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用于超声波检测的扫查装置制造方法及图纸

技术编号:42861625 阅读:13 留言:0更新日期:2024-09-27 17:25
本申请公开了一种用于超声波检测的扫查装置,包括:外支架,用于连接外部施力结构;内支架,其底部设置有四个用于与被测曲面相接触的滚动支撑件,四个所述滚动支撑件呈矩形阵列分布,以使四个所述滚动支撑件能够同时接触被测曲面;探头组件,包括固定设置于所述内支架上的超声波探头,所述超声波探头具有晶片,所述晶片的朝向平行于所述滚动支撑件的支撑方向;其中,所述外支架可转动地连接于所述内支架或者可转动地连接于所述超声波探头,以使所述内支架能够带动所述超声波探头同步相对所述外支架偏转。上述的用于超声波检测的扫查装置在扫查的过程中能够自适应被测曲面曲率的变化,有利于降低操作难度,同时有利于提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及无损检测,特别涉及一种用于超声波检测的扫查装置


技术介绍

1、近几年,复合材料的应用范围越来越广。其中,复合材料拥有重量轻、强度高、耐腐蚀等优点,被广泛应用于航空航天、新能源汽车、高铁、船舶制造、石油、风力发电等领域。随着复合材料技术的发展,一些复杂曲面结构所采用的材料将被复合材料替代。而复合材料在制造和服役的过程中,不可避免地会出现分层、夹杂、纤维断裂、孔洞等缺陷,由此产生的检测技术问题也给传统的检测手段带来了挑战。

2、随着科技的不断进步和全球经济的飞速发展,无损检测技术已成为现代工业中不可或缺的一环。其中,超声波检测技术以其独特的优势,如高精度、高效率和非破坏性等,赢得了市场的广泛认可。而随着超声波检测技术的广泛应用,被检测结构的形状也越来越复杂。

3、针对复杂曲面结构的超声波检测,保证其检测精度的难点在于,需要让超声波探头的晶片正对被测曲面当下检测位置的法线方向,而沿着被测曲面扫查的过程中,随着当下检测位置的变化,其所对应的曲率会随之发生变化,即相对应的法线方向会随之发生变化。其中,相关技术提出了一种底部具有多个滚轮的扫查装置,使用时,需要向扫查装置施加一个与当下检测位置的法线方向同向的外力,以使扫查装置的多个滚轮始终贴合被测曲面,从而保证超声探头的晶片正对被测曲面当下检测位置的法线方向,但是,随着当下检测位置的变化,所施加的外力的方向需要随之做出适应性的调整,操作难度较大,而且检测效率较低。


技术实现思路

1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本申请提出一种用于超声波检测的扫查装置,在扫查的过程中能够自适应被测曲面曲率的变化,有利于降低操作难度,同时有利于提高检测效率。

2、根据本申请的实施例的用于超声波检测的扫查装置,包括:外支架,所述外支架用于连接外部施力结构;内支架,所述内支架的底部设置有四个用于与被测曲面相接触的滚动支撑件,四个所述滚动支撑件呈矩形阵列分布,以使四个所述滚动支撑件能够同时接触被测曲面;探头组件,所述探头组件包括固定设置于所述内支架上的超声波探头,所述超声波探头具有晶片,所述晶片的朝向平行于所述滚动支撑件的支撑方向;其中,所述外支架可转动地连接于所述内支架或者可转动地连接于所述超声波探头,以使所述内支架能够带动所述超声波探头同步相对所述外支架偏转。

3、根据本申请实施例的用于超声波检测的扫查装置,至少具有如下有益效果:使用时,由于四个滚动支撑件能够同时接触被测曲面,而且超声波探头的晶片的朝向平行于滚动支撑件的支撑方向,当四个滚动支撑件同时与被测曲面相接触时,超声波探头的晶片能够正对被测曲面当下检测位置的法线方向。其中,外支架可转动地连接于内支架或者可转动地连接于超声波探头,当被测曲面的当下检测位置发生变化而导致相对应的曲率发生变化时,在外部施力结构所施加的外力的作用下,内支架能够带动超声波探头同步相对所述外支架偏转,使得四个滚动支撑件始终同时与被测曲面相接触,从而自适应被测曲面曲率的变化。因此,当被测曲面的当下检测位置发生变化而导致相对应的曲率发生变化时,无需刻意调整外部施力结构所施加的外力的方向,有利于降低操作难度,同时有利于提高检测效率。

4、根据本申请的一些实施例,所述外支架与所述内支架之间设置有弹性复位件。

5、根据本申请的一些实施例,所述弹性复位件为拉簧,所述拉簧的一端连接于所述外支架,所述拉簧的另一端连接于所述内支架。

6、根据本申请的一些实施例,所述滚动支撑件为万向滚珠。

7、根据本申请的一些实施例,所述外支架包括第一横梁和两个设置于所述第一横梁底部的第一支撑腿,两个所述第一支撑腿沿预设方向间隔设置,以使两个所述第一支撑腿之间形成容纳空间,所述内支架容纳于所述容纳空间,所述内支架包括第二横梁和两个沿所述预设方向间隔设置于所述第二横梁底部的第二支撑腿,所述超声波探头包括设置有所述晶片的探头轴,所述探头轴沿所述预设方向穿设于两个所述第二支撑腿上,两个所述第一支撑腿均可转动地连接于所述探头轴。

