隐患或影响产品质量。目前的机器视觉检测待检测件表面的缺陷多使用单一的同轴光源。同轴光源可以克服表面反光带来的干扰。但对于表面粗糙的漫反射待检测件,同轴光源对于浅划痕的对比度较弱,因此浅划痕可能被背景淹没,有漏检的风险。


技术实现思路

1、本申请实施方式提供一种缺陷检测装置及缺陷检测系统,至少用于解决单一光源的缺陷检测装置容易造成漏检的问题。

2、本申请实施方式的缺陷检测装置包括支架机构、第一检测机构及第二检测机构。所述支架机构包括第一支架组件及第二支架组件,所述第二支架组件安装于所述第一支架组件。所述第一检测机构可活动地设于所述第一支架组件并朝向待检测件的顶部,所述第一检测机构用于检测所述待检测件的顶部的缺陷。所述第一检测机构包括第一照明组件及第一拍摄组件,所述第一支架组件设有容纳空间,所述第一照明组件可活动地安装于所述第一支架组件并设于所述容纳空间内,所述第一照明组件用于闪烁照亮所述待检测件的顶部;所述第一照明组件包括同轴设置的同轴光源及环形aoi光源,所述第一拍摄组件可活动地设于所述第一支架组件,所述第一拍摄组件与所述第一照明组件同轴,所述第一拍摄组件的部分结构经所述第一照明组件以与所述待检测件的顶部对应。所述第二检测机构可活动地设于所述第一支架组件和所述第二支架组件并朝向所述待检测件的侧面,所述第二检测机构用于检测所述待检测件的侧面的缺陷。

3、在某些实施方式中,所述第一检测机构还包括第一调节组件,所述第一调节组件安装于所述第一拍摄组件,所述第一调节组件用于沿第一方向和第二方向调节所述第一拍摄组件与所述第一支架组件之间的相对位置。所述第一方向与所述第一照明组件的中心轴平行,所述第一方向与所述第二方向垂直。

4、在某些实施方式中,所述第一支架组件包括安装板及支撑臂。所述安装板设有让位孔,所述第一拍摄组件安装于所述安装板的第一侧并与所述让位孔对应。所述支撑臂安装于所述安装板并伸入所述让位孔内,所述第一照明组件安装于所述支撑臂,且所述第一照明组件与所述让位孔对应。

5、在某些实施方式中,所述支撑臂包括第一部及第二部,所述第一部固定于所述安装板,所述第二部可活动地设于所述第一部,所述第一照明组件安装于所述第二部。在所述第二部沿第一方向相对所述第一部移动的情况下,所述第一照明组件相对所述安装板沿第一方向移动。

6、在某些实施方式中,所述第二检测机构包括多个第二照明组件及多个第二拍摄组件。所述第二照明组件设于所述第二支架组件并与所述待检测件的至少一个侧面对应,所述第二照明组件用于闪烁照亮所述待检测件对应的侧面。所述第二拍摄组件可活动地设于所述第二支架组件,每个所述第二拍摄组件均位于相邻设置的两个第二照明组件之间,以与所述待检测件的两个相接的侧面对应。

7、在某些实施方式中,所述第二检测机构还包括第二调节组件,所述第二调节组件安装于所述第二拍摄组件。所述第二调节组件用于沿第三方向和第四方向调节所述第二拍摄组件与所述第二支架组件之间的相对位置,所述第三方向与所述第四方向垂直。

8、在某些实施方式中,所述第二支架组件包括安装框及多个支撑架。所述第二照明组件沿第一方向可活动地设于所述安装框的任意一个侧壁上并朝向所述待检测件的侧面。所述第一支架组件包括安装板,所述支撑架与所述安装板连接并位于所述安装板的第二侧,所述第二拍摄组件可活动地设于所述支撑架。

9、在某些实施方式中,所述支撑架设有第一调节槽,所述第二拍摄组件用于沿所述第一调节槽移动以调节所述第二拍摄组件的拍摄轴线与所述待检测件的侧面之间的夹角。所述安装板设有第二调节槽,所述支撑架用于沿所述第二调节槽移动以调节所述第二拍摄组件与所述待检测件之间的距离。

