本申请属于电池检测技术领域，公开了一种用于双层涂布极片的削薄区域检测方法及装置，通过结合预设的宽度参数在双层涂布极片上分别确定出每层所对应的区域，并根据相应区域的厚度参数计算出该双层涂布极片上削薄区域的面密度参数，以实现对削薄区域的参数检测和判定；其次，还可利用该削薄区域的面密度参数、预设的极片物质参数以及第二极片的厚度参数，计算出极片之间的容量比参数，以通过获取到的厚度参数有效转化为极片之间的容量比关系，更有助于技术人员便捷有效的控制极片之间的容量比，进而保障了双层涂布极片质量以及电芯质量。
【技术实现步骤摘要】
本申请属于电池测试，特别的涉及一种用于双层涂布极片的削薄区域检测方法及装置。
技术介绍
1、当前锂电池极片的主流制备工艺是通过涂布机将正极或负极浆料，涂覆在集流体上，并经过干燥等工序获得。但由于正极或负极浆料与集流体之间存在表面张力，若不对涂布极片边缘进行控制，干燥后极片的边缘厚度将高于极片中间位置，会造成辊压工序出现波浪边，严重的还会导致断带和卷绕时由于极片各部分受力不均造成 “卷芯掉片”等异常问题。
2、目前采取的主流解决方案是通过调节出料腔的出料参数，实现对极片边缘的削薄处理，使得极片边缘的厚度略低于极片中间的厚度，以改善辊压后极片边缘鼓边、波浪边等现象，且还可由技术人员对极片边缘的削薄区域进行检测处理。然而对于双层涂布极片，目前的解决方式无法有效检测双层的削薄区域，进而无法保障双层涂布极片质量以及后续的电芯质量。
技术实现思路
1、本申请为解决上述提到的目前的解决方式无法有效检测双层的削薄区域，进而无法保障双层涂布极片质量以及后续的电芯质量等技术缺陷，提出一种用于双层涂布极片的削薄区域检测方法及装置，其技术方案如下：
2、第一方面，本申请实施例提供了一种用于双层涂布极片的削薄区域检测方法，包括：
3、基于预设的宽度参数，在第一极片上确定出第一涂布层所对应的第一区域，以及第二涂布层所对应的第二区域；其中，第一极片包括第一集流体层、第一涂布层以及第二涂布层，第一涂布层与第一集流体层之间的距离，小于第二涂布层与第一集流体层之间的距离；
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p>4、根据第一区域的厚度参数以及第二区域的厚度参数，计算出目标削薄区域的面密度参数，并基于目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断目标削薄区域是否异常；5、当确定出目标削薄区域不存在异常时，根据目标削薄区域的面密度参数、预设的极片物质参数以及第二极片的厚度参数，计算出第一极片与第二极片之间的容量比参数；其中，第一极片与第二极片的极性相反。
6、在第一方面的一种可选方案中，第一区域包括第一中心区域以及第一削薄区域，第二区域包括第二中心区域以及第二削薄区域；
7、在根据第一区域的厚度参数以及第二区域的厚度参数，计算出目标削薄区域的面密度参数之前，还包括：
8、获取第一中心区域的厚度参数以及第一削薄区域的厚度参数，并将第一中心区域的厚度参数以及第一削薄区域的厚度参数作为第一区域的厚度参数；
9、获取第一极片的厚度参数，并将第一极片的厚度参数与第一中心区域的厚度参数之间的差值，作为第二中心区域的厚度参数；
10、获取第二削薄区域的厚度参数，并将第二中心区域的厚度参数以及第二削薄区域的厚度参数作为第二区域的厚度参数。
11、在第一方面的又一种可选方案中，根据第一区域的厚度参数以及第二区域的厚度参数，计算出目标削薄区域的面密度参数，包括：
12、确定出第一中心区域的面密度参数，并根据第一中心区域的面密度参数以及第一中心区域的厚度参数，计算出第一中心区域的面厚比参数；
13、确定出第一极片的面密度参数，并根据第一极片的面密度参数与第一中心区域的面密度参数之间的差值，得到第二中心区域的面密度参数；
14、根据第二中心区域的面密度参数以及第二中心区域的厚度参数，计算出第二中心区域的面厚比参数，并基于第一中心区域的面厚比参数以及第二中心区域的面厚比参数，得到目标削薄区域的面密度参数。
15、在第一方面的又一种可选方案中，基于第一中心区域的面厚比参数以及第二中心区域的面厚比参数，得到目标削薄区域的面密度参数，包括：
16、根据第一中心区域的面厚比参数以及第一削薄区域的厚度参数，计算出第一削薄区域的面密度参数；
17、根据第二中心区域的面厚比参数以及第二削薄区域的厚度参数，计算出第二削薄区域的面密度参数，并将第一削薄区域的面密度参数与第二削薄区域的面密度参数之间的求和结果，作为目标削薄区域的面密度参数。
18、在第一方面的又一种可选方案中，基于目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断目标削薄区域是否异常，包括：
19、对目标削薄区域的面密度参数以及第一削薄区域的面密度参数进行比值计算，得到第一比值；
20、当第一比值等于预设的比值参数时，确定目标削薄区域不存在异常；或
21、当第一比值不等于预设的比值参数时，根据第一比值确定出第一涂布层以及第二涂布层所对应的目标出料参数，并将第一涂布层以及第二涂布层所对应的初始出料参数替换为目标出料参数。
22、在第一方面的又一种可选方案中，在基于目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断目标削薄区域是否异常之前，还包括：
23、对第一中心区域的面密度参数以及第二中心区域的面密度参数进行比值计算，得到第二比值；
24、当检测到第二比值与预设的比值参数不一致时，将预设的比值参数替换为第二比值。
