【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测控电路，尤其涉及一种霍尔元件电性能测试电路。
技术介绍
1、目前，在对线性输出的霍尔元件(如霍尔传感器)进行电性能测试时，常规采用独立继电器加装端子排的方式来实现与霍尔元件间的线路切换，以配合测量仪器完成对霍尔元件进行性能测试。
2、然而，上述测试方式在应用时具有以下不足之处，如：①因采用继电器与端子排组合方式，会造成测试电路整体的体积较大、且接线繁琐；不利于后续维护与排查。②因霍尔元件的部分性能测试是需要在有负载的情况下进行的，因而上述测试方式便无法进行，而若要实现测试，就必需加装负载，而这又会增大测试电路的体积和接线负担。
3、有鉴于此，特提出本技术。
技术实现思路
1、为了克服上述缺陷，本技术提供了一种霍尔元件电性能测试电路，一方面其结构精简、合理，集成化程度高，可有效减小产品体积、降低接线维护成本，提升测试结果的一致性和精度；另一方面可实现对霍尔元件中的多组所述待测引脚对的多个电性能参数进行感测，测试效率和测试质量高。
2、本技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种霍尔元件电性能测试电路，霍尔元件设有四个待测引脚，且四个所述待测引脚两两成对、以形成六组待测引脚对；该测试电路包括：线路板；
3、主开关模块，其设于所述线路板，并能够控制使所述线路板电性连通或断开于第一外部电源；
4、负载测试模组，其设有数据采集器和设于所述线路板的负载开关，所述负载开关能够与霍尔元件中的一组所述待测引脚对连通，并使所述
5、另外，所述线路板能够向霍尔元件提供供电电压，以及可选择性的向所述负载开关提供供电电压。
6、作为本技术的进一步改进，霍尔元件的四个待测引脚分别定义为：待测vcc引脚、待测gnd引脚、待测out引脚和待测ref引脚；其中，所述待测vcc引脚能够接收所述线路板的供电电压；
7、所述负载开关选自第一负载开关结构、第二负载开关结构和第三负载开关结构中的任意一种，
8、且当所述负载开关采用所述第一负载开关结构、并与霍尔元件中的待测out引脚和待测ref引脚连通时，所述数据采集器能够对霍尔元件中的待测out引脚与待测ref引脚之间、以及待测vcc引脚与待测gnd引脚之间的电性能参数进行感测；
9、当所述负载开关采用所述第二负载开关结构、并与霍尔元件中的待测out引脚和待测ref引脚连通时，所述数据采集器能够对霍尔元件中的待测vcc引脚与待测out引脚之间、以及待测vcc引脚与待测ref引脚之间的电性能参数进行感测；
10、当所述负载开关采用所述第三负载开关结构、并与霍尔元件中的待测out引脚和待测ref引脚连通时，所述数据采集器能够对霍尔元件中的待测gnd引脚与待测out引脚之间、以及待测gnd引脚与待测ref引脚之间的电性能参数进行感测。
11、作为本技术的进一步改进，所述第一负载开关结构包括第一继电器、第一负载和第二负载，其中，所述第一继电器采用双刀双掷继电器，且所述第一继电器的第一输入端经连接所述第一负载后接地，所述第一继电器的第二输入端经连接所述第二负载后连接于霍尔元件的待测ref引脚，所述第一继电器的第一常开输出端能够接收所述线路板提供的供电电压，所述第一继电器的第二常开输出端连接于霍尔元件的待测out引脚；另外，所述第一继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的io控制信号；
12、所述数据采集器能够采集所述第一继电器的第二常开输出端与所述第二负载背离所述第一继电器的一端之间、以及所述第一继电器的第一常开输出端与所述第一负载背离所述第一继电器的一端之间的电性能参数，进而获得霍尔元件中的待测out引脚与待测ref引脚之间、以及待测vcc引脚与待测gnd引脚之间的电性能参数。
13、作为本技术的进一步改进，所述第二负载开关结构包括第二继电器、第三负载和第四负载，其中，所述第二继电器采用双刀双掷继电器，且所述第二继电器的第一输入端经连接所述第三负载后连接于霍尔元件的待测out引脚，所述第二继电器的第二输入端经连接所述第四负载后连接于霍尔元件的待测ref引脚，所述第二继电器的两个常开输出端并联连接，并均能够接收所述线路板提供的供电电压；另外，所述第二继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的io控制信号；
14、所述数据采集器能够采集所述第二继电器的任一所述常开输出端与所述第三负载背离所述第二继电器的一端之间、以及所述第二继电器的任一所述常开输出端与所述第四负载背离所述第二继电器的一端之间的电性能参数，进而获得霍尔元件中的待测vcc引脚与待测out引脚之间、以及待测vcc引脚与待测ref引脚之间的电性能参数。
15、作为本技术的进一步改进，所述第三负载开关结构包括第三继电器、第五负载和第六负载，其中，所述第三继电器采用双刀双掷继电器，且所述第三继电器的第一输入端经连接所述第五负载后连接于霍尔元件的待测out引脚，所述第三继电器的第二输入端经连接所述第六负载后连接于霍尔元件的待测ref引脚，所述第三继电器的两个常开输出端均接地；另外，所述第三继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的io控制信号；
16、所述数据采集器能够采集所述第三继电器的任一所述常开输出端与所述第五负载背离所述第三继电器的一端之间、以及所述第三继电器的任一所述常开输出端与所述第六负载背离所述第三继电器的一端之间的电性能参数，进而获得霍尔元件中的待测gnd引脚与待测out引脚之间、以及待测gnd引脚与待测ref引脚之间的电性能参数。
17、作为本技术的进一步改进，所述负载开关配置为一个、或二个、或三个；且当所述负载开关配置为二个或三个时，所述负载开关的结构各不相同。
18、作为本技术的进一步改进，所述线路板设有内部电源线；所述主开关模块设有供与第一外部电源连接的供电接口、以及电性连接于所述供电接口与所述线路板的内部电源线之间的第四继电器。
19、作为本技术的进一步改进，所述第四继电器采用双刀双掷继电器，且所述第四继电器的两个输入端分别对应与所述供电接口的vcc引脚和gnd引脚电性连接，所述第四继电器的第一常开输出端与所述线路板的内部电源线电性连接；另外，所述第四继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的io控制信号；
20、所述供电接口采用console接口，且所述供电接口的ref引脚亦与所述线路板的内部电源线电性连接。
