【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储，特别是涉及一种存储设备的异常掉电测试方法及相关装置。
技术介绍
1、常规的存储设备的异常掉电测试方法，脚本通过发送断电指令掉电，贴合真实场景，但是掉电过程中的固件信息无法正常保存，出现问题的时候排查困难，调试繁琐，浪费时间和资源，而且难以确认是不是实现了脚本设计的测试场景，会影响测试的有效性和覆盖率。
技术实现思路
1、本申请主要解决的技术问题是提供一种存储设备的异常掉电测试方法及相关装置，能够提升存储设备的异常掉电测试效率。
2、为了解决上述问题，本申请第一方面提供了一种存储设备的异常掉电测试方法，所述方法包括：获取存储设备的异步掉电的模拟掉电指令；根据所述模拟掉电指令，所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程；记录所述异步掉电流程是否完成，并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间，生成模拟掉电状态信息；根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功。
3、其中，所述模拟掉电指令设置有延迟掉电时间；在所述根据所述模拟掉电指令，所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程之前，所述方法包括：所述固件根据所述延迟掉电时间设置定时器，并在接收所述模拟掉电指令到达所述延迟掉电时间后，将异步掉电触发标志位进行置位。
4、其中，所述根据所述模拟掉电指令，所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程，包括：所述固件对目标操作命令进行处理，并存储所述固件的关键内部信息；其中，所述目标操作命令包括对所述异步掉电触发
5、其中，所述记录所述异步掉电流程是否完成，并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间，生成模拟掉电状态信息，包括：在执行所述异步掉电流程的过程中，所述固件记录各个模块的执行状态、执行时间以及关键变量的值；若所述异步掉电流程完成，则生成的模拟掉电状态为完成；若所述固件不能正常掉电，则生成的模拟掉电状态为未完成，并对所述固件进行调试。
6、其中，所述根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功，包括：获取所述模拟掉电状态；若所述模拟掉电状态为未完成，则进行脚本报错，并对所述固件进行调试；若所述模拟掉电状态为完成，则通过真实掉电上电流程判断所述模拟掉电指令是否运行成功。
7、其中，所述对所述固件进行调试，包括：若所述异步掉电流程不能完成执行，则通过日志文件查看所述各个模块的执行状态以及关键变量的值，并对发生故障的模块进行调试；若所述异步掉电流程的完成时间超过预设时长，则通过所述各个模块的执行时间来判断各个模块的超时情况，并对超时的模块进行调试。
8、其中，所述通过真实掉电上电流程判断所述模拟掉电指令是否运行成功，包括：对所述存储设备进行真实掉电并上电；判断所述存储设备的读写功能是否正常；若不正常，则进行脚本报错；若正常，则检查已经完成的操作命令数据是否正确；若不正确，则进行脚本报错；若正确，则检查所述各个模块的关键变量是否准确；若不准确，则进行脚本报错；若准确，则确定所述模拟掉电指令运行成功。
9、其中，所述已经完成的操作命令数据为所述异步掉电流程中写过的用户数据；在所述对所述存储设备进行真实掉电并上电的步骤之前，所述方法还包括：给所述异步掉电流程中写过的用户数据标注对应的错误标记；在所述检查所述各个模块的关键变量是否准确的步骤之前，所述方法还包括：检查所述异步掉电流程中写过的用户数据是否具有所述错误标记；若不具有所述错误标记，则进行脚本报错；若具有所述错误标记，则执行所述检查所述各个模块的关键变量是否准确的步骤。
10、为了解决上述问题，本申请第二方面提供了一种存储设备的异常掉电测试装置，所述存储设备的异常掉电测试装置包括：获取模块，所述获取模块用于获取存储设备的异步掉电的模拟掉电指令；执行模块，所述执行模块用于根据所述模拟掉电指令，所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程；生成模块，所述生成模块用于记录所述异步掉电流程是否完成，并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间，生成模拟掉电状态信息；处理模块，所述处理模块用于根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功。
11、为解决上述问题，本申请第三方面提供了一种存储设备，所述存储设备包括相互连接的处理器和存储器；所述存储器用于存储程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现上述第一方面的存储设备的异常掉电测试方法。
12、为解决上述问题，本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实现上述第一方面的存储设备的异常掉电测试方法。
13、本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请通过获取存储设备的异步掉电的模拟掉电指令，然后存储设备的固件根据模拟掉电指令通过模拟掉电方式执行异步掉电流程，然后记录异步掉电流程是否完成，并统计异步掉电流程中各步骤的执行时间，生成模拟掉电状态信息，于是可以根据模拟掉电状态信息判断模拟掉电指令是否运行成功。通过固件模拟异常掉电，并记录异步掉电流程是否完成、统计异步掉电流程中各步骤的执行时间，进而生成模拟掉电状态信息，在固件模拟掉电之后，测试脚本还是可以与固件交互，可以通过指令查询模拟掉电状态信息，进而可以根据查询到的异常掉电状态、固件内部信息等来判断模拟掉电指令是否运行成功，进而确定模拟掉电方式执行的异常掉电测试是否有效，可以有效提升测试效率和准确性。
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1.一种存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述模拟掉电指令设置有延迟掉电时间；
3.根据权利要求2所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述根据所述模拟掉电指令，所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程，包括：
4.根据权利要求1所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述记录所述异步掉电流程是否完成，并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间，生成模拟掉电状态信息，包括：
5.根据权利要求4所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功，包括：
6.根据权利要求5所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述对所述固件进行调试，包括：
7.根据权利要求5所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述通过真实掉电上电流程判断所述模拟掉电指令是否运行成功，包括：
8.根据权利要求7所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，
9.一种存储设备的异常掉电测试装置，其特征在于，所述存储设备的异常掉电测试装置包括：
10.一种存储设备，其特征在于，所述存储设备包括相互连接的处理器和存储器；
11.一种计算机可读存储介质，其上存储有程序指令，其特征在于，所述程序指令被处理器执行时实现权利要求1至8任一项所述的存储设备的异常掉电测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述模拟掉电指令设置有延迟掉电时间；
3.根据权利要求2所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述根据所述模拟掉电指令，所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程，包括：
4.根据权利要求1所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述记录所述异步掉电流程是否完成，并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间，生成模拟掉电状态信息，包括：
5.根据权利要求4所述的存储设备的异常掉电测试方法，其特征在于，所述根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功，包括：
6.根据权利要求5所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁莹，朱帅锋，朱锦图，
申请(专利权)人：上海江波龙数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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