【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种物镜,特别是一种投影物镜,尤指一种微光刻投影物镜。根据本发 明的物镜也适用于显微镜或在检查系统中使用。该物镜可用在所有的波长范围内,也就是 可用于> 193nm的波长。 一种特别优选的,但并不仅限于此的使用范围是,应用作为微光刻 投影物镜装置中的微光刻投影物镜,尤其用于《193nm的波长。
技术介绍
通常,有三个不同种类的投影物镜,即所谓的折射物镜、反射物镜及折反物镜。折 射物镜使用折射元件,例如透镜元件,以使得光线从物面成像到像面中。反射物镜使用反射 元件,例如镜体元件,以使得光线从物面成像到像面中,而折反物镜不仅使用折射元件也使 用反射元件,以使得光线从物面成像到像面中。 在大孔径投影物镜中,特别是对于超紫外光刻技术而言,在大孔径投影物镜的至 少一些镜体上出现了大的入射角。大的入射角会导致过度的反射损失,并且造成了 s偏振 光和P偏振光的相位差不能矫正或难以矫正。尤其是在微光刻投影物镜的大孔径的部位出 现了大的入射角或通过镜体出现非常大的入射角波动。 对此需加以说明的是,在根据现有技术的系统中,最后两个镜体的几何上的设置 基本上是根据聚焦远心的要求来规定的。 在由US 5, 686, 728公开的系统中,对于光路中像侧的最后两个镜体提出了一种 由凸面镜和凹面镜构成的组合。通过这样的凸面镜与凹面镜的镜体组合虽能满足像侧的聚 焦远心的要求,然而光路中的倒数第二的镜体上的入射角、特别是入射角波动还是非常大。 在本申请中,将一个区域的,例如在一个镜体上的物面中的环形区域的中心区域 点的主光线的入射角看作为在一个镜体上的入射角的大小的 ...
【技术保护点】
一种优选用于波长≤193nm、特别优选用于≤100nm的微光刻投影物镜,其包括:物面(10);像面(20);第一局部镜体组(300.1),具有至少一个第一镜体和第二镜体;并且第二局部镜体组(200.1),具有至少一个第三镜体(1020)和第四镜体(1030),其中所述投影物镜的过渡图像(22)在所述第一局部镜体组(300.1)的第一镜体(1000)和所述第二局部镜体组(200.1)的第四镜体(1030)之间的光路中形成,其中所述第三镜体(1020)在从所述物面(10)到所述像面(20)的光路中是倒数第二个镜体,并且所述第三镜体是凹面镜,所述第一镜体、所述第二镜体、所述第三镜体和所述第四镜体具有开口,所述第一镜体具有第一镜体直径d↓[2],所述第四镜体(1030)具有第二镜体直径d↓[1],所述过渡图像具有到所述第四镜体的第一表面的第一距离z↓[1],光线射到所述第一表面上,以及具有到所述第一镜体的表面的第二距离z↓[2],光线射到第一镜体的表面上,并且所述过渡图像的位置符合以下关系式:d1/d2≈z1/z2。
【技术特征摘要】
DE 2004-12-23 102004063313.4;DE 2005-9-5 102005042一种优选用于波长≤193nm、特别优选用于≤100nm的微光刻投影物镜,其包括物面(10);像面(20);第一局部镜体组(300.1),具有至少一个第一镜体和第二镜体;并且第二局部镜体组(200.1),具有至少一个第三镜体(1020)和第四镜体(1030),其中所述投影物镜的过渡图像(22)在所述第一局部镜体组(300.1)的第一镜体(1000)和所述第二局部镜体组(200.1)的第四镜体(1030)之间的光路中形成,其中所述第三镜体(1020)在从所述物面(10)到所述像面(20)的光路中是倒数第二个镜体,并且所述第三镜体是凹面镜,所述第一镜体、所述第二镜体、所述第三镜体和所述第四镜体具有开口,所述第一镜体具有第一镜体直径d2,所述第四镜体(1030)具有第二镜体直径d1,所述过渡图像具有到所述第四镜体的第一表面的第一距离z1,光线射到所述第一表面上,以及具有到所述第一镜体的表面的第二距离z2,光线射到第一镜体的表面上,并且所述过渡图像的位置符合以下关系式 <mrow><mfrac> <mrow><mi>d</mi><mn>1</mn> </mrow> <mrow><mi>d</mi><mn>2</mn> </mrow></mfrac><mo>≈</mo><mfrac> <mrow><mi>z</mi><mn>1</mn> </mrow> <mrow><mi>z</mi><mn>2</mn> </mrow></mfrac> </mrow>2. —种优选用于波长《193nm、特别优选用于《100nm的微光刻投影物镜,其包 括第一局部镜体组(300. 1),具有至少一个第一镜体和第二镜...
【专利技术属性】
技术研发人员:汉斯于尔根曼,戴维谢弗,威廉乌尔里希,
申请(专利权)人:卡尔蔡司SMT股份公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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