【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于内存检测，尤其涉及一种存储单元故障筛查电路、方法、装置、存储介质及系统。
技术介绍
1、服务器的可靠性和稳定性对于企业和组织的正常运营至关重要。据统计，在导致服务器的宕机事件中，由于内存故障导致的宕机占比最多，约为70%左右。因此在服务器组装前需要对内存组件，尤其是对内存颗粒，进行强度测试。
2、当前内存测试方法包括软件测试以及硬件测试。在软件测试中，主要通过软件对颗粒或内存条整体进行读写，并通过变更读写时序、使用多种不同类型的测试算法来实现不同功能的测试。硬件测试中则主要通过调整工作电压、工作温度等测试条件来进行测试。
3、当前业界的内存测试技术均存在测试覆盖度与测试效率相互矛盾的问题，且现有的测试装置难以对快速、准确地定位得知内存的故障位置和内存芯片的性能数据。
技术实现思路
1、本申请实施例的目的在于提供一种存储单元故障筛查电路，旨在解决当前业界的内存测试技术均存在测试覆盖度与测试效率难以兼顾，且现有的测试装置难以对快速、准确地定位得知内存的故障位置和内存芯片的性能数据的问题。
2、本申请实施例是这样实现的，提供一种存储单元故障筛查电路，若干个存储单元形成一个存储阵列，所述电路包括：控制单元、开关单元以及库伦计量单元；所述控制单元与所述开关单元连接，用于控制各个开关单元的工作状态；所述开关单元与待测内存和所述库伦计量单元连接，所述开关单元设置有若干个，每个所述开关单元均对应连接一个所述存储阵列；所述开关单元具有两个工作状态，工
3、优选地，所述库伦计量单元包括：库伦计量芯片、测量电阻以及接地端；所述测量电阻的第一端为库伦计量单元的输入端，用于与所述开关单元连接，所述测量电阻的第二端接地；所述库伦计量芯片用于测量流经所述测量电阻的电荷量，所述库伦计量芯片具有正测量端和负测量端，所述正测量端与所述测量电阻的第一端连接，所述负测量端与所述测量电阻的第二端连接；所述库伦计量芯片还具有测量信号输出端，用于输出库伦测量值。
4、优选地，所述开关单元包括：所述开关单元包括：第一输入端、第一输出端、第二输出端以及控制端；所述第一输入端用于与一个存储阵列连接；所述第一输出端接地；所述第二输出端与用于与库伦计量单元的输入端连接；所述控制端与所述控制单元的一路控制信号输出端连接。
5、优选地，所述开关单元设置有4个，每个所述开关单元的第二输出端均连接至测量总线上，所述测量总线与库伦计量芯片的输入端连接。
6、本申请实施例的另一目的在于，提供一种存储单元故障筛查方法，所述方法基于如上所述的存储单元故障筛查电路实施，所述方法包括如下步骤：
7、s10、将所述库伦计量单元的测量信号输出端和所述控制单元的控制信号输入端与待测内存的smbus总线连通；
8、s20、关闭待测内存的内存交织功能，并解析待测内存的存储阵列的地址范围，定位待测内存的数据芯片和存储阵列；每个待测内存含有若干存储区块，每个所述存储区块含有若干数据芯片，每个所述数据芯片含有若干存储阵列；
9、s30、对待测内存的每个存储阵列进行单独供电，并进行写1操作；经过预设放电时间后，对该阵列进行写0，基于库伦计量单元得到该阵列写0后剩余库伦量；
10、s40、逐次对待测内存的全部所述存储阵列进行测试，得到每个存储芯片的全部存储阵列的剩余库伦量集合，将所述剩余库伦量集合与预设的性能参数阈值进行比对，得到存储芯片的性能等级。
11、优选地，所述方法还包括：
12、s50、基于所述性能参数阈值，筛选得到达到预设故障标准的故障存储芯片以及故障存储阵列；
13、s60、基于内存故障测试算法，对所述故障存储阵列中的故障区间进行精确定位，得到故障区间的地址；
14、s70、基于内存故障修复算法和所述故障区间的地址，对所述故障区间进行修复。
15、优选地，所述方法还包括：
16、s80、在进行完毕步骤s70后，多次重复步骤s10~ s40，得到所述剩余库伦量集合小于预设值存储芯片，对该存储芯片基于步骤s60~s70进行修复，以提高良品率。
17、本申请实施例的另一目的在于，提供一种存储单元故障筛查装置，所述存储单元故障筛查装置包括：
18、测量启动模块，用于将所述库伦计量单元的测量信号输出端和所述控制单元的控制信号输入端与待测内存的smbus总线连通；