21、作为本技术的进一步改进，还设有用于感测霍尔元件的消耗电流信息的电流采集模组，所述电流采集模组设有第五继电器和电流采集卡，所述第五继电器的输入端和常闭输出端并联连接于所述第四继电器的第一常开输出端，并在所述第五继电器的常闭输出端与本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种霍尔元件电性能测试电路，霍尔元件设有四个待测引脚，且四个所述待测引脚两两成对、以形成六组待测引脚对；其特征在于：该测试电路包括：
2.根据权利要求1所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：霍尔元件的四个待测引脚分别定义为：待测VCC引脚、待测GND引脚、待测OUT引脚和待测REF引脚；其中，所述待测VCC引脚能够接收所述线路板(1)的供电电压；
3.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第一负载开关结构(31a)包括第一继电器、第一负载和第二负载，其中，所述第一继电器采用双刀双掷继电器，且所述第一继电器的第一输入端经连接所述第一负载后接地，所述第一继电器的第二输入端经连接所述第二负载后连接于霍尔元件的待测REF引脚，所述第一继电器的第一常开输出端能够接收所述线路板(1)提供的供电电压，所述第一继电器的第二常开输出端连接于霍尔元件的待测OUT引脚；另外，所述第一继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的IO控制信号；
4.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第二负载
5.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第三负载开关结构(31c)包括第三继电器、第五负载和第六负载，其中，所述第三继电器采用双刀双掷继电器，且所述第三继电器的第一输入端经连接所述第五负载后连接于霍尔元件的待测OUT引脚，所述第三继电器的第二输入端经连接所述第六负载后连接于霍尔元件的待测REF引脚，所述第三继电器的两个常开输出端均接地；另外，所述第三继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的IO控制信号；
6.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述负载开关配置为一个、或二个、或三个；
7.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述线路板(1)设有内部电源线；
8.根据权利要求7所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第四继电器采用双刀双掷继电器，且所述第四继电器的两个输入端分别对应与所述供电接口的VCC引脚和GND引脚电性连接，所述第四继电器的第一常开输出端与所述线路板(1)的内部电源线电性连接；另外，所述第四继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的IO控制信号；
9.根据权利要求8所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：还设有用于感测霍尔元件的消耗电流信息的电流采集模组(4)，所述电流采集模组(4)设有第五继电器和电流采集卡，所述第五继电器的输入端和常闭输出端并联连接于所述第四继电器的第一常开输出端，并在所述第五继电器的常闭输出端与所述第四继电器的第一常开输出端之间还设有跳线帽；所述第五继电器的常开输出端电性连接于所述供电接口的OUT引脚，所述电流采集卡的两个采集端分别对应与所述供电接口的OUT引脚和REF引脚连接；
10.根据权利要求9所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：在所述线路板(1)上还设有能够接收外部控制器的IO控制信号的IO控制接口(5)，所述IO控制接口(5)分别与所述主开关模块(2)、所述第一负载开关结构(31a)、所述第二负载开关结构(31b)、所述第三负载开关结构(31c)和所述电流采集模组(4)连接。
...【技术特征摘要】
1.一种霍尔元件电性能测试电路，霍尔元件设有四个待测引脚，且四个所述待测引脚两两成对、以形成六组待测引脚对；其特征在于：该测试电路包括：
2.根据权利要求1所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：霍尔元件的四个待测引脚分别定义为：待测vcc引脚、待测gnd引脚、待测out引脚和待测ref引脚；其中，所述待测vcc引脚能够接收所述线路板(1)的供电电压；
3.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第一负载开关结构(31a)包括第一继电器、第一负载和第二负载，其中，所述第一继电器采用双刀双掷继电器，且所述第一继电器的第一输入端经连接所述第一负载后接地，所述第一继电器的第二输入端经连接所述第二负载后连接于霍尔元件的待测ref引脚，所述第一继电器的第一常开输出端能够接收所述线路板(1)提供的供电电压，所述第一继电器的第二常开输出端连接于霍尔元件的待测out引脚；另外，所述第一继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的io控制信号；
4.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第二负载开关结构(31b)包括第二继电器、第三负载和第四负载，其中，所述第二继电器采用双刀双掷继电器，且所述第二继电器的第一输入端经连接所述第三负载后连接于霍尔元件的待测out引脚，所述第二继电器的第二输入端经连接所述第四负载后连接于霍尔元件的待测ref引脚，所述第二继电器的两个常开输出端并联连接，并均能够接收所述线路板(1)提供的供电电压；另外，所述第二继电器的驱动线圈能够与外部第二电源连接、以及能够接收外部控制器发送的io控制信号；
5.根据权利要求2所述的霍尔元件电性能测试电路，其特征在于：所述第三负载开关结构(31c)包括第三继电器、第五负载和第六负载，其中，所述第三继电器采用双刀双掷继电器，且所述第三继电器的第一输入端经连接所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李建勋，李欢，张振浩，刘超，李浩青，
申请(专利权)人：昆山佰奥软件有限公司，
类型：新型
国别省市：
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