【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及探针测试，具体涉及一种稳定接触导通的微针测试装置、测试系统及测试方法。
技术介绍
1、现有的b2b连接器(board－to－board connector，板对板连接器)用于连接不同的电路板或者软排线，使两个电路板或者软排线之间可以实现信号的传输。此连接器可分为公头连接器、母头连接器，两种连接器侧面均设有若干个导电接触点。b2b连接器被大量用于3c类产品主板上(主板上基本都焊接母头连接器)，保证其质量是生产过程的重中之重。
2、现有的测试中，公母头对接扣合的方式，这种方式操作复杂且可能对产品被测连接器造成损耗，导致被测的公头连接器或母头连接器造成损伤，降低产品质量。对此，企业设计出连接器测试设备，部分测试设备通过探针与母头连接器进行连通，在长期测试过程中，探针会与母头连接器频繁接触而出现损坏，而探针往往固定于测试设备上，若要更换需更换固定探针的整个部件，存在更换成本高的问题。
技术实现思路
1、因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的探针会与母头连接器频繁接触而出现损坏，探针往往固定于测试设备上，若要更换需更换固定探针的整个部件，存在更换损坏探针成本高的缺陷，从而提供一种稳定接触导通的微针测试装置、测试系统及测试方法。
2、为了解决上述问题，本专利技术提供了一种稳定接触导通的微针测试装置，包括：
3、固定组件，所述固定组件设有第一探针所述固定组件设有容纳空间；
4、浮动组件，与所述容纳空间内，所述浮动组件设有
5、可选地，所述固定组件包括探针固定块，所述第一探针设于探针固定块内，所述浮动组件包括浮动块，所述第二探针设于浮动块内，所述第一探针设有第一针头端，所述第一针头端伸出探针固定块，所述第二探针设有中空柱，所述第一针头端伸入中空柱内。
6、可选地，所述第二探针设有第二针头端，所述中空柱的直径大于第二针头端的直径，所述浮动块内设有阶梯孔，所述第二针头端穿过阶梯孔伸出浮动块设置，所述第二针头端伸入待测母头连接器的连通槽内。
7、可选地，所述探针固定块设有第一凸起端，所述浮动块设有凹槽，所述第一凸起端与凹槽适配。
8、可选地，所述固定组件还包括盖体，所述盖体设有中心通孔，所述浮动块设有第二凸起端，所述第二凸起端穿过中心通孔设置，所述第二凸起端与中心通孔适配。
9、可选地，所述探针固定块设有第一容纳槽，所述浮动块设有第二容纳槽，所述第一容纳槽和第二容纳槽对应设置，所述第一容纳槽和第二容纳槽间设有弹性件。
10、可选地，所述固定组件还包括探针固定板，所述第一探针穿过探针固定块后伸入探针固定板内。
11、可选地，还包括转接pcb板和紧固件，所述探针固定板设于探针固定块和转接pcb板之间，所述紧固件依次穿过转接pcb板、探针固定板、探针固定块和盖体。
12、一种测试系统，包括上述的稳定接触导通的微针测试装置。
13、一种稳定接触导通的微针测试装置的测试方法，在导电测试状态下，第二探针的一端适于与待测母头连接器连接，第二探针的另一端与第一探针滑动连接，电流经第一探针、第二探针到达待测母头连接器内。
14、本专利技术技术方案，具有如下优点：
15、1.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，包括：固定组件，固定组件设有第一探针，固定组件设有容纳空间；浮动组件，与容纳空间内，浮动组件设有可拆卸的第二探针，第二探针的一端适于与待测母头连接器连接，第二探针的另一端与第一探针滑动连接。
16、在导电测试状态下，第二探针的一端适于与待测母头连接器连接，第二探针的另一端与第一探针滑动连接，电流经第一探针、第二探针到达待测母头连接器内。由于第二探针与待测母头连接器通过插接的方式进行连接，第二探针会经常遭受待测母头连接器的冲击，出现某根或某几根的第二探针损坏的问题，当需要更换第二探针时，由于第二探针为可拆卸设置，即可拆卸掉仅需更换的某根或某几根第二探针，无需更换浮动块+第二探针的整个部件，有效降低了更换成本。
17、2.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，固定组件包括探针固定块，第一探针设于探针固定块内，浮动组件包括浮动块，第二探针设于浮动块内，第一探针设有第一针头端，第一针头端伸出探针固定块，第二探针设有中空柱，第一针头端伸入中空柱内。当第一针头端伸出探针固定块，实现第二探针和第一探针滑动连接。
18、3.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，第二探针设有第二针头端，中空柱的直径大于第二针头端的直径，浮动块内设有阶梯孔，第二针头端穿过阶梯孔伸出浮动块设置，第二针头端伸入待测母头连接器的连通槽内由第二针头端，浮动块通过阶梯孔对第二探针进行固定，实现与待测母头连接器的连接。
19、4.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，探针固定块设有第一凸起端，浮动块设有凹槽，第一凸起端与凹槽适配，便于探针固定块与浮动块间的相对运动。
20、5.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，固定组件还包括盖体，盖体设有中心通孔，浮动块设有第二凸起端，第二凸起端穿过中心通孔设置，第二凸起端与中心通孔适配，便于浮动块相对于盖体进行相对运动。
21、6.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，探针固定块设有第一容纳槽，浮动块设有第二容纳槽，第一容纳槽和第二容纳槽对应设置，第一容纳槽和第二容纳槽内设有弹性件，待测母头连接器与第二探针连接时会对浮动块产生冲击力，弹性件以缓冲由浮动块到探针固定块的力。
