【技术实现步骤摘要】
本技术属于电阻率测试，尤其是涉及一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具。
技术介绍
1、有机硅凝胶由于具有纯度高、硬度低、使用方便等诸多优势，又有一定的弹性，因此是一种理想的晶体管及集成电路的内涂覆材料，在电子工业上广泛用作电子元器件的防潮、固定、绝缘的涂覆以及灌封材料，对电子元件及组合件起防尘、防潮、防震及绝缘保护作用。
2、作为电工电子材料，体积电阻率是不得不测的一项重要电气性能指标。目前绝缘材料的体积电阻率的测试，都需要使用电极接触被测试材料，通常电极的直径在90mm，还需施加一定的压力(通过电极自重或者弹簧实现)以保证紧密接触。由于有机硅凝胶表面粘性太大，一方面会与电极紧密粘连，造成电极难于清理干净，给测试带来巨大困难；另一方面会由于有机硅凝胶极为柔软，在压力的作用下会使被测试的凝胶材料发生变形，导致电极间距持续变化，无法准确获得稳定的测试数据。
技术实现思路
1、本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具。
2、本技术的目的可以通过以下技术方案来实现：
3、本技术提供了一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，包括：
4、底框，其包括底框本体、以及设于所述底框本体上的若干第一安装槽；
5、边框，其设置两个且分别与所述底框本体的两端连接；以及
6、若干导电件，其安装于所述第一安装槽内且其两端抵接于所述边框；
7、其中，相邻两个第一安装槽之间相隔一
8、进一步地，所述底框还包括两个凸起部，所述凸起部设于所述底框本体的两端；
9、所述边框布置有与所述凸起部配合的凹槽；
10、其中，通过所述凸起部伸入到所述凹槽以连接所述底框和边框。
11、进一步地，所述边框包括：
12、边框本体，其与所述底框连接；以及
13、若干个第二安装槽，设于所述边框本体上；
14、所述导电件安装于所述第二安装槽上。
15、更进一步地，相邻两个第二安装槽之间的距离与相邻两个第一安装槽之间的距离相等。
16、更进一步地，所述第二安装槽与所述第一安装槽的数量相等。
17、更进一步地，所述第二安装槽的长度至少短于所述导电件的长度或宽度。
18、进一步地，所述第一安装槽的长度至少长于所述导电件的长度或宽度。
19、进一步地，所述第一安装槽设置为两个，所述导电件设置为两个。
20、进一步地，所述导电件呈矩形体状。
21、进一步地，所述底框与所述边框可拆卸连接。
22、优选的，所述底框由聚酰亚胺绝缘材质组成。
23、优选的，所述边框由聚酰亚胺绝缘材质组成。
24、优选的，所述导电件为铝制电极板。
25、本技术的工作原理如下：
26、首先组装底框和导电件，需要说明的是，导电件为铝制电极板，底框为聚酰亚胺绝缘材质，其中底框上布置有两个第一安装槽，导电件安装于第一安装槽内，接着组装两个边框，边框上具有两个凹槽，底框的两侧具有凸出于底框本体的凸起部，凸起部与凹槽配合组装，并且边框上具有第二安装槽与导电件配合组装，需要说明的是，边框的材质也是聚酰亚胺绝缘材质，组装完毕。
27、将混合好未固化的有机硅凝胶液体通过顶部的开口灌入整个治具的测试腔体内，可以通过体积或者重量准确控制有机硅凝胶的灌入总量，然后将整个治具放入加热烘箱中进行固化。固化完成后，恢复至常温，即可通过常规体积电阻率测试仪进行测试，即可获得稳定的体积电阻率的测试数据。如需老化测试，可将该治具及内部有机硅凝胶直接整体进行老化测试，该治具的材料均可承受常规的消费电子类的老化测试，且不会对最终的体积电阻率的测试带来额外的影响。
28、与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
29、(1)有机硅凝胶直接在本治具中灌装固化，即可获得稳定尺寸的有机硅凝胶试样，无需裁切、无需接触有机硅凝胶，避免了人为误差。
30、(2)测试体积电阻率时，仪器的电极不再直接接触有机硅凝胶，通过本治具的导电件间接接触，无需清理。
31、(3)本治具分体式设计，可拆卸安装，在需要使用的时候组装，不占地点，方便加工、节约材料。
32、(4)本治具方便拆装，各部件材质稳定，可以反复利用。
33、(5)本治具中的边框与底框采取绝缘材质，通过第一安装槽和第二安装槽，用来限制电极板的间距，同时该绝缘材质能够耐受-60～200℃，并在该温度区间内提供给电极板可靠的固定和支撑；
34、(5)本治具中的导电件优选为铝制电极板，在体积电阻率测试中起到良好的导电的作用，同时提供良好的刚度，在测试中能够抵抗测试仪器的电极的压力，维持电极间距的稳定可靠。
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1.一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述底框(1)还包括两个凸起部(103)，所述凸起部(103)设于所述底框本体(101)的两端；
3.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述边框(2)包括：
4.根据权利要求3所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，相邻两个第二安装槽(202)之间的距离与相邻两个第一安装槽(102)之间的距离相等。
5.根据权利要求3所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述第二安装槽(202)与所述第一安装槽(102)的数量相等。
6.根据权利要求3所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述第二安装槽(202)的长度至少短于所述导电件(3)的长度或宽度。
7.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述第一安装槽(102)的长度至少长于所述导电件(3)的长度或
8.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述第一安装槽(102)设置为两个，所述导电件(3)设置为两个。
9.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述导电件(3)呈矩形体状。
10.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述底框(1)与所述边框(2)可拆卸连接。
...【技术特征摘要】
1.一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述底框(1)还包括两个凸起部(103)，所述凸起部(103)设于所述底框本体(101)的两端；
3.根据权利要求1所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述边框(2)包括：
4.根据权利要求3所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，相邻两个第二安装槽(202)之间的距离与相邻两个第一安装槽(102)之间的距离相等。
5.根据权利要求3所述的一种用于有机硅凝胶体积电阻率测试的治具，其特征在于，所述第二安装槽(202)与所述第一安装槽(102)的数量相等。
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵国庆，王鹏祥，
申请(专利权)人：上海锐朗光电材料有限公司，
类型：新型
国别省市：
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