25、在第一方面的又一种可选方案中，第二极片包括第二集流体层以及第三涂布层，第三涂布层对应有第三中心区域以及第三削薄区域，第二极片的厚度参数包括第三中心区域的厚度参数以及第三削薄区域的厚度参数；
26、根据目标削薄区域的面密度参数、预设的极片物质参数以及第二极片的厚度参数，计算出第一极片与第二极片之间的容量比参数，包括：
27、确定出第三中心区域的面密度参数，并根据第三中心区域的面密度参数、第三中心区域的厚度参数以及第三削薄区域的厚度参数，计算出第二极片的面密度参数；
28、根据目标削薄区域的面密度参数、预设的极片物质参数以及第二极片的面密度参数，计算出第一极片与第二极片之间的容量比参数。
29、第二方面，本申请实施例提供了一种用于双层涂布极片的削薄区域检测装置，包括：
30、区域确定模块，用于基于预设的宽度参数，在第一极片上确定出第一涂布层所对应的第一区域，以及第二涂布层所对应的第二区域；其中，第一极片包括第一集流体层、第一涂布层以及第二涂布层，第一涂布层与第一集流体层之间的距离，小于第二涂布层与第一集流体层之间的距离；
31、第一计算模块，用于根据第一区域的厚度参数以及第二区域的厚度参数，计算出目标削薄区域的面密度参数，并基于目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断目标削薄区域是否异常；
32、第二计算模块，用于当确定出目标削薄区域不存在异常时，根据目标削薄区域的面密度参数、预设的极片物质参数以及第二极片的厚度参数，计算出第一极片与第二极片之间的容量比参数；其中，第一极片与第二极片的极性相反。
33、第三方面，本申请实施例还提供了一种用于双层涂布极片的削薄区域检测装置，包括处理器以及存储器；
34、处理器与存储器连接；
35、存储器，用于存储可执行程序代码；
36、处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种用于双层涂布极片的削薄区域检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一区域包括第一中心区域以及第一削薄区域，所述第二区域包括第二中心区域以及第二削薄区域；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一区域的厚度参数以及所述第二区域的厚度参数，计算出目标削薄区域的面密度参数，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一中心区域的面厚比参数以及所述第二中心区域的面厚比参数，得到目标削薄区域的面密度参数，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断所述目标削薄区域是否异常，包括：
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述基于所述目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断所述目标削薄区域是否异常之前，还包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二极片包括第二集流体层以及第三涂布层，所述第三涂布层对应有第三中心区域以及第三削薄区域，所述第二极片的厚度参数包括所述第三中心区域的厚度参数以及所述第三削薄区域的厚度参数；
8.一种用于双层涂布极片的削薄区域检测装置，其特征在于，包括：
9.一种用于双层涂布极片的削薄区域检测装置，其特征在于，包括处理器以及存储器；
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在计算机或处理器上运行时，使得所述计算机或处理器执行如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。
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【技术特征摘要】
1.一种用于双层涂布极片的削薄区域检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一区域包括第一中心区域以及第一削薄区域，所述第二区域包括第二中心区域以及第二削薄区域；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一区域的厚度参数以及所述第二区域的厚度参数，计算出目标削薄区域的面密度参数，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一中心区域的面厚比参数以及所述第二中心区域的面厚比参数，得到目标削薄区域的面密度参数，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标削薄区域的面密度参数以及预设的比值参数，判断所述目标削薄区域是否异常，包括：
6.根据权利要求3所述的方法，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈盛锐，
申请(专利权)人：孝感楚能新能源创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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