【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及管理装置以及管理方法。
技术介绍
1、以往公开了一种将部件安装到基板的装置以及对安装了部件的基板进行检查的检查装置(例如，参照专利文献1)。
2、(现有技术文献)
3、(专利文献)
4、专利文献1：日本特开2010-212395号公报
5、关于对安装了部件的基板进行检查的检查装置的检查结果，例如在检查结果示出基板为不良的情况下，反馈给将部件安装到基板的装置，使该装置的工作的一部分发生变更，或者工作停止。并且，这样的检查结果，例如通过显示器等以图像来通知给用户。这时在检查结果示出基板为不良的情况下，例如用户通过看显示器上显示的检查结果，来查明基板被判断为不良的原因。然而，由于检查结果数量庞大，因此有时用户看显示出的检查结果却难以查明基板被判断为不良的原因。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种管理装置等，能够容易查明检查装置针对基板的检查结果的原因。
2、本专利技术的一个方式所涉及的管理装置具备：获得部，获得如下(i)至(iv)，(i)阈值，该阈值是用于通过与部件安装装置具备的传感器的测量值进行比较来判断所述部件安装装置的状态是正常还是异常的成为基准的值，所述部件安装装置是用于将部件安装到基板的装置，(ii)第1测量值，该第1测量值是所述部件被安装到第1基板时的所述测量值，(iii)判断结果，该判断结果是根据所述阈值以及所述第1测量值，对所述部件被安装到所述第1基板时的所述部件安装装置的状态进行了判断的结果，(
3、本专利技术的一个方式所涉及的管理方法是由计算机执行的管理方法，所述管理方法包括：获得步骤，获得如下(i)至(iv)，(i)阈值，该阈值是用于通过与部件安装装置具备的传感器的测量值进行比较来判断所述部件安装装置的状态是正常还是异常的成为基准的值，所述部件安装装置是用于将部件安装到基板的装置，(ii)第1测量值，该第1测量值是所述部件被安装到第1基板时的所述测量值，(iii)判断结果，该判断结果是根据所述阈值以及所述第1测量值，对所述部件被安装到所述第1基板时的所述部件安装装置的状态进行了判断的结果，(iv)第1检查结果，该第1检查结果是检查装置对所述第1基板进行了检查的结果，所述检查装置是对通过所述部件安装装置安装了所述部件的所述基板进行检查的装置；以及控制步骤，使所述阈值、所述第1测量值、所述判断结果、以及所述第1检查结果一并显示到显示部。
4、通过本专利技术，能够提供一种能够容易查明检查装置针对基板的检查结果的原因的管理装置等。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种管理装置，具备：
2.如权利要求1所述的管理装置，
3.如权利要求1所述的管理装置，
4.如权利要求1至3的任一项所述的管理装置，
5.一种管理方法，是由计算机执行的管理方法，所述管理方法包括：
【技术特征摘要】
1.一种管理装置，具备：
2.如权利要求1所述的管理装置，
3.如权利要求1所述的管理装置，
<...【专利技术属性】
技术研发人员：儿玉开，辻泽孝文，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：
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