【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试电路领域，特别涉及一种中小规模数字电路高低温测试装置和方法。
技术介绍
1、数字电路在进行批量生产之后，需要对其进行各种测试，以确保其能够在各种条件环境下都能够进行使用，而其中较为重要的是对数字电路的高低温测试，目的是考察电路在不同高温、低温环境下的电性能是否符合指标要求，并给出是否合格结论。
2、现有技术中的高低温测试主要采用手工测试，即先将电路放置于高低温试验箱内，按预先设定温度放置一段时间后，通过人工取出电路，并放置于测试系统实现测试；或者采用高低温自动分选装置，该装置可提供不同的高温、低温环境，并具备自动机械臂和吸嘴，可实现自动吸取电路，由于电路的封装形式各异，每种封装都需要配备专用的自动吸嘴、传动装置、料盘等配件。
3、现有技术中的高低温测试取出电路的过程中可能会产生失温现象，导致测试结果准确性较低，同时在人工取出电路操作时一次只能将一个电路取出，才能尽量减少失温的不利影响，从而导致测试效率较低。采用高低温自动分选装置会需要配备专用的配件，从而导致使用范围较窄，成本较高。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种中小规模数字电路高低温测试装置和方法，能够解决现有技术中测试结果准确性较低，测试效率较低的问题。所述技术方案如下：
2、第一方面，一种中小规模数字电路高低温测试装置，包括：高低温试验箱、测试子板、测试母板和测试系统，
3、所述测试子板上设置有多个测试夹具，所述测试子板设置于所述高低温试验箱内，所
4、可选地，所述测试子板设置有多个，多个所述测试子板上的所述测试夹具数量不同。
5、可选地，所述测试子板设置有多个，多个所述测试子板上的电路不同。
6、可选地，还包括线缆，所述测试母板上设置有第一插接口，所述测试子板上设置有第二插接口，所述线缆的一端设置有与所述第一插接口相匹配的第一插接头，所述线缆的另一端设置有与所述第二插接口相匹配的第二插接头，所述测试母板和所述测试子板之间通过所述线缆连通。
7、可选地，所述测试母板上设置有单片机电路。
8、可选地，所述高低温试验箱与所述测试系统信号连接。
9、第二方面，一种中小规模数字电路高低温测试方法，基于前述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，包括以下步骤：
10、步骤一：根据被测器件和所述测试系统制作所述测试母板和所述测试子板；
11、步骤二：将被测器件设置于所述测试子板上，并将所述测试子板放置于所述高低温试验箱内；
12、步骤三：基于所述测试系统为被测器件编制测试程序；
13、步骤四：连通所述测试子板与所述测试母板，通过所述测试系统控制所述测试母板对所述测试子板上的被测器件进行测试。
14、可选地，所述步骤一包括，根据所述被测器件所需供电电源和数字通道的数量以及所述测试系统所具有供电电源和数字通道的数量，设计所述测试母板和所述测试子板。
15、可选地，所述步骤一包括，根据所述测试系统确定供电电源的连接方式，以及数字电路的连接方式。
16、可选地，所述步骤三包括，
17、根据被测器件编写测试图形向量；
18、在所述测试系统上对所有被测器件进行引脚定义；
19、在所述测试系统上基于图形向量分组情况分别对各个被测器件的直流参数与交流参数进行记录。
20、本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
21、本专利技术实施例提供的一种中小规模数字电路高低温测试装置和方法，将被测器件安装在测试子板上的测试夹具内，在测试过程中全程将测试子板放置于高低温试验箱中，再将测试子板与高低温试验箱外部的母板连接起来进行测试，使得在测试过程中被测器件保持所需的测试温度，以此避免了失温对测试结果来带的影响，能够有效解决现有技术中测试结果准确性较低，测试效率较低的问题。
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1.一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，包括：高低温试验箱(1)、测试子板(2)、测试母板(3)和测试系统(4)，
2.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，所述测试子板(2)设置有多个，多个所述测试子板(2)上的所述测试夹具(21)数量不同。
3.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，所述测试子板(2)设置有多个，多个所述测试子板(2)上的电路不同。
4.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，还包括线缆(5)，所述测试母板(3)上设置有第一插接口(31)，所述测试子板(2)上设置有第二插接口(22)，所述线缆(5)的一端设置有与所述第一插接口(31)相匹配的第一插接头(51)，所述线缆(5)的另一端设置有与所述第二插接口(22)相匹配的第二插接头(52)，所述测试母板(3)和所述测试子板(2)之间通过所述线缆(5)连通。
5.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，所述测试母板(3)上设置有单片机电路。
6.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，所述高低温试验箱(1)与所述测试系统(4)信号连接。
7.一种中小规模数字电路高低温测试方法，基于权利要求1至6所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
8.根据权利要求7所述的一种中小规模数字电路高低温测试方法，其特征在于，所述步骤一包括，根据所述被测器件所需供电电源和数字通道的数量以及所述测试系统(4)所具有供电电源和数字通道的数量，设计所述测试母板(3)和所述测试子板(2)。
9.根据权利要求8所述的一种中小规模数字电路高低温测试方法，其特征在于，所述步骤一包括，根据所述测试系统(4)确定供电电源的连接方式，以及数字电路的连接方式。
10.根据权利要求7所述的一种中小规模数字电路高低温测试方法，其特征在于，所述步骤三包括，
...【技术特征摘要】
1.一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，包括：高低温试验箱(1)、测试子板(2)、测试母板(3)和测试系统(4)，
2.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，所述测试子板(2)设置有多个，多个所述测试子板(2)上的所述测试夹具(21)数量不同。
3.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，所述测试子板(2)设置有多个，多个所述测试子板(2)上的电路不同。
4.根据权利要求1所述的一种中小规模数字电路高低温测试装置，其特征在于，还包括线缆(5)，所述测试母板(3)上设置有第一插接口(31)，所述测试子板(2)上设置有第二插接口(22)，所述线缆(5)的一端设置有与所述第一插接口(31)相匹配的第一插接头(51)，所述线缆(5)的另一端设置有与所述第二插接口(22)相匹配的第二插接头(52)，所述测试母板(3)和所述测试子板(2)之间通过所述线缆(5)连通。
5.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵永兴，何康，宋芳，李晓芳，杨怡，苏述鑫，杨敏，刘珂，孙紫薇，张一祎，张一铭，江跃锦，
申请(专利权)人：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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