10、本申请实施方式的缺陷检测系统包括上述任一实施方式所述的缺陷检测装置及控制组件,所述控制组件与所述缺陷检测装置的第一检测机构和第二检测机构均电连接。所述控制组件用于在所述待检测件运动并经过所述缺陷检测装置的检测位置的情况下控制所述第一检测机构检测所述待检测件的顶部的缺陷;及在所述第一检测机构检测完毕后控制所述第二检测机构检测所述待检测件的侧面的缺陷。

11、在某些实施方式中,所述第一检测机构包括第一照明组件和第一拍摄组件,所述第二检测机构包括第二照明组件和第二拍摄组件;所述控制组件包括继电器、数字频闪控制器及爆闪光源控制器。所述继电器用于在所述待检测件运动并经过所述缺陷检测装置的检测位置的情况下发出触发信号。所述数字频闪控制器与所述继电器、所述第一照明组件和所述第一拍摄组件均电连接,所述第一拍摄组件的触发端口与所述数字频闪控制器的输出端口直接连接。所述数字频闪控制器用于接收触发信号以控制所述第一照明组件闪烁以照亮所述待检测件的顶部及控制所述第一拍摄组件拍摄所述待检测件的顶部的图像,以检测所述待检测件的顶部的缺陷。所述爆闪光源控制器与所述继电器、所述第二照明组件及所述第二拍摄组件均电连接,所述第二拍摄组件的触发端口与所述爆闪光源控制器的输出端口直接连接。所述爆闪光源控制器用于接收触发信号并在所述第一检测机构检测完毕后控制所述第二照明组件闪烁以照亮所述待检测件的侧面及控制所述第二拍摄组件拍摄所述待检测件的侧面的图像,以检测所述待检测件的侧面的缺陷。

12、本申请的缺陷检测装置及缺陷检测系统中,同轴设置的同轴光源和环形aoi光源能够对待检测件的顶部打出更多种类的光线,并且第一检测机构能够通过颜色分辨不同缺陷。或者通过配置环形aoi光源中的各色光源,对同一缺陷表现出不同的特征,检验精度较高,不易漏检缺陷。

13、本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实施方式的实践了解到。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第一检测机构还包括:

3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第一支架组件包括:

4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述支撑臂包括第一部及第二部,所述第一部固定于所述安装板,所述第二部可活动地设于所述第一部,所述第一照明组件安装于所述第二部;在所述第二部沿第一方向相对所述第一部移动的情况下,所述第一照明组件相对所述安装板沿第一方向移动。

5.根据权利要求3所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第二检测机构包括:

6.根据权利要求5所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第二检测机构还包括:

7.根据权利要求5所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第二支架组件包括:

8.根据权利要求7所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述支撑架设有第一调节槽,所述第二拍摄组件用于沿所述第一调节槽移动以调节所述第二拍摄组件的拍摄轴线与所述待检测件的侧面之间的夹角;所述安装板设有第二调节槽,所述支撑架用于沿所述第二调节槽移动以调节所述第二拍摄组件与所述待检测件之间的距离。

9.一种缺陷检测系统,其特征在于,包括:

10.根据权利要求9所述的缺陷检测系统,其特征在于,所述第一检测机构包括第一照明组件和第一拍摄组件,所述第二检测机构包括第二照明组件和第二拍摄组件;所述控制组件包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第一检测机构还包括:

3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第一支架组件包括:

4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述支撑臂包括第一部及第二部,所述第一部固定于所述安装板,所述第二部可活动地设于所述第一部,所述第一照明组件安装于所述第二部;在所述第二部沿第一方向相对所述第一部移动的情况下,所述第一照明组件相对所述安装板沿第一方向移动。

5.根据权利要求3所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述第二检测机构包括:

6.根据权利要求5所述的缺陷检测装置,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:张勤付翔宇李国军
申请(专利权)人:苏州凌云光工业智能技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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