22、7.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，固定组件还包括探针固定板，第一探针穿过探针固定块后伸入探针固定板内，实现探针固定块和探针固定板间的连接。
23、8.本专利技术提供的稳定接触导通的微针测试装置，还包括转接pcb板和紧固件，探针固定板设于探针固定块和转接pcb板之间，紧固件依次穿过转接pcb板、探针固定板、探针固定块和盖体，由紧固件实现固定连接，使转接pcb板、探针固定板、探针固定块和盖体成一体固定设置。
24、9.本专利技术提供的测试系统，由于采用了上述任一项所述的稳定接触导通的微针测试装置，因此具有上述任一项所述的优点。
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1.一种稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)包括探针固定块(201)，所述第一探针(206)设于探针固定块(201)内，所述浮动组件(1)包括浮动块(101)，所述第二探针(102)设于浮动块(101)内，所述第一探针(206)设有第一针头端(2061)，所述第一针头端(2061)伸出探针固定块(201)，所述第二探针(102)设有中空柱(1022)，所述第一针头端(2061)伸入中空柱(1022)内。
3.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述第二探针(102)设有第二针头端(1021)，所述中空柱(1022)的直径大于第二针头端(1021)的直径，所述浮动块(101)内设有阶梯孔，所述第二针头端(1021)穿过阶梯孔伸出浮动块(101)设置，所述第二针头端(1021)伸入待测母头连接器(3)的连通槽内。
4.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述探针固定块(201)设有第一凸起端(2011)，所述
5.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)还包括盖体(208)，所述盖体(208)设有中心通孔(2081)，所述浮动块(101)设有第二凸起端(1011)，所述第二凸起端(1011)穿过中心通孔(2081)设置，所述第二凸起端(1011)与中心通孔(2081)适配。
6.根据权利要求5所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述探针固定块(201)设有第一容纳槽(2012)，所述浮动块(101)设有第二容纳槽(1013)，所述第一容纳槽(2012)和第二容纳槽(1013)对应设置，所述第一容纳槽(2012)和第二容纳槽(1013)间设有弹性件(207)。
7.根据权利要求6所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)还包括探针固定板(202)，所述第一探针(206)穿过探针固定块(201)后伸入探针固定板(202)内。
8.根据权利要求7所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，还包括转接PCB板(203)和紧固件(204)，所述探针固定板(202)设于探针固定块(201)和转接PCB板(203)之间，所述紧固件(204)依次穿过转接PCB板(203)、探针固定板(202)、探针固定块(201)和盖体(208)。
9.一种测试系统，其特征在于，包括权利要求1－8任一项所述的稳定接触导通的微针测试装置。
10.一种稳定接触导通的微针测试装置的测试方法，用于使用权利要求1所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，在导电测试状态下，第二探针(102)的一端适于与待测母头连接器(3)连接，第二探针(102)的另一端与第一探针(206)滑动连接，电流经第一探针(206)、第二探针(102)到达待测母头连接器(3)内。
...【技术特征摘要】
1.一种稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)包括探针固定块(201)，所述第一探针(206)设于探针固定块(201)内，所述浮动组件(1)包括浮动块(101)，所述第二探针(102)设于浮动块(101)内，所述第一探针(206)设有第一针头端(2061)，所述第一针头端(2061)伸出探针固定块(201)，所述第二探针(102)设有中空柱(1022)，所述第一针头端(2061)伸入中空柱(1022)内。
3.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述第二探针(102)设有第二针头端(1021)，所述中空柱(1022)的直径大于第二针头端(1021)的直径，所述浮动块(101)内设有阶梯孔，所述第二针头端(1021)穿过阶梯孔伸出浮动块(101)设置，所述第二针头端(1021)伸入待测母头连接器(3)的连通槽内。
4.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述探针固定块(201)设有第一凸起端(2011)，所述浮动块(101)设有凹槽(1012)，所述第一凸起端(2011)与凹槽(1012)适配。
5.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)还包括盖体(208)，所述盖体(208)设有中心通孔(2081)，所述浮动块(101)设有第二凸起端(1011)，所述第二凸起端(1011)穿过中心通孔...
【专利技术属性】
技术研发人员：何志伟，胡江波，程黎辉，关亚东，
申请(专利权)人：龙旗电子惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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