【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种适用于芯片的识别以及测量电路。
技术介绍
1、随着科学技术的不断发展，越来越多的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。
2、电子设备实现各种的部件的核心部件是芯片。随着电子设备性能的不断提升，芯片的性能也越来越强大，需要对芯片的不同功能进行测试。经检索，专利：辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板(cn201210187157.0)，用于辅助测量芯片的多个引脚及对应的功能电路的电连接状态，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。上述的结构测试精度不高，同时在测试稳定性容易出现偏差。
3、有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的适用于芯片的识别以及测量电路，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本技术的目的是提供一种适用于芯片的识别以及测量电路。
2、为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
3、一种适用于芯片的识别以及测量电路，包括pcb板，所述pcb板的中央
4、优选地，所述的一种适用于芯片的识别以及测量电路，所述切换信号单元中设有切换开关，切换开关的型号g6k-2f-y-dc5。
5、优选地，所述的一种适用于芯片的识别以及测量电路，所述输入电源单元上连接有滤波模块。
6、优选地，所述的一种适用于芯片的识别以及测量电路，所述输入电源单元上连接有电源通断显示。
7、借由上述方案，本技术至少具有以下优点：
8、本技术能实现快速对芯片的测量，同时还能确保测量数据的准确性。
9、上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
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1.一种适用于芯片的识别以及测量电路，其特征在于：包括PCB板(1)，所述PCB板(1)的中央区域处设有用于导通待测芯片的安装区域(2)，所述PCB板(1)上连接有输入电源单元(3)、PBID识别单元(4)、切换信号单元(5)、电源测量单元(6)以及LVDS单元(7)，所述输入电源单元(3)的输出端与安装区域(2)相导通连接，所述PBID识别单元(4)的输入端与安装区域(2)相导通，所述切换信号单元(5)的输入端与安装区域(2)相导通，所述电源测量单元(6)的输入端与安装区域(2)相导通，所述LVDS单元(7)的输入端与安装区域(2)的导通。
2.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的识别以及测量电路，其特征在于：所述切换信号单元中设有切换开关，切换开关的型号G6K-2F-Y-DC5。
3.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的识别以及测量电路，其特征在于：所述输入电源单元(3)上连接有滤波模块(8)。
4.根据权利要求1或3所述的一种适用于芯片的识别以及测量电路，其特征在于：所述输入电源单元(3)上连接有电源通断显示(9)。
【技术特征摘要】
1.一种适用于芯片的识别以及测量电路，其特征在于：包括pcb板(1)，所述pcb板(1)的中央区域处设有用于导通待测芯片的安装区域(2)，所述pcb板(1)上连接有输入电源单元(3)、pbid识别单元(4)、切换信号单元(5)、电源测量单元(6)以及lvds单元(7)，所述输入电源单元(3)的输出端与安装区域(2)相导通连接，所述pbid识别单元(4)的输入端与安装区域(2)相导通，所述切换信号单元(5)的输入端与安装区域(2)相导通，所述电源测量单元(6)的输入端与安装区域(2)...
【专利技术属性】
技术研发人员：全光浩，崔松一，
申请(专利权)人：和芯半导体科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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