System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 存储颗粒及应用于存储颗粒的数据巡检方法技术_技高网

存储颗粒及应用于存储颗粒的数据巡检方法技术

技术编号:42880107 阅读:11 留言:0更新日期:2024-09-30 15:04
本公开涉及一种存储颗粒及应用于存储颗粒的数据巡检方法,其中,存储颗粒包括:外围电路和存储阵列。外围电路,耦接存储阵列,被配置为接收读取验证命令,并基于读取验证命令从存储阵列中读取对应的读出数据,以及,对读出数据进行比对统计。这样,读出数据不需要传输至外部的控制器进行比对统计。从而,提高了巡检效率,并且,减小了数据接口的带宽负担。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及集成电路领域,尤其涉及一种存储颗粒及应用于存储颗粒的数据巡检方法


技术介绍

1、在目前的存储系统中,数据巡检时的数据对比都是由控制器来完成的。在正常工作状态下,控制器对存储颗粒进行读写操作。在数据巡检的工作状态下,控制器获取存储颗粒中目标地址对应的读出数据,并对读出数据进行比对统计。由于该方式需要控制器来进行比对统计,消耗了控制器的处理资源,增加了数据端口的带宽负担,增加了数据传输时长,降低了数据巡检的效率。


技术实现思路

1、有鉴于此,本公开实施例提供了一种存储颗粒及应用于存储颗粒的数据巡检方法,以提高数据巡检的效率。

2、本专利技术的技术方案是这样实现的:

3、本公开实施例提供了一种存储颗粒,包括:外围电路和存储阵列;所述外围电路,耦接所述存储阵列,被配置为接收读取验证命令,并基于所述读取验证命令从所述存储阵列中读取对应的读出数据,以及,对所述读出数据进行比对统计。

4、上述方案中,所述外围电路包括:数据通路和数据比对模块;所述数据通路,被配置为接收并缓存所述读取验证命令中的期望数据;所述数据比对模块,分别耦接所述数据通路和所述存储阵列,被配置为接收来自所述数据通路的所述期望数据和来自所述存储阵列的所述读出数据,以及,基于所述期望数据对所述读出数据进行比对统计并生成对应的结果标志信号。

5、上述方案中,所述数据比对模块,被配置为在所述读出数据和所述期望数据不一致的比特数大于等于预设阈值的情况下,输出第一电平的所述结果标志信号;或者,在所述读出数据和所述期望数据不一致的比特数小于所述预设阈值的情况下,输出第二电平的所述结果标志信号;其中,所述第一电平和所述第二电平互为反相。

6、上述方案中,所述外围电路还包括:逻辑控制模块;所述数据通路,耦接所述存储阵列,还被配置为接收所述读取验证命令中的数据巡检标识;所述逻辑控制模块,分别耦接所述数据通路和所述存储阵列,被配置为接收来自所述数据通路的所述数据巡检标识,并基于所述数据巡检标识从所述存储阵列中读取所述数据巡检标识对应的目标地址的所述读出数据。

7、上述方案中,所述外围电路还包括:第一寄存器;所述第一寄存器,耦接所述数据比对模块,被配置为接收寄存器配置命令,并根据寄存器配置命令设置所述预设阈值。

8、上述方案中,所述外围电路还包括:脉冲生成模块;所述脉冲生成模块,被配置为接收所述结果标志信号,将所述结果标志信号转化为对应的脉冲宽度的脉冲信号;其中,所述脉冲信号的脉冲宽度根据所述结果标志信号的电平而确定。

9、上述方案中,所述存储颗粒还包括:第一引脚和第二引脚;所述第一引脚,耦接所述数据通路,被配置为向所述数据通路传输数据巡检标识和所述期望数据;所述第二引脚,耦接所述脉冲生成模块,被配置为按照预设时序将所述脉冲信号传输至外部的控制器。

10、本公开实施例还提供了一种应用于存储颗粒的数据巡检方法,包括:将读取验证命令发送至存储颗粒的外围电路;所述外围电路读出所述读取验证命令对应的读出数据;所述外围电路对所述读出数据进行比对统计。

11、上述方案中,所述外围电路对所述读出数据进行比对统计,包括:接收并缓存所述读取验证命令中的期望数据;在所述读出数据和所述期望数据不一致的比特数大于等于预设阈值的情况下,输出第一电平的结果标志信号;或者,在所述读出数据和所述期望数据不一致的比特数小于所述预设阈值的情况下,输出第二电平的结果标志信号;其中,所述第一电平和所述第二电平互为反相。

12、上述方案中,将所述读取验证命令发送至所述存储颗粒的所述外围电路,包括:按照预设时序,通过行地址总线发送所述读取验证命令中的目标地址;按照所述预设时序,通过数据总线发送所述读取验证命令中的期望数据。

13、本公开实施例提供了一种存储颗粒,存储颗粒包括:外围电路和存储阵列。外围电路,耦接存储阵列,被配置为接收读取验证命令,并基于读取验证命令从存储阵列中读取对应的读出数据,以及,对读出数据进行比对统计。这样,本公开实施例中读出数据的比对统计过程是由存储颗粒完成的。读出数据不需要传输至外部的控制器进行比对统计。从而,减少了数据的传输时间,减少了整个数据巡检流程的处理时间,提高了数据巡检效率,并且,减小了存储颗粒与外部的控制器之间数据接口的带宽负担。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储颗粒,其特征在于,包括:外围电路和存储阵列;

2.根据权利要求1所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路包括:数据通路和数据比对模块;

3.根据权利要求2所述存储颗粒,其特征在于,

4.根据权利要求3所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路还包括:第一寄存器;

5.根据权利要求2至4任一项所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路还包括:逻辑控制模块;

6.根据权利要求2至4任一所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路还包括:脉冲生成模块;

7.根据权利要求6所述存储颗粒,其特征在于,所述存储颗粒还包括:第一引脚和第二引脚;

8.一种应用于存储颗粒的数据巡检方法,其特征在于,包括:

9.根据权利要求8所述数据巡检方法,其特征在于,所述外围电路对所述读出数据进行比对统计,包括:

10.根据权利要求8所述数据巡检方法,其特征在于,将所述读取验证命令发送至所述存储颗粒的所述外围电路,包括:

【技术特征摘要】

1.一种存储颗粒,其特征在于,包括:外围电路和存储阵列;

2.根据权利要求1所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路包括:数据通路和数据比对模块;

3.根据权利要求2所述存储颗粒,其特征在于,

4.根据权利要求3所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路还包括:第一寄存器;

5.根据权利要求2至4任一项所述存储颗粒,其特征在于,所述外围电路还包括:逻辑控制模块;

6.根据权利要求2至4任一所述存...

【专利技术属性】
技术研发人员:李森孙晓军张曙泽李建平
申请(专利权)人:新存科技武汉有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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