System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 嵌入式系统的测试方法、装置及设备制造方法及图纸_技高网

嵌入式系统的测试方法、装置及设备制造方法及图纸

技术编号:42822278 阅读:19 留言:0更新日期:2024-09-24 20:59
本申请公开了一种嵌入式系统的测试方法、装置及设备,涉及测试技术领域,能够对待测试系统进行针对性的测试,提高测试效率。其中方法包括:响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例,利用目标测试用例生成的测试信号,获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号,根据测试信号与重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新,使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,当迭代次数到达设定次数时,根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及测试,尤其是涉及到一种嵌入式系统的测试方法、装置及设备


技术介绍

1、随着科技的快速发展,嵌入式系统已经广泛应用与航空、航天等关键领域。随着系统规模的迅速扩大和复杂程度的不提升,系统一旦出现故障就可能引发严重的后果,因此全面充分的测试对于确保嵌入式系统正常运行是十分有必要的,通过系统性能测试,能够及早发现和解决潜在问题,提升系统的可靠性,以保证在各种条件下都能够稳定运行。

2、相关技术中,可使用白盒测试、仿真测试、顺序测试以及随机测试等方式来实现嵌入式系统的测试。但是白盒测试一般适合开发阶段,从代码分支逻辑关系角度测试软件缺陷。仿真测试使用模拟数据离线加载到代码中,验证代码功能实现,但是离线测试不能完全反应真实系统的全部情况。顺序注入测试是根据待测系统特点使用指定测试信号依次注入,忽略了运行时与环境交互可能出现的问题,难以覆盖所有可能的测试用例。随机注入测试是完全随机的,每个测试用例的权重是相同的,没有考虑到不同测试用例可能具有不同的权重,这样会使一些关键测试用例可能得不到充分的测试,同时无法满足高覆盖率的需求。以上这几种测试方式都没有考虑到实际运行时出现的问题,使得测试用例的覆盖率不足,导致测试效率较低。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供了一种嵌入式系统的测试方法、装置及设备,主要目的在于解决现有技术没有考虑到实际运行时出现的问题,使得测试用例的覆盖率不足,导致测试效率较低的问题。

2、根据本申请的第一个方面,提供了一种嵌入式系统的测试方法,包括:

3、响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例;

4、利用所述目标测试用例生成的测试信号,获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号;

5、根据所述测试信号与所述重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新;

6、使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,当迭代次数到达设定次数时,根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型。

7、进一步地,在所述响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例之前,所述方法还包括:

8、获取待测试系统,根据所述待测试系统的系统特点,设置不同测试类型以及不同测试类型覆盖的测试用例集。

9、进一步地,所述利用所述目标测试用例生成的测试信号,获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号,包括:

10、利用所述目标测试用例生成的测试信号,将所述测试信号经过dac转换得到的模拟信号注入至待测试系统中,以通过所述待测试系统对所述模拟信号进行分析处理;

11、根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,得到重构信号。

12、进一步地,所述根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,得到重构信号,包括:

13、根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,判断所述输出信号是否为数字信号;

14、若是,则将所述输出信号经过数字接口后得到重构信号;否则,将所述输出信号经过adc转换得到重构信号。

15、进一步地,所述根据所述测试信号与所述重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新,包括:

16、将所述测试信号与所述重构信号进行最大互相关计算,根据计算得到的互相关数值确定待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励;

17、利用所述待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,更新待测试系统在不同测试类型上的平均奖励。

18、进一步地,所述使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,当迭代次数到达设定次数时,根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型,包括:

19、利用贪心算法建立用例选取模型,所述用例选取模型使用第一概率在不同测试类型中随机选取下一次系统测试指令携带的类型参数,使用第二概率选取更新后平均奖励最大的测试类型作为下一次系统测试指令携带的类型参数,所述第一概率与所述第二概率之和为一;

20、使用所述用例选取模型重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对每次迭代后的瞬时奖励进行累计更新,得到待测试系统在不同测试类型上的累计奖励值;

21、当迭代次数达到设定次数时,将累计奖励值最大的测试类型确定为待测试系统的故障测试类型。

22、根据本申请的第二个方面,提供了一种嵌入式系统的测试装置,包括:

23、选取单元,用于响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例;

24、获取单元,用于利用所述目标测试用例生成的测试信号,获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号;

25、更新单元,用于根据所述测试信号与所述重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新;

26、确定单元,用于使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,当迭代次数到达设定次数时,根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型。

27、进一步地,所述装置还包括:

28、设置单元,用于在所述响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例之前,获取待测试系统,根据所述待测试系统的系统特点,设置不同测试类型以及不同测试类型覆盖的测试用例集。

29、进一步地,所述获取单元,具体用于利用所述目标测试用例生成的测试信号,将所述测试信号经过dac转换得到的模拟信号注入至待测试系统中,以通过所述待测试系统对所述模拟信号进行分析处理;根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,得到重构信号。

30、进一步地,所述获取单元,具体还用于根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,判断所述输出信号是否为数字信号;若是,则将所述输出信号经过数字接口后得到重构信号;否则,将所述输出信号经过adc转换得到重构信号。

31、进一步地,所述更新单元,具体用于将所述测试信号与所述重构信号进行最大互相关计算,根据计算得到的互相关数值确定待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励;利用所述待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,更新待测试系统在不同测试类型上的平均奖励。

32、进一步地,所述确定单元,具体用于利用贪心算法建立用例选取模型,所述用例选取模型使用第一概率在不同测试类型中随机选取下一次系统测试指令携带的类型参数,使用第二概率选取更新后平均奖励最大的测试类型作本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种嵌入式系统的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述目标测试用例生成的测试信号,获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,得到重构信号,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试信号与所述重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新,包括:

6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,当迭代次数到达设定次数时,根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型,包括:

7.一种嵌入式系统的测试装置,其特征在于,包括:

8.一种嵌入式系统的测试设备,其特征在于,包括:处理器、信号发生器、第一转换模块、第二接口模块、待测试系统;

9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述嵌入式系统的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述嵌入式系统的测试方法的步骤。

...

【技术特征摘要】

1.一种嵌入式系统的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述响应于至少一次的系统测试指令,根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述目标测试用例生成的测试信号,获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测试系统分析处理得到的输出信号,得到重构信号,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试信号与所述重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励,对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新,包括:

6.根据权利要求1-5中...

【专利技术属性】
技术研发人员:王陈张浩赵坤杨亚光龙飞陈立平
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
类型:发明
国别省市:

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