19、测量预设值模块，用于关闭待测内存的内存交织功能，并解析待测内存的存储阵列的地址范围，定位待测内存的数据芯片和存储阵列；每个待测内存含有若干存储区块，每个所述存储区块含有若干数据芯片，每个所述数据芯片含有若干存储阵列；
20、剩余库伦量获取模块，用于对待测内存的每个存储阵列进行单独供电，并进行写1操作；经过预设放电时间后，对该阵列进行写0，基于库伦计量单元得到该阵列写0后剩余库伦量；
21、芯片性能等级获取模块，用于逐次对待测内存的全部所述存储阵列进行测试，得到每个存储芯片的全部存储阵列的剩余库伦量集合，将所述剩余库伦量集合与预设的性能参数阈值进行比对，得到存储芯片的性能等级。
22、本申请实施例的另一目的在于，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如上所述的存储单元故障筛查方法的步骤。
23、本申请实施例的另一目的在于，提供一种存储单元故障筛查系统，所述系统在运行时，执行如上所述的存储单元故障筛查方法的步骤。
24、本申请实施例提供的一种存储单元故障筛查电路，能够对于不同的内存阵列进行单独控制放电，并通过库伦计量单元得到各个存储阵列的电荷量保持情况，进而能够精确得知各个阵列模块的性能数据，准确定位得知故障区域和故障水平，装置整体测试精度高、速度快且生成和使用的成本低，利于推广和使用。
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1.一种存储单元故障筛查电路，若干个存储单元形成一个存储阵列，其特征在于，所述电路包括：控制单元、开关单元以及库伦计量单元；
2.根据权利要求1所述的一种存储单元故障筛查电路，其特征在于，所述库伦计量单元包括：库伦计量芯片、测量电阻以及接地端；
3.根据权利要求1所述的一种存储单元故障筛查电路，其特征在于，所述开关单元包括：第一输入端、第一输出端、第二输出端以及控制端；
4.根据权利要求3所述的一种存储单元故障筛查电路，其特征在于，所述开关单元设置有4个，每个所述开关单元的第二输出端均连接至测量总线上，所述测量总线与库伦计量芯片的输入端连接。
5.一种存储单元故障筛查方法，其特征在于，所述方法基于如权利要求1至4中任意一项所述的存储单元故障筛查电路实施，所述方法包括如下步骤：
6.根据权利要求5所述的一种存储单元故障筛查方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的一种存储单元故障筛查方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.一种存储单元故障筛查装置，其特征在于，所述存储单元故障筛查装
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求5至7中任一项所述的存储单元故障筛查方法的步骤。
10.一种存储单元故障筛查系统，其特征在于，所述系统在运行时，执行如权利要求5至7中任一项所述的存储单元故障筛查方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种存储单元故障筛查电路，若干个存储单元形成一个存储阵列，其特征在于，所述电路包括：控制单元、开关单元以及库伦计量单元；
2.根据权利要求1所述的一种存储单元故障筛查电路，其特征在于，所述库伦计量单元包括：库伦计量芯片、测量电阻以及接地端；
3.根据权利要求1所述的一种存储单元故障筛查电路，其特征在于，所述开关单元包括：第一输入端、第一输出端、第二输出端以及控制端；
4.根据权利要求3所述的一种存储单元故障筛查电路，其特征在于，所述开关单元设置有4个，每个所述开关单元的第二输出端均连接至测量总线上，所述测量总线与库伦计量芯片的输入端连接。
5.一种存储单元故障筛查方法，其特征在于，所述方法基于如权利要求1至4中...
【专利技术属性】
技术研发人员：王玲燕，康磊，
申请(专利权)人：北京劲群科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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