【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外探测器性能测试，尤其涉及一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统及方法。
技术介绍
1、红外探测器黑体响应率和探测率是表征红外探测器对入射辐射灵敏程度的物理量，是用来评价红外探测器性能的重要参数之一，对其测量结果的精确与否，直接影响到对红外探测器的设计及选用。
2、专利技术人发现，传统的红外探测器黑体响应率和探测率测试系统，通用性及灵活性较差，具体体现在，不同的探测器封装类型、引脚结构各不相同，当前的技术方案均未对探测器安装结构进行通用性和灵活性设计，导致系统的适用性差。同时，传统的测试方法中，调制因子多采用模型计算或者经验值，不能准确测定，导致入射光功率计算不准确，影响最终测量精度。
技术实现思路
1、本专利技术为了解决上述问题，提出了一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统及方法，在保证测试精度的基础上，能够适用于不同的探测器封装类型和引脚结构，提高了适用性。
2、为了实现上述目的，第一方面，本专利技术提供了一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，采用如下技术方案：
3、一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，包括导轨和屏蔽盒；所述屏蔽盒朝向所述导轨的侧面上开设有入光口；
4、所述导轨上设置有黑体；所述屏蔽盒内，设置有用于安装被测光电探测器的安装座，以及前置放大器；所述前置放大器连接有用于测量响应信号和噪声信号的频谱仪；所述频谱仪连接有用于计算黑体响应率及探测率的计算机；
5、所述安装座上设置有阵
6、进一步的，所述导轨为一维导轨；所述黑体为腔式黑体。
7、进一步的，所述导轨上，位于所述黑体和所述屏蔽盒之间的位置依次设置有光阑盘、冷屏和调制盘。
8、进一步的，所述安装座设置在调整台上，所述调整台为多维调整台。
9、进一步的，所述安装座上位于所述排母的一侧，还设置有引脚，另一侧设置有与引脚连接的接线端子。
10、进一步的，所述安装座上，远离所述排母的一侧设置有同轴连接器；引脚在和接线端子连接的同时，部分引脚分别再和同轴连接器的信号端和接地端相连。
11、进一步的，所述前置放大器和所述计算机之间设置有，用于对调制因子进行定标的数据采集卡。
12、为了实现上述目的，第二方面，本专利技术还提供了一种红外探测器黑体响应率及探测率测试方法，采用如下技术方案：
13、一种红外探测器黑体响应率及探测率测试方法，采用了如第一方面中所述的红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，包括：所述频谱仪测量响应信号和噪声信号；计算根据响应信号和噪声信号，计算得到黑体响应率及探测率。
14、进一步的，将被测探测器置于屏蔽盒内，并保证在黑体辐射源的光轴上，使红外辐射信号垂直入射到被测探测器上；待黑体温度稳定后，调节黑体与被测探测器达到合适的距离；
15、将前置放大器输出端连接到数据采集卡上，并通过计算机采集一段连续的调制信号；选取采集到的一个整周期内的调制信号波形数据，并计算当前测量条件下的调制因子数值；
16、将前置放大器输出端连接到频谱仪上，测量探测器输出的信号电压；根据测量的信号电压计算黑体响应率；遮挡屏蔽盒入光口，测量探测器单位带宽内的噪声电压；根据测量的探测器单位带宽内的噪声电压计算黑体探测率。
17、进一步的，调制因子计算公式如下：
18、
19、
20、
21、其中，a1和b1为调制波形信号的基频分量幅值；n为每个周期内采集卡的采集点数；f(i)为一个整周期内的所有采集数据，i为常数；a为调制波形信号的峰峰值；α为调制因子数值。
22、与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：
23、1、本专利技术将黑体设置在导轨上，将安装座和前置放大器放到屏蔽盒内，前置放大器连接有用于测量响应信号和噪声信号的频谱仪，以及频谱仪连接有用于计算黑体响应率及探测率的计算机，实现了黑体响应率及探测率的测试；其中，导轨的设置可以沿入射光轴方向进行水平调节，方便根据不同响应的探测器调整测试距离；屏蔽盒的设置，能够对探测器及前置放大器进行多重电磁屏蔽，保证了测试精度；同时，安装座上设置有阵列分布的多个排母，能够根据被测探测器的引脚间距，任意在多个排母中选择适配的排母进行连接；在保证测试精度的基础上，能够适用于不同的探测器封装类型和引脚结构，提高了适用性；
24、2、本专利技术中，通过数据采集卡和计算机采集一段连续的调制信号，选取采集到的一个整周期内的调制信号波形数据，计算当前测量条件下的调制因子数值，解决了采用模型计算或者经验值不能准确测定调制因子的问题，保证了最终测量精度。
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1.一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，包括导轨和屏蔽盒；所述屏蔽盒朝向所述导轨的侧面上开设有入光口；
2.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述导轨为一维导轨；所述黑体为腔式黑体。
3.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述导轨上，位于所述黑体和所述屏蔽盒之间的位置依次设置有光阑盘、冷屏和调制盘。
4.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述安装座设置在调整台上，所述调整台为多维调整台。
5.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述安装座上位于所述排母的一侧，还设置有引脚，另一侧设置有与引脚连接的接线端子。
6.如权利要求5所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述安装座上，远离所述排母的一侧设置有同轴连接器；引脚在和接线端子连接的同时，部分引脚分别再和同轴连接器的信号端和接地端相连。
7.如权利要求1所述的一种红外探测器
8.一种红外探测器黑体响应率及探测率测试方法，其特征在于，采用了如权利要求1-7任一项所述的红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，包括：所述频谱仪测量响应信号和噪声信号；计算根据响应信号和噪声信号，计算得到黑体响应率及探测率。
9.如权利要求8所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试方法，其特征在于，将被测探测器置于屏蔽盒内，并保证在黑体辐射源的光轴上，使红外辐射信号垂直入射到被测探测器上；待黑体温度稳定后，调节黑体与被测探测器达到合适的距离；
10.如权利要求9所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试方法，其特征在于，调制因子计算公式如下：
...【技术特征摘要】
1.一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，包括导轨和屏蔽盒；所述屏蔽盒朝向所述导轨的侧面上开设有入光口；
2.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述导轨为一维导轨；所述黑体为腔式黑体。
3.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述导轨上，位于所述黑体和所述屏蔽盒之间的位置依次设置有光阑盘、冷屏和调制盘。
4.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述安装座设置在调整台上，所述调整台为多维调整台。
5.如权利要求1所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述安装座上位于所述排母的一侧，还设置有引脚，另一侧设置有与引脚连接的接线端子。
6.如权利要求5所述的一种红外探测器黑体响应率及探测率测试系统，其特征在于，所述安装座上，远离所述排母的一侧...
【专利技术属性】
技术研发人员：王洪超，庄新港，王玉波，刘红元，孟凡钦，刘长明，张帅，胡垒军，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：
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