【技术实现步骤摘要】
本专利技术一般涉及铜合金板,例如铜合金片,及其制备方法。更具体地说,本专利技术涉 及平板材料(Plate material),例如含钛的铜合金板材(sheetmaterial) (Cu_Ti合金板 材),它被用作电器和电子零件,例如连接件、引线框、继电器和开关,及其制备方法。
技术介绍
用作电器和电子零件,例如连接件、引线框、继电器和开关的材料需要具有足够高 的强度,使材料能在使用这些零件的电器和电子装置的装配和操作时抵挡施加于其上的应 力。用于电器和电子零件,例如连接件的材料还需要具有卓越的弯曲可工作性,因为零件常 常是通过弯曲形成的。还有,为了确保电器和电子零件如连接件之间的可靠接触,用于零件 的材料必需具有卓越的应力松弛抗性,即对零件之间的接触压力随着时间变差的现象(应 力松弛)具有抗性。 近年来,电器和电子零件,例如连接件,有整合化、微型化、和轻质化的趋势。因此, 作为零件材料的铜和铜合金片材需要变薄,因此材料所需的强度水平就更严格了。具体说, 材料的0. 2%屈变力需要不小于850MPa的强度水平,优选不小于900MPa,更优选不小于 950MPa。 对于电器和电子零件,例如连接件的微型化和复杂的性状,需要改进通过弯曲铜 合金板材制造的产品的形状和尺寸的精确性。作为弯曲铜合金板材制造的产品的要求,重 要的不仅在于在产品的弯曲部分不产生裂缝,还在于确保产品形状和尺寸的精确性。还有, 存在一个问题,即在铜合金板材弯曲时会发生弹回。另外,弹回指这样的现象,即终产 品的形状与模具中产品的形状并不一致,因为当产品在加工板材后从模具内取出时,产品 由于弹性 ...
【技术保护点】
一种铜合金板材,具有含1.2-5.0wt%钛的化学组成,其余组分是铜和不可避免的杂质,其中: 所述铜合金板材具有5-25μm的平均结晶粒径;(最大结晶粒径-最小结晶粒径)/(平均结晶粒径)不大于0.20;设定平均值的最大值是最大结晶粒径,所述最大值中的每一个是对应于许多区间中的一个的结晶粒径平均值,所述区间是从铜合金板材表面随机选择的,具有相同形状和尺寸;所述平均值的最小值是最小结晶粒径;所述平均值的平均值是平均结晶粒径;和 所述铜合金板材具有满足I{420}/I↓[0]{420}>1.0的结晶定向,设定铜合金板材表面上的{420}晶体平面上的X光衍射强度是I{420},纯铜标准粉末的{420}晶体平面上的X光衍射强度是I↓[0]{420}。
【技术特征摘要】
JP 2008-11-28 2008-303688一种铜合金板材,具有含1.2-5.0wt%钛的化学组成,其余组分是铜和不可避免的杂质,其中所述铜合金板材具有5-25μm的平均结晶粒径;(最大结晶粒径-最小结晶粒径)/(平均结晶粒径)不大于0.20;设定平均值的最大值是最大结晶粒径,所述最大值中的每一个是对应于许多区间中的一个的结晶粒径平均值,所述区间是从铜合金板材表面随机选择的,具有相同形状和尺寸;所述平均值的最小值是最小结晶粒径;所述平均值的平均值是平均结晶粒径;和所述铜合金板材具有满足I{420}/I0{420}>1.0的结晶定向,设定铜合金板材表面上的{420}晶体平面上的X光衍射强度是I{420},纯铜标准粉末的{420}晶体平面上的X光衍射强度是I0{420}。2. 如权利要求l所述的铜合金板材,其特征在于,所述铜合金板材的结晶定向满足 I {220}/1。{220}《4.0,设定铜合金板材表面上的{220}晶体平面上的X光衍射强度是 1{220},纯铜标准粉末的{220}晶体平面上的X光衍射强度是I。(220K3. 如权利要求1所述的铜合金板材,其特征在于,所述铜合金板材的化学组成还含有 一种或多种元素,所述元素选自1. 5wt^或更少的镍、1. Owt^或更少的钴、和0. 5wt^或更 少的铁。4. 如权利要求1所述的铜合金板材,其特征在于,所述铜合金板材的化学组成还含 有一种或多种元素,所述元素选自1.2wt^或更少的锡、2.0wt^或更少的锌、1.0wt^或 更少的镁、1. Owt %或更少锆、1. Owt %或更少的铝、1. Owt %或更少的硅、0. lwt %或更少的 磷、0. 05wt^或更少的硼、1. Owt^或更少的铬、1. Owt^或更少的锰、1. Owt^或更少的钒、 1. Owt^或更少的银、1. Owt^或更少的铍、和1. Owt^或更少的混合稀土,所述元素的总量 为3wt^或更少。5. 如权利要求1所述的铜合金板材,其特征在于,所述铜合金板材具有850MPa或以上 的0. 2%屈变力,并且如果进行第一测试片的90°弯曲测试以使第一测试片的弯曲轴是与 轧压方向和第一测试片的厚度方向垂直的方向TD,其中所述第一测试片从铜合金板材上切 下以使第一测试片的纵向是铜合金板材的轧压方向LD,和如果进行第二测试片的9(T弯 曲测试以使第二测试片的弯曲轴是LD,其中所述第二测试片从铜合金板材上切下以使第二 测试片的纵向是TD,第一和第二测试片的最小弯曲半径R对厚度t的比R/t分别为l.O或 更小。6. —种制造铜合金板材的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:高维林,须田久,成枝宏人,菅原章,
申请(专利权)人:同和金属技术有限公司,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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