8、根据本申请的一些实施例,相邻的所述第一支撑腿与所述第二支撑腿之间设置有限位结构,所述限位结构用于限制所述内支架相对所述外支架偏转的角度。

9、根据本申请的一些实施例,所述限位结构包括限位凸起以及与所述限位凸起配合限位的限位槽,相邻的所述第一支撑腿与所述第二支撑腿中的一者设置有所述限位凸起,另一者设置有所述限位槽,所述限位凸起活动插设于所述限位槽内,所述限位槽呈圆弧形,以适配所述限位凸起的运动轨迹并能够限制所述限位凸起的运动行程。

10、根据本申请的一些实施例,两个所述第二支撑腿上均设置有用于穿设所述探头轴的安装通孔,其中一个所述第二支撑腿上设置有沿所述安装通孔的孔径方向延伸并连通于所述安装通孔的螺纹孔,所述螺纹孔处螺纹连接有紧固螺丝,所述紧固螺丝的端部能够抵持于所述探头轴以限制所述探头轴相对所述第二支撑腿转动。

11、根据本申请的一些实施例,所述探头组件还包括声学聚合物轮,所述声学聚合物轮为中空结构并通过轴承可转动地套设在所述探头轴外,所述声学聚合物轮与所述探头轴之间设置有密封结构,以使所述声学聚合物轮与所述探头轴配合形成用于填充水体的密封腔。

12、根据本申请的一些实施例,所述探头轴的一端设置有注水嘴,所述探头轴的内部设置有注水通道,所述注水通道的一端连通于所述注水嘴,所述注水通道的另一端连通于所述密封腔,所述注水嘴的出水端设置有单向阀。

13、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述外支架与所述内支架之间设置有弹性复位件。

3.如权利要求2所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述弹性复位件为拉簧,所述拉簧的一端连接于所述外支架,所述拉簧的另一端连接于所述内支架。

4.如权利要求1所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述滚动支撑件为万向滚珠。

5.如权利要求1至4任一项所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述外支架包括第一横梁和两个设置于所述第一横梁底部的第一支撑腿,两个所述第一支撑腿沿预设方向间隔设置,以使两个所述第一支撑腿之间形成容纳空间,所述内支架容纳于所述容纳空间,所述内支架包括第二横梁和两个沿所述预设方向间隔设置于所述第二横梁底部的第二支撑腿,所述超声波探头包括设置有所述晶片的探头轴,所述探头轴沿所述预设方向穿设于两个所述第二支撑腿上,两个所述第一支撑腿均可转动地连接于所述探头轴。

6.如权利要求5所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,相邻的所述第一支撑腿与所述第二支撑腿之间设置有限位结构,所述限位结构用于限制所述内支架相对所述外支架偏转的角度。

7.如权利要求6所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述限位结构包括限位凸起以及与所述限位凸起配合限位的限位槽,相邻的所述第一支撑腿与所述第二支撑腿中的一者设置有所述限位凸起,另一者设置有所述限位槽,所述限位凸起活动插设于所述限位槽内,所述限位槽呈圆弧形,以适配所述限位凸起的运动轨迹并能够限制所述限位凸起的运动行程。

8.如权利要求5所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,两个所述第二支撑腿上均设置有用于穿设所述探头轴的安装通孔,其中一个所述第二支撑腿上设置有沿所述安装通孔的孔径方向延伸并连通于所述安装通孔的螺纹孔,所述螺纹孔处螺纹连接有紧固螺丝,所述紧固螺丝的端部能够抵持于所述探头轴以限制所述探头轴相对所述第二支撑腿转动。

9.如权利要求5所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述探头组件还包括声学聚合物轮,所述声学聚合物轮为中空结构并通过轴承可转动地套设在所述探头轴外,所述声学聚合物轮与所述探头轴之间设置有密封结构,以使所述声学聚合物轮与所述探头轴配合形成用于填充水体的密封腔。

10.如权利要求9所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述探头轴的一端设置有注水嘴,所述探头轴的内部设置有注水通道,所述注水通道的一端连通于所述注水嘴,所述注水通道的另一端连通于所述密封腔,所述注水嘴的出水端设置有单向阀。

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【技术特征摘要】

1.一种用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述外支架与所述内支架之间设置有弹性复位件。

3.如权利要求2所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述弹性复位件为拉簧,所述拉簧的一端连接于所述外支架,所述拉簧的另一端连接于所述内支架。

4.如权利要求1所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述滚动支撑件为万向滚珠。

5.如权利要求1至4任一项所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,所述外支架包括第一横梁和两个设置于所述第一横梁底部的第一支撑腿,两个所述第一支撑腿沿预设方向间隔设置,以使两个所述第一支撑腿之间形成容纳空间,所述内支架容纳于所述容纳空间,所述内支架包括第二横梁和两个沿所述预设方向间隔设置于所述第二横梁底部的第二支撑腿,所述超声波探头包括设置有所述晶片的探头轴,所述探头轴沿所述预设方向穿设于两个所述第二支撑腿上,两个所述第一支撑腿均可转动地连接于所述探头轴。

6.如权利要求5所述的用于超声波检测的扫查装置,其特征在于,相邻的所述第一支撑腿与所述第二支撑腿之间设置有限位结构,所述限位结构用于限制所述内支架相对所述外支架偏转的角度。

7.如权利要求6所述的用于超声波检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:张瑞龙绍军谢鹏
申请(专利权)人:艾因蒂克科技上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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