一种用于程式化测试芯片的支架结构制造技术

技术编号:42848017 阅读:17 留言:0更新日期:2024-09-27 17:17
本申请公开了一种用于程式化测试芯片的支架结构,涉及打标签装置,本申请包括设置在pcb板(8)两侧用于限位pcb板(8)的下侧限位柱(2)和上侧限位柱(5);所述下侧限位柱(2)的上方设置有与上侧限位柱(5)内部开槽(4)匹配的支持杆(1);所述支持杆(1)用于穿过pcb板(8)上的孔(7)。本申请通过嵌套使用的支持杆与槽实现连接两个支架结构,直接抬高pcb板的高度,便于安装、拆卸、更替和维修。本申请通过弹性垫的设置保护pcb板与支架结构连接位置的使用寿命。本申请通过固定档位调节的延长杆,来根据需要调节每层pcb板之间的间隔,方便根据不同芯片的高度,来调节操作员的操作空间,提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及pcb板支架结构,具体涉及一种用于程式化测试芯片的支架结构


技术介绍

1、程式化测试芯片设置在专用的pcb板上,现有的pcb板堆叠支架,采用螺纹连接的不同规格的螺杆和螺帽进行夹紧、限位和支持,频繁的拆卸导致pcb板板面受损,同时,一块pcb板的拆卸需要同时手拧四角限位的四处限位螺杆或螺母。

2、因此,亟需一种便宜拆装的支架架构,用于对批量芯片进行程式化测试,构建直立的pcb板支架。


技术实现思路

1、本申请提供一种用于程式化测试芯片的支架结构,用以解决现有技术中的问题。

2、本申请提供一种用于程式化测试芯片的支架结构,包括:

3、设置在pcb板两侧用于限位pcb板的下侧限位柱和上侧限位柱;

4、所述下侧限位柱的上方设置有与上侧限位柱内部开槽匹配的支持杆;

5、所述支持杆用于穿过pcb板上的孔。

6、进一步的,包括,自上而下顺序的支持杆、下侧限位柱、延长杆、上侧限位柱为一体式结构。

7、进一步的,所述上侧限位柱内部开槽为上侧限位柱与上侧限位柱向上连接的所述延长杆内共同开设的槽,槽的深度和宽度对应所述支持杆的宽度和长度。

8、进一步的,所述下侧限位柱的上端和上侧限位柱下端均设置有一层弹性垫。

9、进一步的,所述弹性垫为橡胶垫或海绵垫。

10、进一步的,所述延长杆上设置有固定档位的长度调节位,所述延长杆用于设置长度调节位的档位来调节所述延长干的整体长度。p>

11、优选的,所述pcb板上设置有多个用于测试的芯片安装点。

12、本申请通过嵌套使用的支持杆与槽实现连接两个支架结构,直接抬高pcb板的高度,便于安装、拆卸、更替和维修。

13、本申请通过下侧限位柱和上侧限位柱加紧pcb板,限位pcb板的空间位置,固定pcb板,便于测试多个芯片。

14、本申请通过弹性垫的设置保护pcb板与支架结构连接位置的使用寿命。

15、本申请通过固定档位调节的延长杆,来根据需要调节每层pcb板之间的间隔,方便根据不同芯片的高度,来调节操作员的操作空间,提高工作效率。

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【技术保护点】

1.一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,包括: 设置在pcb板(8)两侧用于限位pcb板(8)的下侧限位柱(2)和上侧限位柱(5); 所述下侧限位柱(2)的上方设置有与上侧限位柱(5)内部开槽(4)匹配的支持杆(1); 所述支持杆(1)用于穿过pcb板(8)上的孔(7)。

2.根据权利要求1所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,包括,自上而下顺序的支持杆(1)、下侧限位柱(2)、延长杆(3)、上侧限位柱(5)为一体式结构。

3.根据权利要求2所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,所述上侧限位柱(5)内部开槽(4)为上侧限位柱(5)与上侧限位柱(5)向上连接的所述延长杆(3)内共同开设的槽(4),槽(4)的深度和宽度对应所述支持杆(1)的宽度和长度。

4.根据权利要求2所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,所述下侧限位柱(2)的上端和上侧限位柱(5)下端均设置有一层弹性垫。

5.根据权利要求4所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,所述弹性垫为橡胶垫或海绵垫。

>6.根据权利要求2所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,所述延长杆(3)上设置有固定档位的长度调节位,所述延长杆(3)用于设置长度调节位的档位来调节所述延长杆(3)的整体长度。

7.根据权利要求1-6任一所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,所述pcb板(8)上设置有多个用于测试的芯片安装点。

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【技术特征摘要】

1.一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,包括: 设置在pcb板(8)两侧用于限位pcb板(8)的下侧限位柱(2)和上侧限位柱(5); 所述下侧限位柱(2)的上方设置有与上侧限位柱(5)内部开槽(4)匹配的支持杆(1); 所述支持杆(1)用于穿过pcb板(8)上的孔(7)。

2.根据权利要求1所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,包括,自上而下顺序的支持杆(1)、下侧限位柱(2)、延长杆(3)、上侧限位柱(5)为一体式结构。

3.根据权利要求2所述的一种用于程式化测试芯片的支架结构,其特征在于,所述上侧限位柱(5)内部开槽(4)为上侧限位柱(5)与上侧限位柱(5)向上连接的所述延长杆(3)内共同开设的槽(4),槽...

【专利技术属性】
技术研发人员:喻竞张宇刘全飞臧东丽韩阳
申请(专利权)人:成都联云创想科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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